激光雷达及其光罩脏污检测方法、装置、存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种激光雷达及其光罩脏污检测方法、装置、存储介质，光罩脏污检测方法包括：分别接收在不同水平视场角下的回波；对于每一水平视场角下的回波，计算所述回波中的环境噪声；根据所述环境噪声在各个水平视场角下的强度以及所述环境噪声的强度变化率确定光罩是否存在脏污。本发明专利技术技术方案能够在无需增加额外的光源和光接收装置的情况下实现光罩脏污的检测，降低激光雷达结构复杂度以及光罩脏污检测复杂性，并且还能够增大脏污检测范围，保证脏污检测的全面性。保证脏污检测的全面性。保证脏污检测的全面性。

【技术实现步骤摘要】
激光雷达及其光罩脏污检测方法、装置、存储介质


[0001]本专利技术涉及激光雷达
，尤其涉及一种激光雷达及其光罩脏污检测方法、装置、存储介质。

技术介绍

[0002]激光雷达是自动驾驶重要的传感器，常见的激光雷达包括激光发射装置、激光接收装置和光罩(也可以称为通光罩)等部件。光罩是激光发射和接收路径上不可缺少的部分，具有保护激光雷达的内部光学和电路组件，隔离杂散光等作用。激光雷达作为非接触式测量设备，光罩的洁净度直接影响激光雷达的量程和测量精度，如何检测激光雷达光罩表面是否有污染是激光雷达使用和维护中不可缺少的部分。
[0003]现有技术中，为了检测光罩脏污，需要在激光雷达中设置额外的光罩脏污检测系统。光罩脏污检测系统可以发射多脉冲，并通过光罩对多脉冲的回波判断是否存在光罩脏污。
[0004]但是，现有技术中利用光罩回波的检测方式依赖雷达自身发出的激光，脏污检测覆盖面积小。

技术实现思路

[0005]本专利技术提供一种激光雷达及其光罩脏污检测方法、装置、存储介质，无需依赖雷达自身发出的激光，，并且还能够增大本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于激光雷达的光罩脏污检测方法，其特征在于，包括：分别接收在不同水平视场角下的回波；对于每一水平视场角下的回波，计算所述回波中的环境噪声；根据所述环境噪声在各个水平视场角下的强度以及所述环境噪声的强度变化率确定光罩是否存在脏污。2.根据权利要求1所述的光罩脏污检测方法，其特征在于，所述接收在不同水平视场角下的回波包括：分别接收激光雷达在不同水平视场角所发射波束的回波，所述回波包括所述环境噪声以及所述激光雷达所发射波束的反射波束；或者，在所述激光雷达未发射波束时，分别接收在不同水平视场角下的回波，所述回波包括环境噪声。3.根据权利要求1所述的光罩脏污检测方法，其特征在于，所述根据所述环境噪声在各个水平视场角下的强度以及变化率确定光罩的脏污状况包括：如果存在至少一个水平视场角下的环境噪声的强度低于第一预设值，且环境噪声的变化率大于第二预设值，则确定所述光罩存在脏污。4.根据权利要求1所述的光罩脏污检测方法，其特征在于，所述根据所述环境噪声在各个水平视场角下的强度以及变化率确定光罩是否存在脏污包括：根据所述环境噪声在各个水平视场角下的强度，确定环境噪声曲线；根据所述环境噪声曲线的幅度大小以及变化率判断所述光罩是否存在脏污。5.根据权利要求4所述的光罩脏污检测方法，其特征在于，所述根据所述环境噪声曲线的幅度大小以及变化率判断所述光罩是否存在脏污包括：如果所述环境噪声曲线在至少一个水平视场角下的幅度低于第一预设值，且所述环境噪声曲线在所述至少一个水平视场角下的变化率大于第二预设值，则确定所述光罩存在脏污。6.根据权利要求5所述的光罩脏污检测方法，其特征在于，所述环境噪声曲线在至少一个水平视场角下的幅度低于第一预设值，且所述环境噪声曲线在所述至少一个水平视场角下的变化率大于第二预设值包括：所述环境噪声曲线在所述至少一个水平视场角下存在下降沿和上升沿，所述下降沿和上升沿处的环境噪声变化率均大于第二预设值，且所述下降沿与所述上升沿之间的水平视场角下所述环境噪声曲线的幅度低于第一预设值，则确定所述光罩存在脏污。7.根据权利要求6所述的光罩脏污检测方法，其特征在于，所述如果至少存在至少一个水平视场角下的环境噪声的强度低于第一预设值，且环境噪声的变化率大于第二预设值，则确定所述光罩存在脏污还包括：所述环境强度低于所述第一预设值的环境噪声所持续的水平视场角的角度范围小于第四预设值，则确定所述光罩存在脏污。8.根据权利要求5至7任一项所述的光罩脏污检测方法，其特征在于，所述如果存在至少一个水平视场角下的环境噪声的强度低于第一预设值，且环境噪声的变化率大于...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵鑫，王磊，向少卿，
申请(专利权)人：上海禾赛科技有限公司，
类型：发明
国别省市：