【技术实现步骤摘要】
光检测装置
[0001]本申请是申请日为2018年10月9日、专利技术名称为“摄像装置和电子设备”的申请号为201880067515.X专利申请的分案申请。
[0002]本技术涉及摄像装置和电子设备,并且涉及能够自适应地改变噪声水平并能够拍摄具有改善的图像质量的图像的摄像装置和电子设备。
技术介绍
[0003]常规地,在具有摄像功能的电子设备(例如,数码相机或数码摄像机等)中,使用诸如电荷耦合器件(CCD:charge coupled device)或互补金属氧化物半导体(CMOS:complementary metal oxide semiconductor)图像传感器等的图像传感器。
[0004]图像传感器具有如下像素:其中,用于进行光电转换的光电二极管(PD)和多个晶体管被组合在一起,并且基于从布置在平面中的多个像素输出的像素信号来形成图像。此外,例如通过针对每个像素列布置的多个模数(AD)转换器对从像素输出的像素信号并行地进行AD转换,并输出。
[0005]专利文献1提出了一种减少功耗和随机噪
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光检测装置,包括:第一基板,其包括:多个像素,所述多个像素连接至浮动扩散层;以及差分输入电路的第一部分,所述第一部分由所述多个像素共享;以及第二基板,其层叠在所述第一基板上,其中,所述第二基板包括:所述差分输入电路的第二部分,所述第二部分连接至所述差分输入电路的所述第一部分;反馈电路,其连接至所述差分输入电路的所述第二部分;以及数据存储单元,其连接至所述反馈电路;以及配线,其中,通过提供给所述配线的电压来升高所述浮动扩散层的电压。2.根据权利要求1所述的光检测装置,其中,所述差分输入电路的所述第一部分包括第一输入和第二输入,所述第一输入连接至所述多个像素,且所述第二输入连接至用于控制参考信号的电压的数模转换器。3.根据权利要求2所述的光检测装置,其中,所述参考信号是斜率信号,且所述参考信号的所述电压随时间单调减小。4.根据权利要求3所述的光检测装置,其还包括:比较电路,其包括所述差分输入电路和所述反馈电路,其中,所述比较电路被构造为:将在所述第一输入处接收的第一信号与在所述第二输入处接收的所述参考信号进行比较;且将所述第一信号与所述参考信号的所述电压的比较结果输出为输出信号。5.根据权利要求4所述的光检测装置,其中,所述反馈电路被构造为增加所述输出信号的转变速度。6.根据权利要求5所述的光检测装置,其中所述数据存储单元包括锁存存储单元,并且所述锁存存储单元被构造为根据所述输出信号存储时间码。7.根据权利要求6所述的光检测装置,其还包括:时间码传输单元,其被构造为提供所述时间码,其中,所述时间码传输单元在所述多个像素的列方向上延伸。8.根据权利要求7所述的光检测装置,其中,所述时间码是格雷码。9.根据权利要求8所述的光检测装置,其中,所述第一基板和所述第二基板通过金属接合而被电连接。10.根据权利要求9所述的光检测装置,其中,所述差分输入电路的所述第一部分和所述差分输入电路的所述第二部分通过所述金属接合而被电连接。11.一种光检测装置,其包括:第一基板,其包括:多个像素;以及差分输入电路的第一部分,所述第一部分由所述多个像素共享;以及第二基板,其层叠在所述第一基板上,其中,所述第二基板包括:
所述差分输入电路的第二部分,所述第二部分连接至所述差分输入电路的所述第一部分;反馈电路,其连接至所述差分输入电路的所述第二部分;以及数据存储单元,其连接至所述反馈电路,其中,所述差分输入电路的所述第一部分和所述差分输入电路的所述第二部分通过金属接合而被电连接。12.根据权利要求11所述的光检测装置,其中,所述差分输入电路的所述第一部分包括第一输入和第二输入,所述第一输入连接至所述多个像素,且所述第二输入连接至用于控制参考信号的电压的数模转换器。13.根据权利要求12所述的光检测装置,其中,所述参考信号是斜率信号,且所述参考信号的所述电压随时间单调减小。14.根据权利要求13所述的光检测装置,其还包括:比较电路,其包括所述差分输入电路和所述反馈电路,其中,所述比较电路被构造为:将在所述第一输入处接收的第一...
【专利技术属性】
技术研发人员:榊原雅树,
申请(专利权)人:索尼半导体解决方案公司,
类型:发明
国别省市:
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