板卡老化测试的方法、系统、设备及存储介质技术方案

本申请实施例提供了一种板卡老化测试的方法、系统、设备及存储介质，属于存储器技术领域。该板卡老化测试应用于上位机，包括：为每一个处于连通的网口创建第一线程；创建与温箱交互的第二线程；当接收的配置请求指令为测试配置请求指令，在板卡测试配置标签页获取第一配置参数；当接收的配置请求指令为温箱配置请求指令，在温箱配置标签页获取第二配置参数并根据第二配置参数和第二线程对温箱进行远程配置；当接收的配置请求指令为测试操作请求，在测试数据显示页面响应用户的测试操作请求，以显示根据第一配置参数和第一线程对对应的待测板卡进行远程测试的测试结果。因此，本申请实施例能提升存储器产品的老化测试效率。实施例能提升存储器产品的老化测试效率。实施例能提升存储器产品的老化测试效率。

【技术实现步骤摘要】
板卡老化测试的方法、系统、设备及存储介质


[0001]本申请涉及存储器
，尤其涉及一种板卡老化测试的方法、系统、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]现存储器产品需要经过老化测试等多项测试才能作为合格的产品出厂，在进行老化测试时，通常将存储器产品设置于温箱内，并通过设置温箱的温度参数，以使存储器产品在不同温度参数下进行功能测试并记录其测试结果以及测试结果对应的温度参数。而相关技术中，往往通过手动设置温度参数以及手动记录测试结果以及测试结果对应的温度参数的方式来完成老化测试，而实际测试过程中，存储器产品较多，导致手动记录的效率十分低下，虽然相关技术中，可以采用上位机进行控制，但是上位机的功能往往比较单一，无法兼顾整个老化测试过程中各环节的智能控制，因此，老化测试效率仍然不高，因此，如何提升存储器产品的老化测试的效率是亟需解决的问题。

技术实现思路

[0003]本申请实施例的主要目的在于提出一种板卡老化测试的方法、系统、设备及存储介质，提升存储器产品的老化测试效率。
[0004]为实现上述目的，本申请实施例的第一方面本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种板卡老化测试的方法，其特征在于，应用于上位机，所述方法包括：检测连接待测板卡的网口的连接状态，为每一个连接状态表示连通的网口创建第一线程，以使同一所述网口下的所述待测板卡通过对应的所述第一线程与所述上位机交互；创建与温箱交互的第二线程；其中，所述温箱中设置有至少一块所述待测板卡；显示操作界面，所述操作界面设置有板卡测试配置标签页、温箱配置标签页以及测试数据显示页面；接收来自用户的配置请求指令；当所述配置请求指令为测试配置请求指令，在所述板卡测试配置标签页获取第一配置参数；当所述配置请求指令为温箱配置请求指令，在所述温箱配置标签页获取第二配置参数并根据所述第二配置参数和所述第二线程对所述温箱进行远程配置；当所述配置请求指令为测试操作请求，在所述测试数据显示页面响应用户的测试操作请求，以显示根据所述第一配置参数和所述第一线程对对应的待测板卡进行远程测试的测试结果。2.根据权利要求1所述的板卡老化测试的方法，其特征在于，所述在所述板卡测试配置标签页获取第一配置参数，包括：获取在所述板卡测试配置标签页导入的第一测试文件，得到测试文件列表；显示所述测试文件列表中选中的第二测试文件的测试项名称以及测试类型；根据所述测试类型和所述测试项名称，显示测试项输入框；根据所述测试项输入框内输入的测试参数，更新所述第二测试文件，以更新所述测试文件列表；根据更新的测试文件列表，得到所述第一配置参数。3.根据权利要求1所述的板卡老化测试的方法，其特征在于，所述在所述温箱配置标签页获取第二配置参数，包括：获取从温度参数选择下拉列表中选中的温度设置项以及在所述温度设置项一侧设置的文本框中填入的第一温度参数值，得到温度设置参数；当位于所述温度设置参数一侧的设置按钮被选中，将所述第一温度参数值和所述温度设置项作为第二配置参数；相应的，所述根据所述第二配置参数和所述第二线程对所述温箱进行远程配置，包括：通过所述第二线程向所述温箱下发所述第二配置参数；获取所述温箱配置标签页中参数查询列表中选中的温度查询项以及所述温度查询项对应的查询按钮的选中状态；当所述查询按钮被选中，通过所述第二线程向所述温箱查询所述温度查询项对应的第二温度参数值；根据所述温度查询项，将所述第二温度参数值在所述温度查询项的一侧的文本框中显示。4.根据权利要求1所述的板卡老化测试的方法，其特征在于，所述网口设置有多个，对应的，所述第一线程设置有多个，所述操作界面还设置有烧录配置标签页，在创建第一线程后，所述方法还包括：
当从所述烧录配置标签页的功能选择列表中选择了“老化板查询”，在所述烧录配置标签页显示状态查询...

【专利技术属性】
技术研发人员：谭海鸿，胡秋勇，赖鼐，龚晖，
申请(专利权)人：深圳市晶存科技有限公司，
类型：发明
国别省市：