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本申请实施例提供了一种板卡老化测试的方法、系统、设备及存储介质，属于存储器技术领域。该板卡老化测试应用于上位机，包括：为每一个处于连通的网口创建第一线程；创建与温箱交互的第二线程；当接收的配置请求指令为测试配置请求指令，在板卡测试配置标签页...
该专利属于深圳市晶存科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市晶存科技有限公司授权不得商用。

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