用于监测制造的系统,计算机可读存储介质和方法技术方案

技术编号:37994422 阅读:23 留言:0更新日期:2023-06-30 10:08
本发明专利技术提供了一种用于监测制造的系统,所述系统包括一个或多个传感器和与所述一个或多个传感器通信的控制器。所述控制器可包括一个或多个处理器,所述一个或多个处理器确定由从一个或多个机器数据传感器收集的机器数据表示的质量度量,并且识别所述机器数据和从一个或多个环境数据传感器收集的环境数据之间的相关性值。所述控制器可还包括确定所述相关性值是否超过预先确定的阈值,并且如果所述相关性值超过所述预先确定的阈值,则报告所述相关性值和所述质量度量中的至少一者。关性值和所述质量度量中的至少一者。关性值和所述质量度量中的至少一者。

【技术实现步骤摘要】
用于监测制造的系统,计算机可读存储介质和方法
[0001]本申请是申请号为2016800777099、申请日为2016年12月08日、专利技术名称为“用于监测制造的系统和方法”的专利技术专利的分案申请。
[0002]相关专利申请的交叉引用
[0003]本申请要求于2015年12月8日提交的标题为“System and Method for Monitoring Manufacturing”的美国临时申请62/264,718的优先权,该申请全文以引用方式并入本文以用于所有目的。

技术介绍

[0004]现代制造工厂生成从遍布于制造工厂的各种类型的传感器收集到复杂的异构工厂数据的稳定流。这些数据对于改进运营和产品质量以及解决制造问题(例如由于机器停机、供应链中断、不利的环境条件等造成的效率低下和性能不佳等)可能是关键的。然而,使用这些数据的传统方法是有限且麻烦的。例如,从制造商意识到问题到最终实施解决方案之间可能存在显著的滞后时间。又如,在将最终完成的产品中检测到的问题追溯到许多机器和过程中的特定根本原因方面存在困难。这些困难是由于提取可能隐藏在不同数本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于监测制造的系统,包括:一个或多个传感器;和控制器,所述控制器与所述一个或多个传感器操作地通信,其中所述控制器包括一个或多个处理器和存储器,所述存储器与所述一个或多个处理器通信地耦接并且能够由所述一个或多个处理器读取,并且其中存储有处理器可读指令,当所述处理器可读指令由所述一个或多个处理器执行时,使所述一个或多个处理器:在一段时间或多个机器部件中的至少一者上确定包括从所述一个或多个传感器收集的表示机器数据的多个点的趋势线,其中从所述一个或多个传感器收集的所述机器数据与制造过程相关联;确定所述机器数据的平均值;确定所述趋势线上的所述多个点中的一个或多个点与所述平均值是否相交超过预定次数;如果所述一个或多个点与所述平均值相交超过所述预定次数,则发起所述一个或多个点在所述平均值之上或之下波动的警报消息;以及基于从所述一个或多个传感器收集的所述机器数据重新配置所述制造过程。2.根据权利要求1所述的系统,其中所述一个或多个传感器包括至少一个机器数据传感器和一个环境数据传感器。3.根据权利要求1所述的系统,还包括与所述控制器和一个或多个远程终端操作地通信的服务器。4.根据权利要求3所述的系统,其中所述服务器包括具有一个或多个数据库的基于云的数据服务器,并且其中所述一个或多个数据库存储从所述一个或多个传感器收集的所述机器数据和环境数据。5.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储一个或多个程序,所述一个或多个程序包括指令,所述指令在由电子设备的一个或多个处理器执行时指示所述电子设备:在一段时间或多个机器部件中的至少一者上确定包括从一个或多个传感器收集的表示机器数据的多个点的趋势线,其中从所述一个或多个传感器收集的所述机器数据与制造过程相关联;确定所述机器数据的平均值;确定所述趋势线上的所述多个点中的一个或多个点与所述平均值是否相交超过预定次数;如果所述一个或多个点与所述平均值相交超过所述预定次数,则发起所述一个或多个点在所述平均值之上或之下波动的警报消息;以及基于从所述一个或多个传感器收集的所述机器数据重新配置所述制造过程。6.根据权利要求5所述的计算机可读存储介质,所述一个或多个程序还包括指令,所述指令在由所述电子设备的一个或多个处理器执行时指示所述电子设备:确定由所述机器数据表示的质量度量指示低于标准的质量;以及基于所述确定报告所述质量度量。7.根据权利要求6所述的计算机可读存储介质,所述一个或多个程序还包括指令,所述
指令在由所述电子设备的一个或多个处理器执行时指示所述电子设备:将所述机器数据与平均值、较低控制水平值、和较高控制水平值中的至少一者进行比较;以及基于所述比较来确定所述质量度量指示所述低于标准的质量。8.根据权利要求7所述的计算机可读存储介质,其中:所述平均值、所述较低控制水平值、和所述较高控制水平值限定所制造部件的公差范围;以及所述低于标准的质量表示所述机器数据超出所述容差范围。9.根据权利要求6所述的计算机可读存储介质,所述一个或多个程序还包括指令,所述指令在由所述电子设备的一个或多个处理器执行时指示所述电子设备:基于所述确定所述质量度量指示低于所述标准的质量,接收针对根本原因分析的用户请求;以及响应于所述用户请求来识别并报告所述机器数据和从一个或多个环境数据传感器收集的环境数据之间的相关性值。10.根据权利要求5所述的计算机可读存储介质,所述一个或多个程序还包括指令,所述指令在由所述电子设备的一个或多个处理器执行时指示所述电子设备:接收所述机器数据和从一个或多个环境数据传感器收集的环境数据之间的所述相关性值和由所述机器数据表示的质量度量中的至少一者的用户请求;以及响应于所述用户请求报告所述相关性值和所述质量度量中的至少一者。11.根据权利要求5所述的计算机可读存储介质,所述一个或多个程序还包括指令,所述指令在由所述电子设备的一个或多个处理器执行时指示所述电子设备...

【专利技术属性】
技术研发人员:N
申请(专利权)人:赛特玛逊有限公司
类型:发明
国别省市:

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