【技术实现步骤摘要】
atoms/cm3~1E+19 atoms/cm3。
[0009]进一步的,上述高光效发光二极管外延片,其中,所述有源层包括周期性交替沉积的量子阱层和量子垒层,周期数1~20个。
[0010]本专利技术还公开了一种高光效发光二极管外延片的制备方法,包括步骤:提供一衬底;在所述衬底上沉积缓冲层,在缓冲层上沉积非掺杂AlGaN层;在非掺杂AlGaN层上沉积N型AlGaN层;在N型AlGaN层上沉积有源层;在有源层上沉积电子阻挡层;在电子阻挡层上沉积P型AlGaN层;在P型AlGaN层上沉积P型接触层;其中,所述有源层包括量子阱层和量子垒层组成的超晶格结构,所述量子阱层包括依次沉积的第一量子阱子层、第二量子阱子层、第三量子阱子层和第四量子阱子层,所述第一量子阱子层为N型Al
a
In
b
N层,所述第二量子阱子层为Al
m
In
n
Ga1‑
m
‑
n
N层,所述第三量子阱子层为P型Al
x
In
y
N层,所述第四量子阱子层为
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种高光效发光二极管外延片,其特征在于,包括:衬底,在所述衬底上依次沉积的缓冲层、非掺杂AlGaN层、N型AlGaN层、有源层、电子阻挡层、P型AlGaN层和P型接触层,所述有源层包括量子阱层和量子垒层组成的超晶格结构,所述量子阱层包括依次沉积的第一量子阱子层、第二量子阱子层、第三量子阱子层和第四量子阱子层,所述第一量子阱子层为N型Al
a
In
b
N层,所述第二量子阱子层为Al
m
In
n
Ga1‑
m
‑
n
N层,所述第三量子阱子层为P型Al
x
In
y
N层,所述第四量子阱子层为Al
z
Ga1‑
z
N层。2.如权利要求1所述的高光效发光二极管外延片,其特征在于,所述第一量子阱子层中Al组分为0.01~0.9,In组分为0.01~0.1,且沿外延层沉积方向Al组分逐渐降低,In组分逐渐升高;所述第二量子阱子层中Al组分为0.01~0.2,In组分为0.01~0.1;所述第三量子阱子层中Al组分为0.01~0.9,In组分为0.01~0.1,且沿外延层沉积方向Al组分逐渐升高,In组分逐渐降低;所述第四量子阱子层中Al组分为0.01~1。3.如权利要求1所述的高光效发光二极管外延片,其特征在于,所述量子阱层的厚度为1 nm ~10 nm,所述第一量子阱子层/所述第二量子阱子层/所述第三量子阱子层/所述第四量子阱子层的厚度比为1:1:1:1~1:10:1:1。4.如权利要求1所述的高光效发光二极管外延片,其特征在于,所述第一量子阱子层Si掺杂浓度为1E+16 atoms/cm3~1E+18 atoms/cm3,所述第三量子阱子层Mg掺杂浓度为1E+17 atoms/cm3~1E+19 atoms/cm3。5.如权利要求1所述的高光效发光二极管外延片,其特征在于,所述有源层包括周期性交替沉积的量子阱层和量子垒层,周期数1~20个。6.一种如权利要求1至5任意一项所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员:程龙,郑文杰,高虹,刘春杨,胡加辉,金从龙,
申请(专利权)人:江西兆驰半导体有限公司,
类型:发明
国别省市:
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