13族元素氮化物结晶层的培养方法、氮化物半导体铸锭以及溅射靶技术

技术编号:37983670 阅读:25 留言:0更新日期:2023-06-30 09:58
通过使13族元素氮化物结晶层以高培养速度生长,得到厚度较大的结晶层。在至少包含晶种层的基底基板上来培养13族元素氮化物结晶层。将基底基板浸渍于包含助熔剂的熔液中,通过助熔剂法,在晶种层的氮极性面上二维地培养13族元素氮化物结晶层。13族元素氮化物结晶层。13族元素氮化物结晶层。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】13族元素氮化物结晶层的培养方法、氮化物半导体铸锭以及溅射靶


[0001]本专利技术涉及13族元素氮化物结晶层的培养方法、氮化物半导体铸锭以及溅射靶。

技术介绍

[0002]氮化物半导体具有直接跃迁型的宽带隙,且具有高绝缘击穿电场、高饱和电子速度,因此,作为LED、LD等发光器件、高频/高功率的电子器件用半导体材料而备受关注。
[0003]已知有:通过所谓的助熔剂法,使氮化镓结晶在坩埚内壁面上沿着

c轴方向生长(专利文献1:日本特开2005

206415)。该方法中,为了促进氮化镓结晶在坩埚内壁面上的N面生长,在熔液中添加了Mn、Fe、Cr、Co、Ni等元素,不过,在实施例中,仅得到长度1.5mm左右的柱状结晶的生长。
[0004]另一方面,提出了使氮化镓结晶厚膜生长来制作铸锭。
[0005]例如,专利文献2(日本特开2010

280562)中公开了如下方法,即,通过助熔剂法和气相法的组合,使氮化镓结晶生长得较厚,并加工成表面粗糙度Ra为5nm以下且翘曲的曲率半本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种13族元素氮化物结晶层的培养方法,其中,在包含由13族元素氮化物形成的晶种层的基底基板上培养13族元素氮化物结晶层,所述培养方法的特征在于,将所述基底基板浸渍于包含助熔剂的熔液中,通过助熔剂法,在所述晶种层的氮极性面上二维地培养13族元素氮化物结晶层。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,使所述13族元素氮化物结晶层生长至厚度5mm以上。3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,包括:在基体上形成所述晶种层的工序、将所述晶种层的13族元素极性面接合于支撑基板的工序、以及使所述基体自所述晶种层剥离而得到所述基底基板的工序。4.根据权利要求1~3中的任一项所述的方法,其特征在于,通过将所述13族元素氮化物结晶层自所述基底基板分离开而得到由所述13族元素氮化物结晶层形成的氮化物半导体铸锭。5.一种氮化物半导体铸锭,其特征在于,所述氮化物半导体铸锭是通过权利要求4所...

【专利技术属性】
技术研发人员:仓冈义孝野中健太朗
申请(专利权)人:日本碍子株式会社
类型:发明
国别省市:

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