【技术实现步骤摘要】
扫描触发器及扫描链
[0001]本专利技术涉及触发器
,具体涉及一种扫描触发器及扫描链。
技术介绍
[0002]测试是保证芯片质量最重要的重要手段,是芯片设计与制造中的不可或缺的一环。在测试阶段来测试芯片是否存在功能漏洞、设计缺陷和制造故障(固定故障、桥接故障和延迟故障等),从而保证芯片的性能与良率。
[0003]为了提高芯片的测试效率,常使用扫描链对芯片进行设置。扫描链具有低面积开销和很好的可测性与可控性等优点。扫描链由多个串行连接的扫描触发器组成,通过改变扫描控制信号的逻辑值,来控制扫描链中各个扫描触发器的工作模式。扫描触发器的工作模式包括正常模式及测量模式两种。
[0004]然而,现有扫描触发器在正常模式下的建立时间较长,影响扫描触发器在正常模式下的数据传输效率。
技术实现思路
[0005]本专利技术要解决的问题是:如何缩短扫描触发器在正常模式下的建立时间?
[0006]为解决上述问题,本专利技术实施例提供了一种扫描触发器,所述扫描触发器包括:正常数据建立电路及第二传输门; ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种扫描触发器,其特征在于,包括:正常数据建立电路及第二传输门;其中,所述正常数据建立电路适于接收正常数据信号,并在时钟信号的触发沿到来以前,使得输入的数据信号稳定不变的时间满足所述扫描触发器的建立时间;其中:所述正常数据建立电路包括:第一反相器、第一传输门、第二反相器及第三反相器;所述第一反相器的输入端与正常数据输入端连接,输出端与所述第一传输门的输入端连接;所述第一传输门的输出端与所述第二反相器的输入端连接;所述第二反相器的输出端与所述第三反相器的输入端连接;所述第三反相器的输出端与所述第二传输门的输入端连接;所述第二传输门的输出端与所述第二反相器的输入端连接;所述第二传输门适于在所述时钟信号的触发沿到来以后开通;所述第一传输门的第一控制端适于接入第一传输门控制信号;所述第一传输门的第二控制端适于接入第一传输门控制信号的逻辑反信号;所述第一传输门,适于当所述时钟信号的触发沿为上升沿时,在所述时钟信号及扫描使能信号均为低电平时开通,而在所述时钟信号及扫描使能信号中至少一个为高电平时关断;以及当所述时钟信号的触发沿为下降沿时,在所述时钟信号为高电平、扫描使能信号为低电平时开通,否则关断。2.如权利要求1所述的扫描触发器,其特征在于,所述时钟信号的触发沿为所述时钟信号的上升沿;所述扫描触发器还包括:第四反相器;所述第四反相器的输入端与时钟信号输入端连接;所述第二传输门的第一控制端与时钟信号输入端连接,第二控制端与所述第四反相器的输出端连接。3.如权利要求1所述的扫描触发器,其特征在于,所述时钟信号的触发沿为所述时钟信号的下降沿;所述扫描触发器还包括:第四反相器;所述第四反相器的输入端与时钟信号输入端连接;所述第二传输门的第一控制端与所述第四反相器的输出端连接,第二控制端与所述时钟信号输入端连接。4.如权利要求2或3所述的扫描触发器,其特征在于,还包括:第一传输门控制信号产生电路,适于产生所述第一传输门控制信号及所述第一传输门控制信号的逻辑反信号。5.如权利要求4所述扫描触发器,其特征在于,所述第一传输门控制信号产生电路,与所述时钟信号输入端及扫描使能信号输入端,适于对时钟信号及扫描使能信号进行逻辑运算,产生所述第一传输门控制信号。6.如权利要求5所述的扫描触发器,其特征在于,所述时钟信号的触发沿为上升沿时,所述第一传输门控制信号,在所述时钟信号及扫描使能信号均为低电平时,为高电平信号,否则为低电平信号;所述时钟信号的触发沿为下降沿时,所述第一传输门控制信号,在所述时钟信号为高电平、扫描使能信号为低电平时为高电平信号,否则为低电平信号。7.如权利要求4所述的扫描触发器,其特征在...
【专利技术属性】
技术研发人员:廖春和,蔡燕飞,王俊,方宗勇,
申请(专利权)人:中芯国际集成电路制造上海有限公司,
类型:发明
国别省市:
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