飞针测试装置、方法、设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种飞针测试装置、方法、设备及存储介质，飞针测试装置应用于飞针测试机，飞针测试机包括运动控制系统，飞针测试装置包括：工控机、主控模块和信号板模块，工控机输出第一测试指令至运动控制系统，以使运动控制系统移动至预设位置，并接收运动控制系统反馈的就位信号，根据就位信号输出第二测试指令，主控模块和工控机使用千兆网线连接，主控模块根据第二测试指令输出元件检测信号，信号板模块与主控模块通过柔性的多芯双绞屏蔽线连接，信号板模块根据元件检测信号反馈飞针检测信号至主控模块，以使主控模块根据飞针检测信号计算得到目标元件参数。本发明专利技术能够提高线缆传输信号的抗干扰能力，进而降低线缆传输信号的损耗。号的损耗。号的损耗。

【技术实现步骤摘要】
飞针测试装置、方法、设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及印制电路板
，尤其是涉及一种飞针测试装置、方法、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]目前，飞针测试机主要用于PCB光板测试，用于测试板卡的开路或短路，飞针测试机主要采用标准仪器或者集成标准ICT测试机，需要把测试模组放在机器的一个固定位置，然后通过较长的线连接到测试探针再输出到待测元件，因为长线缆有信号损耗，同时线缆经过强电磁干扰环境也会造成信号失真从而影响测试精度。

技术实现思路

[0003]本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术提出一种飞针测试装置，能够提高线缆传输信号的抗干扰能力，进而降低线缆传输信号的损耗。
[0004]本专利技术还提出一种飞针测试方法。
[0005]本专利技术还提出一种飞针测试设备。
[0006]本专利技术还提出一种计算机可读存储介质
[0007]第一方面，本专利技术的一个实施例提供了飞针测试装置，所述飞针测试装置应用于飞针测试机，所述飞针测试机包括运动控制系统，所述飞针测试装置包括：
[0008]工控机，用于输出第一测试指令至所述运动控制系统，以使所述运动控制系统的内置探针移动至预设位置，并接收所述运动控制系统反馈的就位信号，根据所述就位信号输出第二测试指令；
[0009]主控模块，所述主控模块和所述工控机使用千兆网线连接，用于根据所述第二测试指令输出元件检测信号；
[0010]信号板模块，所述信号板模块与所述主控模块通过柔性的多芯双绞屏蔽线连接，用于根据所述元件检测信号反馈飞针检测信号至所述主控模块，以使所述主控模块根据所述飞针检测信号计算得到目标元件参数。
[0011]本专利技术实施例的飞针测试装置至少具有如下有益效果：用户通过工控机输出第一测试指令至运动控制系统，运动控制系统接收到第一测试指令后，获取内置探针所需移动至的预设位置，运动控制系统将内置探针移动至预设位置，并通过内置的直线电机控制内置探针下压至待测元件上的测试点，然后，运动控制系统反馈就位信号至工控机，工控机接收到就位信号后，通过千兆网线输出第二测试指令至主控模块，主控模块接收到第二测试指令后，启动内置的信号源进行工作，并通过多芯双绞屏蔽线输出元件测试信号至信号板模块，信号板模块接收到元件测试信号后，对待测元件进行测试，待测元件反馈飞针检测信号至主控模块，主控模块根据飞针检测信号计算得到目标元件参数。通过工控机输出第一测试指令，使运动控制系统将内置探针移动至待测元件的待测点，工控机输出第二测试指令，使主控模块通过多芯双绞屏蔽线输出元件测试信号，进而使信号板模块对待测元件进
行测试，并反馈飞针检测信号至主控模块，主控模块根据飞针检测信号计算得到目标元件参数，能够提高线缆传输信号的抗干扰能力，进而降低线缆传输信号的损耗。
[0012]根据本专利技术的另一些实施例的飞针测试装置，所述元件检测信号包括第一检测信号，所述飞针检测信号包括第一反馈信号，所述主控模块包括：
[0013]主控处理器，所述主控处理器由ARM和FPGA组成；
[0014]数模转换器，所述数模转换器一端连接所述主控处理器，另一端连接所述信号板模块，用于设置所述第一检测信号，并将所述第一检测信号输出至所述信号板模块；
[0015]滤波器，所述滤波器与所述信号板模块连接，用于提高所述第一反馈信号的稳定性；
[0016]信号采样器，所述信号采样器一端连接所述滤波器，另一端连接所述主控处理器，用于采集所述第一反馈信号。
[0017]根据本专利技术的另一些实施例的飞针测试装置，所述飞针检测信号还包括第二反馈信号，所述主控模块还包括：
[0018]模数转换器，所述模数转换器一端连接所述主控处理器，另一端连接所述信号板模块，用于读取所述信号板模块根据所述第一检测信号反馈的所述第二反馈信号。
[0019]根据本专利技术的另一些实施例的飞针测试装置，所述元件检测信号还包括第二检测信号，所述主控模块还包括：
[0020]数字合成器，所述数字合成器与所述主控处理器连接，用于产生测试电容或电感的所述第二检测信号；
[0021]运算放大器，所述运算放大器一端连接所述数字合成器，另一端连接所述信号板模块，用于对所述第二检测信号进行放电和跟随。
[0022]第二方面，本专利技术的一个实施例提供了飞针测试方法，所述飞针测试方法应用于飞针测试机，所述飞针测试机包括运动控制系统和飞针测试装置，所述飞针测试装置包括：工控机、主控模块和信号板模块，所述飞针测试装置如第一方面所述的飞针测试装置，所述飞针测试方法包括：
[0023]控制所述工控机输出第一测试指令至所述运动控制系统，以使所述运动控制系统移动至预设位置，并接收所述运动控制系统反馈的就位信号，根据所述就位信号输出第二测试指令；
[0024]控制所述主控模块根据所述第二测试指令输出元件检测信号；
[0025]控制所述信号板模块根据所述元件检测信号反馈飞针检测信号至所述主控模块，以使所述主控模块根据所述飞针检测信号计算得到目标元件参数。
[0026]本专利技术实施例的飞针测试方法至少具有如下有益效果：控制工控机输出第一测试指令至运动控制系统，运动控制系统接收到第一测试指令后，使运动控制系统获取内置探针所需移动至的预设位置，使运动控制系统移动内置探针至预设位置，并使运动控制系统控制内置的直线电机控制内置探针下压至待测元件上的测试点，输出反馈就位信号至工控机，工控机接收到就位信号后，控制工控机通过千兆网线输出第二测试指令至主控模块，主控模块接收到第二测试指令后，控制主控模块启动内置的信号源进行工作，并使主控模块通过多芯双绞屏蔽线输出元件测试信号至信号板模块，信号板模块接收到元件测试信号后，控制信号板模块对待测元件进行测试，待测元件反馈飞针检测信号至主控模块，控制主
控模块根据飞针检测信号计算得到目标元件参数。通过工控机输出第一测试指令，使运动控制系统将内置探针移动至待测元件的待测点，工控机输出第二测试指令，使主控模块通过多芯双绞屏蔽线输出元件测试信号，进而使信号板模块对待测元件进行测试，并反馈飞针检测信号至主控模块，主控模块根据飞针检测信号计算得到目标元件参数，能够提高线缆传输信号的抗干扰能力，进而降低线缆传输信号的损耗。
[0027]根据本专利技术的另一些实施例的飞针测试方法，所述元件检测信号包括第一检测信号，所述第一检测信号包括电阻检测信号，所述飞针检测信号包括第一反馈信号，所述第一反馈信号包括电阻反馈信号，所述目标元件参数包括目标电阻参数，所述主控模块包括：主控处理器、数模转换器和信号采样器，所述控制所述信号板模块根据所述元件检测信号反馈飞针检测信号至所述主控模块，以使所述主控模块根据所述飞针检测信号计算得到目标元件参数，包括：
[0028]控制所述主控处理器根据所述第二测试指令控制所述数模转换器设置所述电阻检测信号，并将所述电阻检测信号输出至所述信号板模块；
[0029]控制所述信号板模块根据所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种飞针测试装置，其特征在于，所述飞针测试装置应用于飞针测试机，所述飞针测试机包括运动控制系统，所述飞针测试装置包括：工控机，用于输出第一测试指令至所述运动控制系统，以使所述运动控制系统的内置探针移动至预设位置，并接收所述运动控制系统反馈的就位信号，根据所述就位信号输出第二测试指令；主控模块，所述主控模块和所述工控机使用千兆网线连接，用于根据所述第二测试指令输出元件检测信号；信号板模块，所述信号板模块与所述主控模块通过柔性的多芯双绞屏蔽线连接，用于根据所述元件检测信号反馈飞针检测信号至所述主控模块，以使所述主控模块根据所述飞针检测信号计算得到目标元件参数。2.根据权利要求1所述的飞针测试装置，其特征在于，所述元件检测信号包括第一检测信号，所述飞针检测信号包括第一反馈信号，所述主控模块包括：主控处理器，所述主控处理器由ARM和FPGA组成；数模转换器，所述数模转换器一端连接所述主控处理器，另一端连接所述信号板模块，用于设置所述第一检测信号，并将所述第一检测信号输出至所述信号板模块；滤波器，所述滤波器与所述信号板模块连接，用于提高所述第一反馈信号的稳定性；信号采样器，所述信号采样器一端连接所述滤波器，另一端连接所述主控处理器，用于采集所述第一反馈信号。3.根据权利要求2所述的飞针测试装置，其特征在于，所述飞针检测信号还包括第二反馈信号，所述主控模块还包括：模数转换器，所述模数转换器一端连接所述主控处理器，另一端连接所述信号板模块，用于读取所述信号板模块根据所述第一检测信号反馈的所述第二反馈信号。4.根据权利要求3所述的飞针测试装置，其特征在于，所述元件检测信号还包括第二检测信号，所述主控模块还包括：数字合成器，所述数字合成器与所述主控处理器连接，用于产生测试电容或电感的所述第二检测信号；运算放大器，所述运算放大器一端连接所述数字合成器，另一端连接所述信号板模块，用于对所述第二检测信号进行放电和跟随。5.一种飞针测试方法，其特征在于，所述飞针测试方法应用于飞针测试机，所述飞针测试机包括运动控制系统和飞针测试装置，所述飞针测试装置包括：工控机、主控模块和信号板模块，所述飞针测试装置如权利要求1至4任一项所述的飞针测试装置，所述飞针测试方法包括：控制所述工控机输出第一测试指令至所述运动控制系统，以使所述运动控制系统的内置探针移动至预设位置，并接收所述运动控制系统反馈的就位信号，根据所述就位信号输出第二测试指令；控制所述主控模块根据所述第二测试指令输出元件检测信号；控制所述信号板模块根据所述元件检测信号反馈飞针检测信号至所述主控模块，以使所述主控模块根据所述飞针检测信号计算得到目标元件参数。6.根据权利要求5所述的飞针测试方法，其特征在于，所述元件检测信号包括第一检测
信号，所述第一检测信号包括电阻检测信号，所述飞针检测信号包括第一反馈信号，所述第一反馈信号包括电阻反馈信号，所述目标元件参数包括目标电阻参数，所述主控模块包括：主控处理器、数模转换器和信号采样器，所述控制所述信号板模块根据所述元件检测信号反...

【专利技术属性】
技术研发人员：向成红，黄亮，陈燕峰，邵勇锋，
申请(专利权)人：艾富瑞苏州测试科技有限公司，
类型：发明
国别省市：