一种有效管控成型设备精度的方法技术

本发明专利技术公开了一种有效管控成型设备精度的方法，其特征在于，在PNL板中设置精度测量组件，通过二次元装置对精度测量组件进行批量测量，根据精度测量组件的测量数据分析成型设备的精度；其中，二次元装置包括辅助测试板，所述辅助测试板包括至少一个镂空的限位凹槽，所述限位凹槽在水平方向上的截面面积大于精度测量组件在水平方向上的截面面积，所述限位凹槽中设置有用于卡接精度测量组件的限位凸起。本申请采用辅助测试板能够实现精度测量组件尺寸的批量测量，使得用于分析成型设备的数据充足且测量值精准，通过上述批量且精准的测量数据，能够有效管控成型设备精度。能够有效管控成型设备精度。能够有效管控成型设备精度。

【技术实现步骤摘要】
一种有效管控成型设备精度的方法


[0001]本专利技术涉及PCB板加工领域，尤其涉及一种有效管控成型设备精度的方法。

技术介绍

[0002]在PCB制造行业中，成型工序是将生产尺寸(PNL)板分割成出货尺寸(SET)的一个工序，目前成型精度要求一般为
±
0.1mm，一般作业流程为：钻孔
→
上销钉
→
上板
→
锣1SET
→
首检ok
→
正常生产及抽检
→
末检。
[0003]在首检和末检过程中主要是用测量工具直接检测生产产品SET板出货单位的各尺寸，但是存在以下问题：
[0004]首检一般取成型的第一片SET板，先由作业员自检没有问题后再交由IPQA人员使用二次元设备依据图纸全部测量，由于成型工序为第一次生产，补偿未确定的原因首检锣小会导致产品报废率升高，由于PNL板批量小，若报废一个SET，导致交货数量不够需要补料生产，会大大延迟交期，尺寸偏大可以进行返锣处理。
[0005]抽检和末检过程一般使用游标卡尺测外尺寸和较大内槽，用针规测量小内槽，操作繁琐，且一般的游标卡尺精度为0.01mm，只能显示两位数，用游标卡尺测量精度较差，超大尺寸的板以及内槽过小，弧形槽用二次元影像无法测量；且用手工测量抽检数据填写在手工报表上难以进行统计分析以及后续的成型精度管理，且存在人员测量错误、书写报表错误、将手工报表提取为电子表格识别错误的问题。
[0006]将抽检和末件改为二次元测量又存在跨岗位问题，二次元和成型机是不同的操作岗位，时效性较低，操作门槛高的问题：二次元测尺寸需要调取该料号已经做好的资料，一般资料是按照图纸要求很全面，抽检测量尺寸过多，操作二次元较为复杂。
[0007]在实际加工生产中，反映成型机台精度的制程能力参数为CPK，它是由从稳定正常生产的产品尺寸中抽取连续的数据做分析，通过公式得到，对数据量要求一般有25组以上。原有的成型机台精度的制程能力管控方法为：由主管部门从首检二次元数据中取25组数据，含长方向、宽放向数据，计算其CPK是否达标。
[0008]因为每批板首检只做一次，导致高精度的二次元测量数据过少，且各个料号的尺寸不一，还需要对自动输出的尺寸数据做进一步的计算处理，采用抽检和末检手工测量的报表数据又存在手工报表录电子数据效率低，不能实现高效自动化，抽检和末检手工进行，手工测量输出的报表存在测量误差、书写错误、录入识别错误的问题。另外抽取数据仅为长和宽两个数据，实际内槽加工的刀具和指令不一样，未反映加工内槽的精度；且首检板尺寸为未补偿调整加工出的数据，不符合CPK数据数据提取连续稳定间隔的要求，不能反映真实的设备制程能力情况；而脱离生产专门对机台做制程能力测试又将浪费物料成本，占用设备的生产时间。

技术实现思路

[0009]本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的问题之一。为此，本专利技术的目的
在于提供一种有效管控成型设备精度的方法，采用辅助测试板能够实现精度测量组件尺寸的批量测量，使得用于分析成型设备的数据充足且测量值精准，通过上述批量且精准的测量数据，能够有效管控成型设备精度。
[0010]为了实现上述目的，本申请采用如下技术方案：一种有效管控成型设备精度的方法，在PNL板中设置精度测量组件，通过二次元装置对精度测量组件进行批量测量，根据精度测量组件的测量数据分析成型设备的精度；其中，二次元装置包括辅助测试板，所述辅助测试板包括至少一个镂空的限位凹槽，所述限位凹槽在水平方向上的截面面积大于精度测量组件在水平方向上的截面面积，所述限位凹槽中设置有用于卡接精度测量组件的限位凸起。
[0011]进一步的，所述辅助测试板中设置有N个限位凹槽，N为大于0的整数。
[0012]进一步的，所述限位凹槽中的限位凸起为X个，且X个限位凸起对称分布在精度测量组件的侧边；X为大于0的偶数。
[0013]进一步的，所述限位凹槽为贯穿辅助测试板的通孔，所述限位凸起为L型的限位凸起。
[0014]进一步的，在PNL板中设置精度测量组件，通过二次元装置对精度测量组件进行测量，具体包括：
[0015]S1：在PNL板的板边区域中确定精度测量组件的位置，所述PNL板包括成型单元和板边区域；所述成型单元和板边区域采用相同的成型程式进行加工；
[0016]S2：调取成型程式中的初始加工参数对精度测量组件进行加工。
[0017]进一步的，在分析成型设备的精度时，还包括：
[0018]S3：通过二次元装置测量精度测量组件加工后的实际尺寸，根据精度测量组件的实际尺寸和设定的公差调整补偿参数，获得补偿加工参数；
[0019]S4：将补偿加工参数存储在成型程式中；采用补偿加工参数对成型单元进行加工；
[0020]S5：测量首检SET板加工后的实际尺寸，其中首检SET板为其中一个成型单元。
[0021]进一步的，所述精度测量组件中设置有测量标记；所述测量标记包括内槽和目检区域，步骤S2中采用锣刀加工内槽和目检区域；所述内槽为加工成型的凹槽，所述目检区域包括每一把锣刀的成型标记；
[0022]所述精度测量组件中还设置有两个销钉孔，步骤S2中采用钻刀加工销钉孔；所述精度测量组件中还设置有两个光学点，步骤S2中采用线路工序形成光学点；所述精度测量组件中还设置有识别印记，步骤S2中采用线路工序形成识别印记。
[0023]进一步的，步骤S3通过二次元装置测量精度测量组件加工后的实际尺寸，根据精度测量组件的实际尺寸和设定的公差调整补偿参数，获得补偿加工参数，具体包括：
[0024]S31：目测所述目检区域，判断每一把锣刀的成型标记是否有毛刺、漏锣、未锣穿的情况；若没有毛刺、漏锣、未锣穿的情况进入步骤S32；
[0025]S32：采用二次元影像获取两个光学点的中心点之间的距离，获取光学点到精度测量组件边缘的距离，获取两个销钉孔的中心点之间的距离，获取销钉孔到精度测量组件边缘的距离，获取内槽的尺寸，获取精度测量组件的边缘尺寸；针对上述的距离和尺寸设定对应的公差；
[0026]S33：若上述其中一个距离或尺寸超出公差，则对应调整补偿参数；若上述距离和
尺寸均在公差范围内，则无需调整补偿参数。
[0027]进一步的，所述识别印记包括二维码、手写信息区和料号区。
[0028]进一步的，所述精度测量组件为两个，分别设置在PNL板边缘区域的对角线上。
[0029]本申请实施例提供的上述技术方案与现有技术相比具有如下优点：本申请中采用辅助测试板进行精度测量组件的限位，再采用二次元装置进行测量，限位凹槽中限位凸起对精度测量组件起到限位卡接作用，在限位凹槽中，除了限位凸起以外的部分均为镂空结构，通过镂空结构可以精确获取精度测量组件的外轮廓，提高了测量精准度；本申请采用辅助测试板能够实现精度测量组件尺寸的批量测量，使得用于分析成型设备的数据充足且测量值精准，通过上述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种有效管控成型设备精度的方法，其特征在于，在PNL板中设置精度测量组件，通过二次元装置对精度测量组件进行批量测量，根据精度测量组件的测量数据分析成型设备的精度；其中，二次元装置包括辅助测试板，所述辅助测试板包括至少一个镂空的限位凹槽，所述限位凹槽在水平方向上的截面面积大于精度测量组件在水平方向上的截面面积，所述限位凹槽中设置有用于卡接精度测量组件的限位凸起。2.根据权利要求1所述的一种有效管控成型设备精度的方法，其特征在于，所述辅助测试板中设置有N个限位凹槽，N为大于0的整数。3.根据权利要求1所述的一种有效管控成型设备精度的方法，其特征在于，所述限位凹槽中的限位凸起为X个，且X个限位凸起对称分布在精度测量组件的侧边；X为大于0的偶数。4.根据权利要求3所述的一种有效管控成型设备精度的方法，其特征在于，所述限位凹槽为贯穿辅助测试板的通孔，所述限位凸起为L型的限位凸起。5.根据权利要求1所述的一种有效管控成型设备精度的方法，其特征在于，在PNL板中设置精度测量组件，具体包括：S1：在PNL板的板边区域中确定精度测量组件的位置，所述PNL板包括成型单元和板边区域；所述成型单元和板边区域采用相同的成型程式进行加工；S2：调取成型程式中的初始加工参数对精度测量组件进行加工。6.根据权利要求5所述的一种有效管控成型设备精度的方法，其特征在于，在分析成型设备的精度时，还包括：S3：通过二次元装置测量精度测量组件加工后的实际尺寸，根据精度测量组件的实际尺寸和设定的公差调整补偿参数，获得补偿加工参数；S4：将补偿加工参数存储在成型程式中；采用补偿加工参数对成型单元进行加工；S5：测量首检SET板加工后的实际尺寸，其中首检...

【专利技术属性】
技术研发人员：程文君，何顺，易子豐，唐先渠，曾玲，李卓韬，
申请(专利权)人：广东喜珍电路科技有限公司，
类型：发明
国别省市：