距离测量装置和距离测量方法制造方法及图纸

根据本公开的一个实施例的距离测量装置包括：光接收部分，接收基于来自发光部分的照射光的来自距离测量目标的反射光；直方图获取部分，获取表示由光接收部分接收反射光的频率的直方图；以及计算部分，基于与由直方图获取部分获取的直方图中的峰值相对应的时间来计算到距离测量目标的距离。基于由直方图获取部分获取的直方图的形状，计算部分校正基于与直方图峰值相对应的时间计算的距离。方图峰值相对应的时间计算的距离。方图峰值相对应的时间计算的距离。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】距离测量装置和距离测量方法


[0001]本公开涉及距离测量装置和距离测量方法。

技术介绍

[0002]使用飞行时间(ToF)系统的设备(传感器)被称为测量到距离测量目标(对象)的距离的距离测量装置(所谓的测距装置)(例如，参见专利文献1)。ToF系统是通过检测从发光单元(光源)向距离测量目标发射照射光到在光接收单元处接收从距离测量目标反射的照射光为止的光的飞行时间来测量到距离测量目标的距离的系统。
[0003]引用列表
[0004]专利文献
[0005]专利文献1：日本未经审查专利申请公开第2016
‑
211881号。

技术实现思路

[0006]同时，一些距离测量目标引起所谓的子表面散射，该子表面散射是入射到对象的表面上的光在对象内部散射并且然后被排出到外部的现象。如果从发光单元发射的光从距离测量目标的表面反射，则可以准确地测量到距离测量目标的距离。然而，在距离测量目标是引起子表面散射的对象的情况下，从发光单元发光到在光接收单元处接收光的时间包括归因于子表面散射的时间。因此，不能准确地测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种距离测量装置，包括：光接收单元，接收基于来自发光单元的照射光的来自距离测量目标的反射光；直方图获取单元，获取指示在所述光接收单元处接收所述反射光的频率的直方图；以及运算单元，基于与由所述直方图获取单元获取的所述直方图的峰值相对应的时间来计算到所述距离测量目标的距离，所述运算单元基于由所述直方图获取单元获取的所述直方图的形状来校正基于与所述直方图的峰值相对应的所述时间计算的所述距离。2.根据权利要求1所述的距离测量装置，其中，所述光接收单元的光接收元件包括以盖革模式操作的雪崩光电二极管。3.根据权利要求2所述的距离测量装置，其中，所述光接收单元的所述光接收元件包括单光子雪崩二极管。4.根据权利要求1所述的距离测量装置，其中，所述距离测量目标是引起子表面散射的对象。5.根据权利要求4所述的距离测量装置，其中，所述直方图获取单元包括：时间差检测器，检测从所述发光单元发射所述照射光的时间点到在所述光接收单元处接收来自所述距离测量目标的所述反射光为止的时间；以及累加器，基于由所述时间差检测器检测的所述时间来产生直方图。6.根据权利要求1所述的距离测量装置，其中，所述直方图的形状包括通过对由所述直方图获取单元获取的所述直方图进行预定统计处理而获得的来自所述距离测量目标的所述反射光分布在峰值周围的扩散状态。7.根据权利要求6所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：大木光晴，
申请(专利权)人：索尼半导体解决方案公司，
类型：发明
国别省市：