测距装置具备光源、偏转光学部件、反射部件、受光元件及受光元件。反射部件使用于扫描来自光源的光而扫描测定对象物的扫描角度不同，按每个不同的扫描角度反射来自光源的光。偏转光学部件将由反射部件反射的光引导至测定对象物。受光元件接收由偏转光学部件引导的光被测定对象物反射的反射光。在反射部件的扫描角度为特定角度的情况下，受光元件接收以反射部件及偏转光学部件的顺序反射的光。射部件及偏转光学部件的顺序反射的光。射部件及偏转光学部件的顺序反射的光。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】测距装置、测距方法及测距程序
[0001]本专利技术涉及一种测距装置、测距方法及测距程序。
技术介绍
[0002]一般而言，已知有如下测距技术：通过扫描来自光源的光而扫描测定对象物，并测量被测定对象物反射的反射光返回为止的时间，从而测量到测定对象物的距离(参考日本特开2014
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194380号公报、日本特开2016
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125970号公报及日本特开2019
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174297号公报)。
技术实现思路
[0003]专利技术要解决的技术课题
[0004]上述测距技术中，需要检测扫描测定对象物的扫描角度，但在日本特开2014
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194380号公报、日本特开2016
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125970号公报及日本特开2019
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174297号公报中记载的技术中，存在无法说扫描角度的检测精度充分的情况。因此，期望提高扫描角度的检测精度的技术。
[0005]本专利技术是考虑上述情况而完成的，提供一种能够提高用于扫描来自光源的光而扫描测定对象物的扫描角度的检测精度的测距装置、测距方法及测距程序。
[0006]用于解决技术课题的手段
[0007]本专利技术的第1方式的测距装置具备：光源；反射部件，使用于扫描来自光源的光而扫描测定对象物的扫描角度不同，按每个不同的扫描角度反射来自光源的光；偏转光学部件，将由反射部件反射的光引导至测定对象物；第1受光部，接收由偏转光学部件引导的光被测定对象物反射的反射光；以及第2受光部，在反射部件的扫描角度为特定角度的情况下，接收以反射部件及偏转光学部件的顺序反射的光。
[0008]本专利技术的第2方式的测距装置在第1方式的测距装置中，在与偏转光学部件将光引导至测定对象物的方向相交的方向上具备多个第2受光部。
[0009]本专利技术的第3方式的测距装置在第1方式或第2方式的测距装置中，反射部件在将扫描角度设为特定角度的状态下反射光之后，使扫描角度不同而多次反射光，直到再次在设为特定角度的状态下反射光，所述测距装置还具备至少1个处理器，处理器进行如下处理：在第2受光部接收到光的第1时间与第1时间之后第2受光部接收到光的第2时间之间，第1受光部获取光源的发光次数；根据发光次数，导出与第1受光部接收到的反射光对应的扫描角度。
[0010]本专利技术的第4方式的测距装置在第3方式的测距装置中，处理器进行如下处理：根据将反射部件使扫描角度不同的范围的角度除以从发光次数减去1的数而得到的值，导出扫描角度。
[0011]本专利技术的第5方式的测距装置在第3方式或第4方式的测距装置中，处理器进行如下处理：将扫描角度和与由第1受光部接收到的反射光对应的测距数据建立对应关联。
[0012]本专利技术的第6方式的测距装置在第1方式至第5方式中任一方式的测距装置中，偏
转光学部件具有：透射部，使从光源朝向反射部件的光透射；以及反射部，将由反射部件反射的光朝向测定对象物反射，并且将由反射部件反射的光朝向第2受光部反射。
[0013]本专利技术的第7方式的测距装置在第1方式至第6方式中任一方式的测距装置中，偏转光学部件进一步将被测定对象物反射的反射光引导至反射部件，并且向光源的方向引导被反射部件反射的反射光，第1受光部接收通过偏转光学部件向光源的方向引导的反射光。
[0014]本专利技术的第8方式的测距装置在第7方式的测距装置中，还具备分束器，所述分束器位于光源与反射部件的光路上之间，并且位于反射部件与第1受光部的光路上之间，使光向反射部件的方向通过，并且将被反射部件向光源的方向反射的反射光导向第1受光部。
[0015]本专利技术的第9方式的测距装置在第1方式至第6方式中任一方式的测距装置中，还具备光学组件，所述光学组件向与光源的方向不同的方向引导被测定对象物反射的反射光，第1受光部接收由光学组件向与光源的方向不同的方向引导的反射光。
[0016]本专利技术的第10方式的测距装置在第1方式至第9方式中任一方式的测距装置中，反射部件为MEMS反射镜。
[0017]并且，本专利技术的第11方式的测距方法为由测距装置进行的测距方法，其中，所述测距装置具备：光源；反射部件，使用于扫描来自光源的光而扫描测定对象物的扫描角度不同，按每个不同的扫描角度反射来自光源的光；偏转光学部件，将由反射部件反射的光引导至测定对象物；第1受光部，接收由偏转光学部件引导的光被测定对象物反射的反射光；以及第2受光部，在反射部件的扫描角度为特定角度的情况下，接收以反射部件及偏转光学部件的顺序反射的光，反射部件在将扫描角度设为特定角度的状态下反射光之后，使扫描角度不同而多次反射光，直到再次在设为特定角度的状态下反射光，在所述测距方法中，处理器执行如下处理：在第2受光部接收到光的第1时间与第1时间之后第2受光部接收到光的第2时间之间，第1受光部获取接收到反射光的光源的发光次数；根据发光次数，导出与第1受光部接收到的反射光对应的扫描角度；将扫描角度和与由第1受光部接收到的反射光对应的测距数据建立对应关联。
[0018]并且，本专利技术的第12方式的测距程序为用于使处理器执行用于进行基于测距装置的测距的处理的测距程序，其中，所述测距装置具备：光源；反射部件，使用于扫描来自光源的光而扫描测定对象物的扫描角度不同，按每个不同的扫描角度反射来自光源的光；偏转光学部件，将由反射部件反射的光引导至测定对象物；第1受光部，接收由偏转光学部件引导的光被测定对象物反射的反射光；以及第2受光部，在反射部件的扫描角度为特定角度的情况下，接收以反射部件及偏转光学部件的顺序反射的光，反射部件在将扫描角度设为特定角度的状态下反射光之后，使扫描角度不同而多次反射光，直到再次在设为特定角度的状态下反射光，所述测距程序用于使处理器执行如下处理：在第2受光部接收到光的第1时间与第1时间之后第2受光部接收到光的第2时间之间，第1受光部获取接收到反射光的光源的发光次数；根据发光次数，导出与第1受光部接收到的反射光对应的扫描角度；将扫描角度和与由第1受光部接收到的反射光对应的测距数据建立对应关联。
[0019]专利技术效果
[0020]根据本专利技术，能够提高用于扫描来自光源的光而扫描测定对象物的扫描角度的检测精度。
附图说明
[0021]图1是表示实施方式的测距装置的一例的结构图。
[0022]图2A是用于说明从光源照射的光的光路的图。
[0023]图2B是用于说明被测定对象物反射的反射光的光路的图。
[0024]图3是表示作为实施方式的反射部件的MEMS反射镜的结构的一例的结构图。
[0025]图4是表示实施方式的控制部的硬件结构的一例的结构图。
[0026]图5是表示实施方式的控制部的功能结构的一例的功能框图。
[0027]图6是表示由控制部执行的测距处理的一例的流程图。
[0028]图7是表示变形例1的测距装置的一例的结构图。
[0029]图8是表示变形例2的测距装置的一例的结构图。<本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种测距装置，其具备：光源；反射部件，使用于扫描来自所述光源的光而扫描测定对象物的扫描角度不同，按每个不同的所述扫描角度反射来自所述光源的光；偏转光学部件，将由所述反射部件反射的所述光引导至所述测定对象物；第1受光部，接收由所述偏转光学部件引导的光被所述测定对象物反射的反射光；以及第2受光部，在所述反射部件的所述扫描角度为特定角度的情况下，接收以所述反射部件及所述偏转光学部件的顺序反射的所述光。2.根据权利要求1所述的测距装置，其中，在与所述偏转光学部件将所述光引导至所述测定对象物的方向相交的方向上具备多个所述第2受光部。3.根据权利要求1或2所述的测距装置，其中，所述反射部件在将所述扫描角度设为所述特定角度的状态下反射所述光之后，使所述扫描角度不同而多次反射所述光，直到再次在设为所述特定角度的状态下反射所述光，所述测距装置还具备至少1个处理器，所述处理器进行如下处理：在所述第2受光部接收到所述光的第1时间与所述第1时间之后所述第2受光部接收到所述光的第2时间之间，所述第1受光部获取所述光源的发光次数；根据所述发光次数，导出与所述第1受光部接收到的所述反射光对应的所述扫描角度。4.根据权利要求3所述的测距装置，其中，所述处理器进行如下处理：根据将所述反射部件使所述扫描角度不同的范围的角度除以从所述发光次数减去1的数而得到的值，导出所述扫描角度。5.根据权利要求3或4所述的测距装置，其中，所述处理器进行如下处理：将所述扫描角度和与由所述第1受光部接收到的所述反射光对应的测距数据建立对应关联。6.根据权利要求1至5中任一项所述的测距装置，其中，所述偏转光学部件具有：透射部，使从所述光源朝向所述反射部件的光透射；以及反射部，将由所述反射部件反射的所述光朝向所述测定对象物反射，并且将由所述反射部件反射的所述光朝向所述第2受光部反射。7.根据权利要求1至6中任一项所述的测距装置，其中，所述偏转光学部件进一步将被所述测定对象物反射的所述反射光引导至所述反射部件，并且向所述光源的方向引导被所述反射部件反射的所述反射光，所述第1受光部接收通过所述偏转光学部件向所述光源的方向引导的所述反射光。8.根据权利要求7所述的测距装置，其中，所述测距装置还具备分束器，该分束器位于所述光源与所述反射部件的光路上之间，并且位于所述反射部件与所述第1受光部的光路上之间，使所述光向所述反射部件的方向通过，并且将被所述反射部件向所述光源的方向反射的所述反射光导向所述第1受光部。
9.根据权利要求1至6中任一项所述的测距装置，其中，所述测距装置还具备光学...
【专利技术属性】
技术研发人员：大乡毅，
申请(专利权)人：富士胶片株式会社，
类型：发明
国别省市：
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