【技术实现步骤摘要】
投射型模组坏点检测方法和装置
[0001]本专利技术涉及光电
，尤其涉及一种投射型模组坏点检测方法和装置。
技术介绍
[0002]在图像信号处理中，由于图像采集设备的制造工艺以及原材料的差异，会导致传感器中存在一些坏点。
[0003]现有技术方案对于坏点检测一般是对屏幕、芯片、摄像模组进行坏点检测，具体方法包括，首先分割有效区域，然后根据图像比例遍历区域，获得pixel在图像中的大概位置；或是直接利用图像二值化、分割出Pixel在图像中的位置；进而获取Pixel的亮度信息，进行坏点的判断。
[0004]由于从投射模组获取的图像不可避免地带有畸变，模糊边缘，光晕等现象。上述方案就无法实现对投射型图像的准确检测。边缘模糊，畸变现象导致的分割、区域遍历误差使得对每个模组Pixel区域的定位出现较大偏差，进而检测到的模组pixel亮度不准确，坏点检测真实性无法保证。
技术实现思路
[0005]本专利技术的一个主要优势在于提供一投射型模组坏点检测方法和装置，其中所述坏点检测装置能够对投射性模组进行...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.坏点检测装置，适于检测投射模组，其特征在于，包括：信号输入模块，其中所述信号输入模块分多次将预设的点阵检测图像输入至所述投射模组，以供所述投射模组基于所述点阵检测图像以相互间隔的方式点亮各像素；图像采集模块，所述图像采集模块适于拍摄所述投射模组的图像；以及图像处理模块，其中所述图像采集模块与所述图像处理模块相通信地连接，所述图像采集模块采集到的图像信息被传输至所述图像处理模块，由所述图像处理模块对采集到的分割行、列区域，并以区域交集的方式检测像素对应的亮度，并通过邻域均值分割坏点和输出坏点合束及其坐标信息。2.根据权利要求1所述的坏点检测装置，其中所述信号输入模块预设多个不同的点阵检测图像，并且所述投射模组基于所述点阵检测图像点亮各像素时，任意两个相邻被点亮的像素之间存在至少一未被点亮的像素。3.根据权利要求2所述的坏点检测装置，其中所述图像处理模块进一步包括滤光模块，其中所述滤光模块对所述图像采集模块得到的图像进行均值滤波，得到滤波图像，并且所述图像处理模块将滤波后的图像与原始图像进行差分阈值分割，得到一粗略的目标区域。4.根据权利要求3所述的坏点检测装置，其中所述图像处理模块进一步包括运算模块，其中所述运算模块通过开闭运算使得疑似区域合并，使用面积选择获得图像中的显示区域，所述运算模块对目标区域进行最小外接矩形剪切，以在保留目标区域的同时最大化舍去背景区域，提高运算效率。5.根据权利要求3所述的坏点检测装置，其中所述滤波模块以特定滤波方式对图像滤波，以获取像素在图像中的行列区域。6.根据权利要求5所述的坏点检测装置，其中所述滤波模块对获得的图像进行列均值滤波，得到Colunm_MeanImage，再对Colunm_MeanImage进行行均值滤波，将二者进行差分阈值分割，得到像素在图像中的列区域，所述滤波模块对图像进行行均值滤波，得到Row_MeanImage，再对Row_MeanImage进行列均值滤波，将二者进行差分阈值分割，得到像素在图像中的行区域。7.根据权利要求4所述的坏点检测装置，其中所述运算模块遍历行区域，并将每一行区域分别与所有的列区域取交集，对交集区域进行按列排序，得到投射模组当前行像素对应的图像区域，按照各区域对应的像素值取均值作为对应像素的亮度信息。8.根据权利要求7所述的坏点检测装置，其中所述运算模块将获取的像素亮度信息按照图像区域中每个像素的顺序依次赋值在初始值为0的图像，以生成一张新的像素点图，其中每个像素的亮度信息与投影芯片每个像素的亮度信息一一对应。9.根据权利要求4所述的坏点检测装置，其中所述图像处理模块进一步包括拼接模块，其中所述拼接模块将得到的多张图像合成，以得到完整的投影芯片像素点亮度信息在图像Pixel_Image上的映射。10.根据权利要求9所述的坏点检测装置，其中所述滤波模块对图像Pixel_Image进行均值滤波，得到Mean
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PixelImage，滤波核大小在20*20到150*150之间。11.根据权利要求9所述的坏点检测装置，其中所述图像处理模块遍历图像Pixel_Image的值，与对应的Mea...
【专利技术属性】
技术研发人员：王国庆，王旭阳，冯传涛，杨海欣，刘振业，王一琪，
申请(专利权)人：宁波舜宇光电信息有限公司，
类型：发明
国别省市：
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