一种升降摄像头的检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及摄像头测试技术领域，具体为一种升降摄像头的检测方法及装置，该方法包括以下内容：步骤2：控制摄像头两段式上升，根据预设的采样间隔次数和采样间隔时间进行采样获得多个上升位移信息，并记录两段式上升的上升检测信息；步骤3：摄像头上升至顶部后，控制摄像头进行图像采集获得图像信息，根据图像信息判断摄像头是否偏移过大，若是，则测试结束；步骤4：根据上升位移信息和上升检测信息判断摄像头的上升是否存在异常，若存在异常，则控制摄像头下降，并重复步骤2

【技术实现步骤摘要】
一种升降摄像头的检测方法及装置


[0001]本专利技术涉及摄像头测试
，具体为一种升降摄像头的检测方法及装置。

技术介绍

[0002]摄像头模组行业发展至今，结合前置摄像头和显示屏的搭配设计，客户对平板、手机、车载后枕屏等越来越追求更高的屏占比，为了维持屏幕的完整性，现有技术通过升降摄像头的方式来实现。
[0003]升降摄像头一般是由马达、马达驱动、摄像头、硅胶套、霍尔传感器、磁铁等组成。对于摄像头模组厂而言，为保证终端平台上升降摄像头功能的完整性，升降摄像头的检测显得尤为重要。
[0004]对于升降摄像头而言，可能会存在很多升降异常问题。例如升降机构的设计导致支撑面在摄像头尾部，使得摄像头在升降过程中受重力影响微倾斜、硅胶套摩檫力问题、螺丝等器件公差系数大、器件组装问题、外力阻挡等原因导致升降异常，例如不升降、在升降过程中卡顿、无法升到顶部、升到顶部发生抖动、升降时间过久、降到底部抖动等情况，使得客户体验不足。针对上述升降异常情况，目前绝大多数检测手段只能解决其中的一小部分，或者采用人工筛查或者本身设计缺陷而无法优化检测手段，因此目前亟需一种能够对升降摄像头的升降异常进行精准检测的升降摄像头检测方法及装置。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的之一在于提供一种升降摄像头的检测方法，能够对升降摄像头的升降异常进行精准检测。
[0006]本专利技术提供的基础方案一：一种升降摄像头的检测方法，包括以下内容：
[0007]步骤1：对标板和升降机台进行调整，并控制摄像头位于初始位置，采集初始位置的初始位移信息；
[0008]步骤2：控制摄像头两段式上升，根据预设的采样间隔次数和采样间隔时间进行采样获得多个上升位移信息，并记录两段式上升的上升检测信息；
[0009]步骤3：摄像头上升至顶部后，控制摄像头进行图像采集获得图像信息，根据图像信息判断摄像头是否偏移过大，若是，则测试结束；
[0010]步骤4：根据上升位移信息和上升检测信息判断摄像头的上升是否存在异常，若存在异常，则控制摄像头下降，并重复步骤2
‑
4，若不存在异常，则采样摄像头位于顶部的顶部位移信息。
[0011]进一步，还包括以下内容：
[0012]步骤5：根据采样间隔次数、采样间隔时间和上升检测信息控制摄像头三段式下降，下降过程中，采样获得多个下降位移信息、摄像头位于底部的底部位移信息，以及下降检测信息；
[0013]步骤6：根据上升位移信息、下降位移信息、上升检测信息和下降检测信息判断摄
像头的升降是否存在异常，若存在异常，则重复步骤2
‑
6。
[0014]进一步，步骤4中根据上升位移信息和上升检测信息判断摄像头的上升是否存在异常，包括以下内容：
[0015]两段式上升包括第一段上升和第二段上升，第二段上升预设采样间隔时间T2，上升检测信息包括第二段上升中所需的时间t2和采样次数n2，根据采样间隔时间T2、时间t2和采样次数n2计算第二段上升的实际时间，将实际时间与预设阈值进行对比判断是否存在异常。
[0016]进一步，步骤4中根据上升位移信息和上升检测信息判断摄像头的上升是否存在异常，包括以下内容：
[0017]两段式上升包括第一段上升和第二段上升，上升检测信息包括第一段上升中所需的时间t1，第二段上升中所需的时间t2，根据时间t1和时间t2与预设阈值进行对比判断是否存在异常。
[0018]进一步，步骤4中根据上升位移信息和上升检测信息判断摄像头的上升是否存在异常，包括以下内容：
[0019]上升位移信息包括x、y、z轴位移测量信息，根据x、y、z轴位移测量信息分析落在极值所对应时间的XY、XZ、YZ的偏移程度，判断偏移程度是否超过预设的偏移程度。
[0020]进一步，步骤2中，两段式上升包括第一段上升和第二段上升，第一上升段对应的采样间隔时间大于第二上升段对应的采样间隔时间。
[0021]进一步，步骤6中根据上升位移信息、下降位移信息、上升检测信息和下降检测信息判断摄像头的升降是否存在异常，包括以下内容：
[0022]上升位移信息和下降位移信息均包括x、y、z轴位移测量信息，根据上升位移信息和下降位移信息判断x、y、z轴位移测量信息是否对称设置。
[0023]有益效果：
[0024]采用本方案，对摄像头升降过程中的时间、位移等进行检测，以此进行分析处理，从而判断是否存在卡顿等升降异常。在升降异常判决中，通过连续测试和多次复判的方式，降低复判率和漏判率，同时还可排除环境影响，提高摄像头升降异常判决的准确性。同时，在摄像头上升至顶部时，通过摄像头的视觉效果，判断摄像头升降至顶部是否出现抖动等情况，影响摄像头成像效果。
[0025]本专利技术的目的之二在于提供一种升降摄像头的检测装置。
[0026]本专利技术提供基础方案二：一种升降摄像头的检测装置，应用上述的升降摄像头的检测方法，包括：
[0027]标板，标板上设有目标图案，
[0028]升降机台，用于控制摄像头升降，还用于采集并上传摄像头升降过程中的测量信息，测量信息包括位移信息、检测信息和图像信息；
[0029]上位机，用于根据测量信息对摄像头进行升降异常判决并生成判决结果。
[0030]进一步，目标图案为黑色圆形，当摄像头升至顶部时，摄像头的理论光心落在目标图案的圆心上。
[0031]有益效果：
[0032]采用本方案，以实现对摄像头升降异常的判断，标板的设置，根据摄像头设定物理
距离，以确定摄像头的光心落在黑色圆形的圆心上。通过摄像头上升至顶部采集的图像信息，判断图像中心是否落在黑色圆形上，以此对摄像头上升后的成像效果进行分析判决。
附图说明
[0033]图1为本专利技术一种升降摄像头的检测装置实施例的连接示意图；
[0034]图2为本专利技术一种升降摄像头的检测方法及装置实施例的空间投影示意图；
[0035]图3为本专利技术示例步骤4的x轴位移测量信息的曲线规律图；
[0036]图4为本专利技术示例步骤4的y轴位移测量信息的曲线规律图；
[0037]图5为本专利技术示例步骤4的z轴位移测量信息的曲线规律图；
[0038]图6为本专利技术示例步骤6的x轴位移测量信息的曲线规律图；
[0039]图7为本专利技术示例步骤6的y轴位移测量信息的曲线规律图；
[0040]图8为本专利技术示例步骤6的z轴位移测量信息的曲线规律图；
[0041]图9为本专利技术示例步骤6的XY轴位移测量信息的曲线规律图；
[0042]图10为本专利技术示例步骤6的XZ轴位移测量信息的曲线规律图；
[0043]图11为本专利技术示例步骤6的YZ轴位移测量信息的曲线规律图。
具体实施方式
[0044]下面通过具体实施方式进一步详细说明：
[0045]实施例
[0046]一种升降摄像头的检测装置，应用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种升降摄像头的检测方法，其特征在于，包括以下内容：步骤1：对标板和升降机台进行调整，并控制摄像头位于初始位置，采集初始位置的初始位移信息；步骤2：控制摄像头两段式上升，根据预设的采样间隔次数和采样间隔时间进行采样获得多个上升位移信息，并记录两段式上升的上升检测信息；步骤3：摄像头上升至顶部后，控制摄像头进行图像采集获得图像信息，根据图像信息判断摄像头是否偏移过大，若是，则测试结束；步骤4：根据上升位移信息和上升检测信息判断摄像头的上升是否存在异常，若存在异常，则控制摄像头下降，并重复步骤2
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4，若不存在异常，则采样摄像头位于顶部的顶部位移信息。2.根据权利要求1所述的一种升降摄像头的检测方法，其特征在于，还包括以下内容：步骤5：根据采样间隔次数、采样间隔时间和上升检测信息控制摄像头三段式下降，下降过程中，采样获得多个下降位移信息、摄像头位于底部的底部位移信息，以及下降检测信息；步骤6：根据上升位移信息、下降位移信息、上升检测信息和下降检测信息判断摄像头的升降是否存在异常，若存在异常，则重复步骤2
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6。3.根据权利要求1所述的一种升降摄像头的检测方法，其特征在于：步骤4中根据上升位移信息和上升检测信息判断摄像头的上升是否存在异常，包括以下内容：两段式上升包括第一段上升和第二段上升，第二段上升预设采样间隔时间T2，上升检测信息包括第二段上升中所需的时间t2和采样次数n2，根据采样间隔时间T2、时间t2和采样次数n2计算第二段上升的实际时间，将实际时间与预设阈值进行对比判断是否存在异常。4.根据权利要求1所述的一种升降摄像头的检测方法，其特征在于：步骤4中根据上升位移信息和上升检测信息判断摄像头的...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡露，刘春，袁岩松，冷煌军，熊雪强，赵龙效，周志军，唐江，宋凯静，袁永具，张伟，
申请(专利权)人：江西盛泰精密光学有限公司，
类型：发明
国别省市：