芯片功能的调试方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种芯片功能的调试方法、装置、电子设备及存储介质，属于嵌入式技术领域。所述方法包括：读取共享内存中第一外设的运行参数，基于第一外设的运行参数，运行待调试的芯片功能代码，以得到第二外设的运行参数，将第二外设的运行参数写入共享内存，以供用户界面应用程序读取该第二外设的运行参数来显示第二外设的运行状态。通过用户界面应用程序实时地修改第一外设的运行参数，无需技术人员手动修改第一外设的运行参数，简化了芯片功能的调试步骤。并且，通过用户界面应用程序还能够显示第二外设的运行状态，从而帮助技术人员直观地确定第二外设的运行情况，提高芯片功能的调试效率。调试效率。调试效率。

【技术实现步骤摘要】
芯片功能的调试方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本申请涉及嵌入式
，特别涉及一种芯片功能的调试方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]一个芯片可以连接多个外设，芯片功能的调试是指对芯片是否能够控制该多个外设正常运行来调试。而且，芯片功能的调试对于芯片的正常使用具有至关重要的作用。所以，在芯片功能的开发过程中，需要对芯片功能进行调试。
[0003]相关技术中，技术人员可以修改该功能代码中第一外设的运行参数，进而在模拟器上运行该芯片对应的功能代码，以对该芯片的功能进行模拟。该模拟器完成该芯片功能的模拟后，可以反馈因第一外设的运行参数的修改而影响的第二外设的运行参数。这样，技术人员可以通过模拟器的反馈结果来确定该功能代码是否存在问题。若该功能代码存在问题，则基于发现的问题对该功能代码进行修改，直至该功能代码不存在问题时完成芯片功能的调试。
[0004]然而，上述方法在每次模拟时都需要技术人员手动修改第一外设的运行参数，才能实现该芯片功能的模拟，导致芯片功能的调试的步骤十分繁琐，从而使得芯片的开发周期长、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片功能的调试方法，其特征在于，待调试的芯片功能代码包括M个外设接口，所述M个外设接口用于连接M个外设，M为大于或等于1的整数，所述方法包括：读取共享内存中第一外设的运行参数，所述第一外设为所述M个外设中的至少一个外设，所述第一外设的运行参数为用户界面应用程序在所述共享内存中写入的；基于所述第一外设的运行参数，运行所述芯片功能代码，以得到第二外设的运行参数，所述第二外设为所述M个外设中因所述第一外设的运行参数变化而影响的至少一个外设；将所述第二外设的运行参数写入所述共享内存，以供所述用户界面应用程序读取所述第二外设的运行参数来显示所述第二外设的运行状态。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述读取共享内存中第一外设的运行参数之前，还包括：创建所述共享内存；启动所述用户界面应用程序，并将所述共享内存的寻址参数传输至所述用户界面应用程序。3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述共享内存包括主共享内存和M个子共享内存，所述M个子共享内存与所述M个外设接口一一对应，所述主共享内存用于存储所述M个子共享内存的寻址参数，所述子共享内存用于存储相应外设接口所连接的外设的运行参数；所述将所述共享内存的寻址参数传输至所述用户界面应用程序，包括：将所述主共享内存的寻址参数传输至所述用户界面应用程序。4.一种芯片功能的调试方法，其特征在于，待调试的芯片功能代码包括M个外设接口，所述M个外设接口用于连接M个外设，M为大于或等于1的整数，所述方法包括：响应于第一外设的状态修改操作，将所述第一外设的运行参数写入共享内存，以供模拟器运行所述芯片功能代码，以得到第二外设的运行参数，所述第一外设为所述M个外设中的至少一个外设，所述第二外设为所述M个外设中因所述第一外设的运行参数变化而影响的至少一个外设；读取所述共享内存中所述第二外设的运行参数；基于所述第二外设的运行参数，显示所述第二外设的运行状态。5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述共享内存包括M个子共享内存，所述M个子共享内存与所述M个外设接口一一对应，所述子共享内存用于存储相应外设接口所连接的外设的运行参数；所述将所述第一外设的运行参数写入共享内存，包括：从所述M个子共享内存的寻址参数中，获取第一子共享内存的寻址参数，所述第一子共享内存为所述第一外设连接的外设接口所对应的子共享内存；基于所述第一子共享内存的寻址参数，将所述第一外设的运行参数写入所述第一子共享...

【专利技术属性】
技术研发人员：张栋栋，张雷正，
申请(专利权)人：北京奕斯伟计算技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：