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本申请公开了一种芯片功能的调试方法、装置、电子设备及存储介质，属于嵌入式技术领域。所述方法包括：读取共享内存中第一外设的运行参数，基于第一外设的运行参数，运行待调试的芯片功能代码，以得到第二外设的运行参数，将第二外设的运行参数写入共享内存，...
该专利属于北京奕斯伟计算技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京奕斯伟计算技术股份有限公司授权不得商用。

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