一种磨豆机及其刻度校准结构制造技术

本实用新型专利技术提供了一种磨豆机及其刻度校准结构，包括：磨芯外盘；中轴，所述中轴上套接有磨芯内盘，且中轴的一端设有螺纹端；调节组件，所述调节组件设置在中轴的螺纹端上，用于改变磨芯内盘与磨芯外盘之间的距离；校准组件，所述校准组件用于对调节组件进行校准，所述校准组件设置在调节组件外侧；限位组件，用于对校准组件进行限位。通过旋钮将磨芯内盘、磨芯外盘调节至最紧，方便确认磨芯的最小值，转动活动数字盘，使活动数字盘上的刻度与旋钮上的箭头对准，使磨芯内盘与磨芯外盘之间的松紧程度与活动数字盘上的数字进行对准，对磨豆机的刻度进行校准，方便磨豆机的正常使用。方便磨豆机的正常使用。方便磨豆机的正常使用。

【技术实现步骤摘要】
一种磨豆机及其刻度校准结构


[0001]本技术属于咖啡豆研磨
，具体涉及一种磨豆机及其刻度校准结构。

技术介绍

[0002]现有技术中，研磨咖啡豆需要使用磨豆机，传统磨豆机在主体下部通过旋钮调节研磨粗细，在旋钮转动时不做刻度或者刻度数字只作为参考，例如需要使用12格的粗细时，只能将旋钮扭到原点，再重新数旋转旋钮数12格刻度，非常的麻烦，并且刻度数字与研磨粗细并不对应，对此，我们提出一种磨豆机及其刻度校准结构，以解决上述问题。

技术实现思路

[0003]为了克服现有技术的不足，本技术提供一种磨豆机及其刻度校准结构，以解决现有技术中的旋钮转动时需要重新读数以及刻度数字与研磨粗细不对应的问题。
[0004]本技术其中一个实施例提供了一种磨豆机刻度校准结构，包括：
[0005]磨芯外盘；
[0006]中轴，所述中轴上套接有磨芯内盘，且中轴的一端设有螺纹端；
[0007]调节组件，所述调节组件设置在中轴的螺纹端上，用于改变磨芯内盘与磨芯外盘之间的距离；
[0008]校准组件，所述校准组件用于对调节组件进行校准，所述校准组件设置在调节组件外侧；
[0009]限位组件，用于对校准组件进行限位。
[0010]在其中一个实施例中，所述调节组件包括：
[0011]数字盘底座，所述数字盘底座套接在中轴上，并与磨芯内盘相连，所述数字盘底座内开设有第一凹槽；
[0012]旋钮，所述旋钮与中轴上的螺纹端连接，且旋钮在数字盘底座上的第一凹槽内转动。
[0013]在其中一个实施例中，
[0014]所述数字盘底座上开设有能够供中轴的螺纹端通过的孔。
[0015]在其中一个实施例中，
[0016]所述旋钮的侧边活动设有旋钮定位钢珠，所述数字盘底座的第一凹槽侧壁上开设有与旋钮定位钢珠适配的第一限位槽。
[0017]在其中一个实施例中，所述校准组件包括：
[0018]活动数字盘，所述活动数字盘活动套接在数字盘底座上。
[0019]在其中一个实施例中，
[0020]所述限位组件包括：
[0021]数字盘底座钢珠，所述数字盘底座钢珠安装在数字盘底座上；
[0022]第二限位槽，所述第二限位槽开设在活动数字盘内侧，且第二限位槽与数字盘底
座钢珠适配。
[0023]在其中一个实施例中，
[0024]所述限位组件包括：
[0025]第二凹槽，所述第二凹槽环设在数字盘底座上；
[0026]硅胶圈，所述硅胶圈套设在第二凹槽内，所述硅胶圈与活动数字盘的内表面摩擦贴合。
[0027]在其中一个实施例中，
[0028]所述限位组件包括：
[0029]磁铁槽，所述数字盘底座上开设有磁铁槽，所述磁铁槽内设有磁铁，所述活动数字盘通过磁铁与数字盘底座磁性吸附。
[0030]在其中一个实施例中，所述中轴远离螺纹端的一端设有中轴头，且中轴头活动套设有摇把，所述中轴头为多边形柱体。
[0031]本技术其中一个实施例还提供了一种磨豆机，包括：
[0032]如以上任意一项实施例所述的一种磨豆机刻度校准结构；以及
[0033]磨豆机壳体，所述磨豆机壳体内设有磨芯外盘和中轴，所述中轴与磨豆机壳体转动连接。
[0034]以上实施例所提供的磨豆机或刻度校准结构有以下有益效果：
[0035]旋钮上设有箭头，中轴头卡入摇把内，手握摇把，转动旋钮将磨芯内盘、磨芯外盘调节至最紧，此时箭头所指处为原点，然后转动活动数字盘，将活动数字盘上的数字0对准旋钮上的箭头，完成磨豆机刻度校准对齐，即使后续更换磨芯内盘，只需重新进行上述操作即可；
[0036]通过旋钮将磨芯内盘、磨芯外盘调节至最紧，方便确认磨芯的最小值，转动活动数字盘，使活动数字盘上的刻度与旋钮上的箭头对准，使磨芯内盘与磨芯外盘之间的松紧程度与活动数字盘上的数字进行对准，对磨豆机的刻度进行校准，方便磨豆机的正常使用。
附图说明
[0037]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
[0038]图1为本技术中校准结构的示意图；
[0039]图2
‑
4为本技术中限位组件的三个实施例的结构示意图；
[0040]图5为本技术中磨豆机的结构示意图；
[0041]图中：100、校准结构；101、磨芯外盘；102、摇把；
[0042]110、中轴；111、磨芯内盘；112、螺纹端；113、中轴头；
[0043]120、调节组件；121、数字盘底座；122、第一凹槽；123、旋钮；124、孔；125、旋钮定位钢珠；126、第一限位槽；
[0044]130、校准组件；131、活动数字盘；
[0045]140、限位组件；141、数字盘底座钢珠；142、第二限位槽；143、第二凹槽；144、硅胶
圈；145、磁铁槽；146、磁铁；
[0046]200、磨豆机；201、磨豆机壳体。
具体实施方式
[0047]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0048]需要说明，若本技术实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
[0049]另外，若本技术实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，若全文中出现的“和/或”或者“及/或”，其含义包括三个并列的方案，以“A和/或B”为例，包括A方案、或B方案、或A和B同时满足的方案。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本技术要求的保护范围之内。
[0050]请参照图1至图2，本技术其中一个实施例提供了一种磨豆机200刻度校准结构100，包括：
[0051]磨芯外盘101；
[0052]中轴110，所述中轴110上本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种磨豆机刻度校准结构，其特征在于，包括：磨芯外盘；中轴，所述中轴上套接有磨芯内盘，且中轴的一端设有螺纹端；调节组件，所述调节组件设置在中轴的螺纹端上，用于改变磨芯内盘与磨芯外盘之间的距离；校准组件，所述校准组件用于对调节组件进行校准，所述校准组件设置在调节组件外侧；限位组件，用于对校准组件进行限位。2.如权利要求1所述的一种磨豆机刻度校准结构，其特征在于，所述调节组件包括：数字盘底座，所述数字盘底座套接在中轴上，并与磨芯内盘相连，所述数字盘底座内开设有第一凹槽；旋钮，所述旋钮与中轴上的螺纹端连接，且旋钮在数字盘底座上的第一凹槽内转动。3.如权利要求2所述的一种磨豆机刻度校准结构，其特征在于，所述数字盘底座上开设有能够供中轴的螺纹端通过的孔。4.如权利要求2所述的一种磨豆机刻度校准结构，其特征在于，所述旋钮的侧边活动设有旋钮定位钢珠，所述数字盘底座的第一凹槽侧壁上开设有与旋钮定位钢珠适配的第一限位槽。5.如权利要求2所述的一种磨豆机刻度校准结构，其特征在于，所述校准组件包括：活动数字盘，所述活动数字盘活动套接在数字盘底座上。...

【专利技术属性】
技术研发人员：廖健和，刘晓峰，孔庆平，
申请(专利权)人：廖健和，
类型：新型
国别省市：