一种用于气体质谱仪激光分析的装样装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于气体质谱仪激光分析的装样装置，包括上下布置的顶盘和基座，所述顶盘和基座之间通过螺丝连接，所述顶盘周圈设有围挡，所述顶盘上设有不少于一个的贯穿布置的放置腔。本实用新型专利技术与现有技术相比的优点在于：采用分体式设计，方便清理，减少成本。本。本。

【技术实现步骤摘要】
一种用于气体质谱仪激光分析的装样装置


[0001]本技术涉及分析装样装置
，具体是指一种用于气体质谱仪激光分析的装样装置。

技术介绍

[0002]使用稀有气体同位素质谱仪激光分析样品中同位素或含量时，需要用到盛放分析样品岩石、矿物颗粒或粉末的装置，而现有的装样装置为一体式，当需要使用盖片时，为防止盖片滑动，盘边缘可适当突起，如说明书附图5所示，上述结构设置所导致的缺点较多。

技术实现思路

[0003]本技术要解决的技术问题是克服以上技术缺陷，提供一种用于气体质谱仪激光分析的装样装置，采用分体式设计，方便清理，减少成本。
[0004]为解决上述技术问题，本技术提供的技术方案为：一种用于气体质谱仪激光分析的装样装置，包括上下布置的顶盘和基座，所述顶盘和基座之间通过螺丝连接，所述顶盘周圈设有围挡，所述顶盘上设有不少于一个的贯穿布置的放置腔。
[0005]作为改进，所述基座上设有不少于一个的螺纹孔，所述顶盘上设有和螺纹孔配合的光孔，连接螺丝置于光孔内并和螺纹孔连接。
[0006]本技术与现有技术相比的优点在于：1、基座反复使用，一直放置于真空系统中，减少与大气接触产生的吸附气体的影响，降低系统本底；
[0007]2、易于清理：样品分析完成后取下顶盘，放置腔上下端均为开口状态，用砂纸擦拭即可去除分析后的残余样品。
[0008]3、减少成本：可根据实验需要加工不同放置腔数量及放置腔的孔径的顶盘，匹配使用同一个基座，减少成本。实验过程中更换新的顶盘后，也会因为更换的金属体积小，可减少新材料缓慢释放所吸附的气体对实验的影响。
附图说明
[0009]图1是本技术一种用于气体质谱仪激光分析的装样装置的结构示意图。
[0010]图2是本技术一种用于气体质谱仪激光分析的装样装置的俯视图。
[0011]图3是本技术一种用于气体质谱仪激光分析的装样装置的剖视图。
[0012]图4是本技术一种用于气体质谱仪激光分析的装样装置的分离剖视图。
[0013]图5是本技术一种用于气体质谱仪激光分析的装样装置的现有技术示意图
[0014]如图所示：1、基座；2、顶盘；3、围挡；4、放置腔；5、光孔；6、螺纹孔。
具体实施方式
[0015]下面结合附图对本技术做进一步的详细说明。
[0016]一种用于气体质谱仪激光分析的装样装置，包括上下布置的顶盘2和基座1，所述
顶盘2和基座1之间通过螺丝连接，所述顶盘2周圈设有围挡3，所述顶盘2上设有不少于一个的贯穿布置的放置腔4。
[0017]所述基座1上设有不少于一个的螺纹孔6，所述顶盘2上设有和螺纹孔6配合的光孔5，连接螺丝置于光孔5内并和螺纹孔6连接。
[0018]本技术在具体实施时，采用分体式，装样装置分为两部分，基座和顶盘，基座为一整体，盛放样品的放置腔在顶盘加工，二者使用螺丝固定；
[0019]基座上的螺纹孔穿透到底部时，固定使用常规不锈钢螺丝，否则采用真空螺丝，螺纹孔3
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4个即可，或根据需要增减，以实现二者的紧密贴合。
[0020]以上对本技术及其实施方式进行了描述，这种描述没有限制性，附图中所示的也只是本技术的实施方式之一，实际的结构并不局限于此。总而言之如果本领域的普通技术人员受其启示，在不脱离本技术创造宗旨的情况下，不经创造性的设计出与该技术方案相似的结构方式及实施例，均应属于本技术的保护范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于气体质谱仪激光分析的装样装置，其特征在于：包括上下布置的顶盘(2)和基座(1)，所述顶盘(2)和基座(1)之间通过螺丝连接，所述顶盘(2)周圈设有围挡(3)，所述顶盘(2)上设有不少于一个的贯穿布置的放置腔(4)。2...

【专利技术属性】
技术研发人员：师文贝，杨列坤，王银之，王非，
申请(专利权)人：中国科学院地质与地球物理研究所，
类型：新型
国别省市：