一种用于气体质谱仪激光分析的装样装置制造方法及图纸

技术编号:37929662 阅读:27 留言:0更新日期:2023-06-21 22:58
本实用新型专利技术公开了一种用于气体质谱仪激光分析的装样装置,包括上下布置的顶盘和基座,所述顶盘和基座之间通过螺丝连接,所述顶盘周圈设有围挡,所述顶盘上设有不少于一个的贯穿布置的放置腔。本实用新型专利技术与现有技术相比的优点在于:采用分体式设计,方便清理,减少成本。本。本。

【技术实现步骤摘要】
一种用于气体质谱仪激光分析的装样装置


[0001]本技术涉及分析装样装置
,具体是指一种用于气体质谱仪激光分析的装样装置。

技术介绍

[0002]使用稀有气体同位素质谱仪激光分析样品中同位素或含量时,需要用到盛放分析样品岩石、矿物颗粒或粉末的装置,而现有的装样装置为一体式,当需要使用盖片时,为防止盖片滑动,盘边缘可适当突起,如说明书附图5所示,上述结构设置所导致的缺点较多。

技术实现思路

[0003]本技术要解决的技术问题是克服以上技术缺陷,提供一种用于气体质谱仪激光分析的装样装置,采用分体式设计,方便清理,减少成本。
[0004]为解决上述技术问题,本技术提供的技术方案为:一种用于气体质谱仪激光分析的装样装置,包括上下布置的顶盘和基座,所述顶盘和基座之间通过螺丝连接,所述顶盘周圈设有围挡,所述顶盘上设有不少于一个的贯穿布置的放置腔。
[0005]作为改进,所述基座上设有不少于一个的螺纹孔,所述顶盘上设有和螺纹孔配合的光孔,连接螺丝置于光孔内并和螺纹孔连接。
[0006]本技术与现有技术相比的优点在于:本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于气体质谱仪激光分析的装样装置,其特征在于:包括上下布置的顶盘(2)和基座(1),所述顶盘(2)和基座(1)之间通过螺丝连接,所述顶盘(2)周圈设有围挡(3),所述顶盘(2)上设有不少于一个的贯穿布置的放置腔(4)。2...

【专利技术属性】
技术研发人员:师文贝杨列坤王银之王非
申请(专利权)人:中国科学院地质与地球物理研究所
类型:新型
国别省市:

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