检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种能够更良好地抑制干扰的发生的检测装置。检测装置(1)具备：检测部(40)，具备第一电极(421，

【技术实现步骤摘要】
检测装置


[0001]本公开涉及一种检测装置。

技术介绍

[0002]已知有检测物体的接近的检测装置(例如专利文献1)。该检测装置设置有多个检测电极和配置于设置有该多个检测电极的检测区域的周围的屏蔽电极，对屏蔽电极赋予电信号。
[0003]现有技术文献
[0004]专利文献
[0005]专利文献1：美国专利第9151792号说明书

技术实现思路

[0006]专利技术所要解决的技术问题
[0007]在将如交流电流那样发挥功能的周期性变动电位赋予屏蔽电极的情况下，有时该周期性变动电位的频率与外部的周期性变动电位的频率发生干扰。
[0008]本公开就是鉴于上述课题而完成的，其目的在于提供一种能够更良好地抑制干扰的发生的检测装置。
[0009]用于解决技术问题的方案
[0010]本公开的一个方式的检测装置具备：检测部，具备在预定方向上排列的多个第一电极和在配置有所述多个第一电极的检测区域的周围配置的多个第二电极；检测电路，基于在所述第一电极产生的电变化来检测外部的物体相对于所述检测部的接近；电源电路，基于来自外部的电力供给来生成矩形波；以及滤波器部，经由隔离器与所述电源电路连接，并被输入经由所述隔离器传输的所述矩形波，所述滤波器部具有低通滤波器电路和数字电位器，基于来自所述滤波器部的输出的周期性变动电位被赋予为所述电源电路的基准电位而被赋予给所述第二电极，所述滤波器部的基准电位是固定电位，所述电源电路被设为能够变更所述矩形波的频率，所述滤波器部被设为能够根据所述数字电位器的电阻值来变更所述周期性变动电位的频率。
[0011]本公开的一个方式的检测装置具备：检测部，具备多个第一电极和在配置有所述多个第一电极的检测区域的周围配置的多个第二电极；检测电路，基于在所述第一电极产生的电变化来检测外部的物体相对于所述检测部的接近；电源电路，基于来自外部的电力供给来生成周期性变动电位；滤波器部，经由隔离器与所述电源电路连接，并被输入有经由所述隔离器传输的所述周期性变动电位；以及放大器，将从所述滤波器部输出的信号放大并作为所述第二电极以及所述检测部的基准电位而供给，所述周期性变动电位的频率以及所述滤波器部所截断的频率分量能够变更。
附图说明
[0012]图1是表示检测装置的主要结构的图。
[0013]图2是表示有源滤波器块的结构例的图。
[0014]图3是表示基于DP和LPF的信号波形的变化的示意图。
[0015]图4是表示参考例中的LPF的作用的示意图。
[0016]图5是示意性地表示正弦波的频率和与该频率相应的DP的电阻值之间的关系的图表。
[0017]图6是表示振幅不同的多个正弦波Wa1、Wa2、Wa3的波形的例子的图。
[0018]图7是表示在第二电极的电位高于第一电极的电位的情况下产生的电场中的电流动的示意图。
[0019]图8是表示在第二电极的电位低于第一电极的电位的情况下产生的电场中的电流动的示意图。
[0020]图9是表示从第一电极各自获得的检测信号强度的例子的示意性图表。
[0021]图10是表示检测装置的功能结构例的框图。
[0022]图11是表示安装有检测装置的悬停&触摸面板显示器的层叠构造例的示意图。
[0023]图12是表示与检测装置的动作相关的处理流程的一个例子的流程图。
[0024]图13是表示能够跳频的检测装置的动作流程的一个例子的时序图。
[0025]图14是表示基于变形例的LPF的结构的图。
[0026]图15是表示检测部40和显示面板250重叠的结构例的示意图。
[0027]图16是表示检测部40和显示面板250重叠的另一结构例的示意图。
[0028]附图标记说明
[0029]1：检测装置；15：AFE；16：第二隔离器；20：有源滤波器块；22：数字电位器；22A、22B、22C、22D：DP；23：LPF；24：AMP；40：检测部；60：MCU；411、412：第二电极；42、421、422、423、42n：第一电极；GND1：第一基准电位；GND2：第二基准电位。
具体实施方式
[0030]以下，参照附图对本公开的各实施方式进行说明。此外，公开只不过是一个例子，对于本领域技术人员而言容易想到的保持专利技术的主旨的适当变更当然包含于本公开的范围内。另外，附图为了使说明更明确，与实际的方式相比，存在有示意性地表示各部分的宽度、厚度、形状等的情况，但是只不过是一个例子，并不限定本公开的解释。另外，在本说明书和各图中，对于与已出现的图中所述的要素相同的要素，标注相同的附图标记，有时适当省略详细的说明。
[0031]图1是表示检测装置1的主要结构的图。检测装置1具备主体部10、有源滤波器块20以及MCU(Micro Controller Unit：微控制器单元)60。检测装置1是检测物体的接近的检测装置。以下，在记载为悬停检测的情况下，是指由检测装置1进行的物体的接近检测。
[0032]主体部10具备第一隔离器11、DC
‑
DC转换器12、LDO(Low Drop Out：低压差线性稳定器)13，14、AFE(Analog Front End：模拟前端)15、第二隔离器16、检测部(传感器部)40以及第三隔离器50。
[0033]第一隔离器11进行电源EP与主体部10的绝缘、以及与来自电源EP的电力供给相应
的朝向主体部10内的电力供给。具体而言，第一隔离器11例如具有线圈11o，11i。通过从电源EP朝向线圈11o供给电力，线圈11o产生磁场。线圈11i设置于线圈11o所产生的磁场的影响范围内。线圈11i根据线圈11o产生磁场而产生感应电动势。由线圈11o产生的电力被朝向DC
‑
DC转换器12供给。
[0034]DC
‑
DC转换器12对从线圈11i供给的直流的电压进行转换。LDO13，14是介于DC
‑
DC转换器12与AFE15之间，将朝向AFE15的输出电压调整为更恰当的电压的线性调节器。AFE15是包括与主体部10所发挥的各种功能相关的多个模拟电路在内的集成电路。LDO13的输出电压与被要求为AFE15的模拟电源(AVDD)的电压相对应。LDO14的输出电压与被要求为AFE15的输入输出电源(IOVDD)的电压相对应。
[0035]AFE15是根据来自电源EP的电力供给而动作的电路。AFE15输出在电位的变动模式中具有周期性的周期性变动电位。实施方式中的AFE15输出矩形波Tx来作为周期性变动电位。矩形波Tx经由第二隔离器16传输而朝向有源滤波器块20输出。第二隔离器16使有源滤波器块20与主体部10绝缘，基于从AFE15输出并朝向第二隔离器16输入的矩形波Tx，生成实质上同样的矩形波，并将所生成的矩形波朝向有源滤波器块20的反相电路21输出。具体而言，第二隔离本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测装置，具备：检测部，具备在预定方向上排列的多个第一电极和在配置有所述多个第一电极的检测区域的周围配置的多个第二电极；检测电路，基于在所述第一电极产生的电变化来检测外部的物体相对于所述检测部的接近；电源电路，基于来自外部的电力供给来生成矩形波；以及滤波器部，经由隔离器与所述电源电路连接，并被输入有经由所述隔离器传输的所述矩形波，所述滤波器部具有低通滤波器电路和数字电位器，基于来自所述滤波器部的输出的周期性变动电位被赋予为所述电源电路的基准电位并且被赋予给所述多个第二电极，所述滤波器部的基准电位是固定电位，所述电源电路被设为能够变更所生成的矩形波的频率，所述滤波器部被设为能够根据所述数字电位器的电阻值来变更所述周期性变动电位的频率。2.根据权利要求1所述的检测装置，其中，所述滤波器部具备放大电路，该放大电路放大所述周期性变动电位并赋予给所述电源电路以及所述第二电极。3.根据权利要求1或2所述的检测装置，其中所述周期性变动电位是所述滤波器部基于所述矩形波而生成的正弦波。4.根据权利要求1至3中任一项所述的检测装置...

【专利技术属性】
技术研发人员：山口浩司，
申请(专利权)人：株式会社日本显示器，
类型：发明
国别省市：