一种LED芯片稳态性能自动测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及半导体技术领域，尤其涉及一种LED芯片稳态性能自动测试装置，包括光学平板、积分球、加热器、灯珠支架和LED芯片；所述积分球沿一轴线滑动设置在光学平板上；所述加热器设置在光学平板上，所述灯珠支架设置在加热器上，两个以上所述LED芯片沿平行于所述轴线的方向间隔设置在灯珠支架上。本实用新型专利技术提供的LED芯片稳态性能自动测试装置具有结构简单、易于实施，具有测试效率快、精度高的优点。精度高的优点。精度高的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种LED芯片稳态性能自动测试装置


[0001]本技术涉及半导体
，尤其涉及一种LED芯片稳态性能自动测试装置。

技术介绍

[0002]LED即发光二极管，是一种将电能转化为光能的固态半导体器件。作为新型的发光器件，LED具有高光效、节能、使用寿命长、响应时间短、环保等优点，因此被称为最有潜力的新一代光源，在照明领域应用极为常见。对于应用领域高的LED芯片，如车灯LED芯片，则要求在高温下的亮度衰减与常温相比不能超过25％，所以评估LED芯片高温下的稳态性能变得尤为重要，现有的评估测试装置比如申请号为CN202011571436.8、名称为一种LED产品高温老化测试装置的中国技术专利。诸如此类的LED产品高温老化测试装置在实际应用中仍存在测试效率慢、精度高的缺点。

技术实现思路

[0003]为了克服上述现有技术的缺陷，本技术所要解决的技术问题是提供一种测试效率快、精度高LED芯片稳态性能自动测试装置。
[0004]为了解决上述技术问题，本技术采用的技术方案为：一种LED芯片稳态性能自动测试装置，包括光学平板、积分球、加热器、灯珠支架和LED芯片；
[0005]所述积分球沿一轴线滑动设置在光学平板上；
[0006]所述加热器设置在光学平板上，所述灯珠支架设置在加热器上，两个以上所述LED芯片沿平行于所述轴线的方向间隔设置在灯珠支架上。
[0007]进一步地，还包括电动位移组件，所述电动位移组件设置在光学平板上，所述电动位移组件用以控制积分球沿一轴线滑动。
[0008]进一步地，所述电动位移组件包括底座、电机、螺杆和滑块，所述底座设置在光学平板上，所述电机设置在底座上，所述电机与螺杆连接，所述螺杆与底座转动连接，所述螺杆与滑块螺纹配合，所述滑块与底座滑动连接，所述积分球设置在滑块上。
[0009]进一步地，还包括散热座和散热台，所述光学平板上阵列有安装孔，所述散热座与安装孔锁接，所述散热台设置在散热座上，所述加热器设置在散热台上。
[0010]进一步地，还包括导热铜片，所述导热铜片设置在加热器和灯珠支架之间。
[0011]进一步地，所述导热铜片上设有热电偶放置孔以及贯通至热电偶放置孔的热电偶固定孔。
[0012]进一步地，所述导热铜片分别与加热器和灯珠支架锁接。
[0013]进一步地，还包括灯珠固定夹具，所述灯珠固定夹具设置在导热铜片上，所述灯珠固定夹具用以夹持灯珠支架。
[0014]进一步地，所述灯珠支架上设有电极引脚。
[0015]本技术的有益效果在于：提供一种LED芯片稳态性能自动测试装置，积分球可滑动的安装在光学平板上的一侧，用来接收LED芯片发出来的光强。LED芯片用锡膏封装在
灯珠支架上，灯珠支架固定在光学平板上的另一侧，在室温下，积分球在滑动过程中从第一颗到LED芯片到最后一颗分别测试其光强记录，然后将加热器设定至预设实验温度稳定5min后，再分别从第一颗测试到最后一颗的光强分别记录，将每颗高温下的光强除室温下光强即是LED高温稳态性能。本技术提供的LED芯片稳态性能自动测试装置具有结构简单、易于实施，具有测试效率快、精度高的优点。
附图说明
[0016]图1所示为本技术实施例的LED芯片稳态性能自动测试装置的结构示意图；
[0017]图2所示为本技术实施例的LED芯片稳态性能自动测试装置的局部示意图；
[0018]图3所示为本技术实施例的LED芯片稳态性能自动测试装置的另一局部示意图；
[0019]标号说明：
[0020]1、光学平板；11、安装孔；2、积分球；3、加热器；4、灯珠支架；41、电极引脚；5、LED芯片；6、电动位移组件；7、散热座；8、散热台；9、导热铜片；91、热电偶放置孔；92、热电偶固定孔；10、灯珠固定夹具。
具体实施方式
[0021]为详细说明本技术的
技术实现思路
、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。
[0022]本技术提供一种LED芯片稳态性能自动测试装置，用于评估LED芯片高温下的稳态性能。
[0023]请参照图1至图3所示，本技术的一种LED芯片5稳态性能自动测试装置，包括光学平板1、积分球2、加热器3、灯珠支架4和LED芯片5；
[0024]所述积分球2沿一轴线滑动设置在光学平板1上；
[0025]所述加热器3设置在光学平板1上，所述灯珠支架4设置在加热器3上，两个以上所述LED芯片5沿平行于所述轴线的方向间隔设置在灯珠支架4上。
[0026]从上述描述可知，本技术的有益效果在于：提供一种LED芯片5稳态性能自动测试装置，积分球2可滑动的安装在光学平板1上的一侧，用来接收LED芯片5发出来的光强。LED芯片5用锡膏封装在灯珠支架4上，灯珠支架4固定在光学平板1上的另一侧，在室温下，积分球2在滑动过程中从第一颗到LED芯片5到最后一颗分别测试其光强记录，然后将加热器3设定至预设实验温度稳定5min后，再分别从第一颗测试到最后一颗的光强分别记录，将每颗高温下的光强除室温下光强即是LED高温稳态性能。本技术提供的LED芯片5稳态性能自动测试装置具有结构简单、易于实施，具有测试效率快、精度高的优点。
[0027]在可选实施例中，还包括电动位移组件6，所述电动位移组件6设置在光学平板1上，所述电动位移组件6用以控制积分球2沿一轴线滑动。
[0028]从上述描述可知，电动位移组件6用以控制积分球2沿一轴线滑动，从而对多颗LED芯片5分别测试其光强记录。
[0029]在可选实施例中，所述电动位移组件6包括底座、电机、螺杆和滑块，所述底座设置在光学平板1上，所述电机设置在底座上，所述电机与螺杆连接，所述螺杆与底座转动连接，
所述螺杆与滑块螺纹配合，所述滑块与底座滑动连接，所述积分球2设置在滑块上。
[0030]从上述描述可知，底座起到支撑的作用，电机驱动螺杆转动从而控制滑块在底座上滑移。
[0031]在可选实施例中，还包括散热座7和散热台8，所述光学平板1上阵列有安装孔11，所述散热座7与安装孔11锁接，所述散热台8设置在散热座7上，所述加热器3设置在散热台8上。
[0032]从上述描述可知，加热器3下方有铜材料制作的散热台8，是将加热器3下方的热量散开。散热台8底部有螺丝孔与底座连接安装在光学平板1上，底部的散热装置用铝来制作能节省成本。
[0033]在可选实施例中，还包括导热铜片9，所述导热铜片9设置在加热器3和灯珠支架4之间。
[0034]从上述描述可知，灯珠夹具上有导热铜片9，将加热器3的热量传送给灯珠夹具后再传至LED芯片5上。
[0035]在可选实施例中，所述导热铜片9上设有热电偶放置孔91以及贯通至热电偶放置孔91的热电偶固定孔92。
[0036]从上述描述可知，导热铜片9上安装有热电偶来控制加热器3的温度。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种LED芯片稳态性能自动测试装置，其特征在于，包括光学平板、积分球、加热器、灯珠支架和LED芯片；所述积分球沿一轴线滑动设置在光学平板上；所述加热器设置在光学平板上，所述灯珠支架设置在加热器上，两个以上所述LED芯片沿平行于所述轴线的方向间隔设置在灯珠支架上。2.根据权利要求1所述的LED芯片稳态性能自动测试装置，其特征在于，还包括电动位移组件，所述电动位移组件设置在光学平板上，所述电动位移组件用以控制积分球沿一轴线滑动。3.根据权利要求2所述的LED芯片稳态性能自动测试装置，其特征在于，所述电动位移组件包括底座、电机、螺杆和滑块，所述底座设置在光学平板上，所述电机设置在底座上，所述电机与螺杆连接，所述螺杆与底座转动连接，所述螺杆与滑块螺纹配合，所述滑块与底座滑动连接，所述积分球设置在滑块上。4.根据权利要求1所述的LED芯片稳态性能自动测试装置，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄章挺，郑高林，黄自培，张峰，
申请(专利权)人：福建兆元光电有限公司，
类型：新型
国别省市：