【技术实现步骤摘要】
一种晶圆测试用打点装置
[0001]本技术涉及打点装置
,尤其涉及一种晶圆测试用打点装置。
技术介绍
[0002]晶圆指制造半导体晶体管或集成电路的衬底(也叫基片)。由于是晶体材料,其形状为圆形,所以称为晶圆。衬底材料有硅、锗、GaAs、InP、GaN等。由于硅最为常用,如果没有特别指明晶体材料,通常指硅晶圆。在硅晶片上可加工制作成各种电路元件结构,而成为有特定电性功能的集成电路产品。晶圆的原始材料是硅,而地壳表面有用之不竭的二氧化硅。二氧化硅矿石经由电弧炉提炼,盐酸氯化,并经蒸馏后,制成了高纯度的多晶硅,晶圆在测试完成后需要进行打点标记不良芯片,以便后续工序的正常进行。、
[0003]经检索,公告号为:CN211858593U公开了一种晶圆测试用打点装置,包括机箱,所述机箱内壁的右侧固定连接有电机,所述机箱的顶部固定连接有打点装置本体,所述电机的输出端固定连接有转动杆,所述转动杆的左侧固定连接有第一斜齿轮,所述第一斜齿轮的底部设置有第二斜齿轮,所述第二斜齿轮的内部固定连接有传动柱,所述第一斜齿轮与第二斜齿轮啮 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种晶圆测试用打点装置,其特征在于,包括:底座(1),所述底座(1)的顶部固定连接有固定架(2),所述固定架(2)的顶部内壁上设有打点装置主体(3),所述底座(1)的底部固定连接有固定箱(4),所述固定箱(4)的顶部内壁上固定连接有驱动电机(16),所述驱动电机(16)的输出轴延伸至底座(1)的顶部上方并固定连接有连接箱(5);固定组件,固定组件设置在连接箱(5)上用于对晶圆进行固定;上料机构,上料机构设置在底座(1)的一侧用于对晶圆进行上料;收集组件,收集组件设置在底座(1)上用于对打点后的晶圆进行收集。2.根据权利要求1所述的一种晶圆测试用打点装置,其特征在于,所述固定组件包括抽风机(6)、吸盘(7)和转动盘(8),所述抽风机(6)固定在连接箱(5)内,所述抽风机(6)的输入端与吸盘(7)的底部密封固定连接,所述吸盘(7)的顶部与转动盘(8)的密封固定连接,所述转动盘(8)为中空结构,所述转动盘(8)上开设有多个吸孔,所述连接箱(5)的底部四角位置上设有滚轮,滚轮与底座(1)的顶部滚动连接。3.根据权利要求1所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:赵天缘,
申请(专利权)人:无锡畅景科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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