本实用新型专利技术提供了一种绝缘电线粒子检测系统的校核装置，该绝缘电线粒子检测系统的校核装置包括安装座、支撑架和标准杆；支撑架的一端与安装座滑动连接，另一端与标准杆连接；标准杆沿支撑架的滑动方向延伸，标准杆包括凸起部和均匀部。该装置通过标准杆模拟绝缘电线，通过标准杆的凸起部模拟绝缘电线表面的粒子，通过支撑架带动标准杆沿安装座滑动能够模拟绝缘电线的运动，进而能够基于绝缘电线粒子检测系统的检测结果和标准杆的实际尺寸对绝缘电线粒子检测系统进行校核。缘电线粒子检测系统进行校核。缘电线粒子检测系统进行校核。
【技术实现步骤摘要】
一种绝缘电线粒子检测系统的校核装置
[0001]本技术涉及导线
，特别涉及一种绝缘电线粒子检测系统的校核装置。
技术介绍
[0002]绝缘电线粒子检测设备在绝缘电线的连续生产过程中，主要用来检测绝缘电线表面是否存在粒子。现有的激光粒子检测设备的检测原理为，将激光分为垂直方向和水平方向分别投影到绝缘导线上，在另一侧设置有激光接收器，被绝缘电线遮挡的部分，将无法接收到激光，因此会形成阴影区域。提取出阴影区域的边界，即为绝缘电线的截面形状。通过测量得到的截面形状与预先设定的截面形状进行对比，即可判定截面上是否存在粒子，以及粒子的大小。
[0003]但是绝缘电线粒子检测设备使用一段时间后，可能会出现功能异常、检测精度下降、因为不同规格的绝缘导线导致最佳激光投影位置需要调整，调整后需要判断检测设备的测量范围和测量精度等情况。目前对于在线粒子检测设备的检测精度，以及如何判断在线粒子检测设备是否处于正常的工作状况或者最佳测量位置等，并没有外部的校核装置。因此，无法对绝缘电线粒子检测设备进行校核和调整。
技术实现思路
[0004](一)技术目的
[0005]本技术的目的是提供一种绝缘电线粒子检测系统的校核装置，用于对绝缘电线粒子检测系统进行校核和调整。
[0006](二)技术方案
[0007]为解决上述问题，本技术实施例的第一方面提供了一种绝缘电线粒子检测系统的校核装置，包括安装座、支撑架和标准杆；
[0008]所述支撑架的一端与所述安装座滑动连接，另一端与所述标准杆连接；<br/>[0009]所述标准杆沿所述支撑架的滑动方向延伸，所述标准杆包括凸起部和均匀部。
[0010]在一些实施例中，所述凸起部凸出的高度大于或等于30um且小于或等于45um。
[0011]在一些实施例中，所述标准杆的表面粗糙度大于或等于RA0.8。
[0012]在一些实施例中，所述安装座包括安装底板、滚珠丝杠和滑动块；
[0013]所述滚珠丝杠的两端分别通过第一安装侧板和第二安装侧板支撑在所述安装底板上；
[0014]所述滑动块套设在所述滚珠丝杠上；
[0015]所述支撑架与所述滑动块连接。
[0016]在一些实施例中，所述滑动块内设有与所述滚珠丝杠对接的滚珠。
[0017]在一些实施例中，所述安装座还包括导杆；
[0018]所述导杆的两端分别与所述第一安装侧板和所述第二安装侧板连接；
[0019]所述导杆与所述滚珠丝杠平行设置；
[0020]所述滑动块与所述导杆滑动连接。
[0021]在一些实施例中，所述安装座还包括限位板；
[0022]所述限位板设置在所述第一安装侧板和所述第二安装侧板之间的安装底板上；
[0023]所述限位板上设有第一通孔和第二通孔；
[0024]所述滚珠丝杠通过所述第一通孔贯穿所述限位板；
[0025]所述导杆通过所述第二通孔贯穿所述限位板。
[0026]在一些实施例中，所述支撑架上设有U型孔；
[0027]所述支撑架通过穿过所述U型孔的螺栓与所述滑动块连接；
[0028]所述U型孔的延伸方向与所述滚珠丝杆垂直。
[0029]在一些实施例中，还包括驱动机构；
[0030]所述驱动机构用于驱动所述支撑架沿所述安装座滑动。
[0031]在一些实施例中，所述驱动机构为步进电机。
[0032](三)有益效果
[0033]本技术的上述技术方案具有如下有益的技术效果：
[0034]本技术提供的一种绝缘电线粒子检测系统的校核装置通过标准杆模拟绝缘电线，通过标准杆的凸起部模拟绝缘电线表面的粒子，通过支撑架带动标准杆沿安装座滑动能够模拟绝缘电线的运动，进而能够基于绝缘电线粒子检测系统的检测结果和标准杆的实际尺寸对绝缘电线粒子检测系统进行校核。
附图说明
[0035]图1是本技术实施例提供的一种绝缘电线粒子检测系统的校核装置的结构示意图。
[0036]附图标记：
[0037]安装座，1；安装底板，11；第一安装侧板，12；第二安装侧板，13；滚珠丝杠，14；滑动块，15；导杆，16；限位板，17；安装孔，18；
[0038]支撑架，2；U型孔，21；
[0039]标准杆，3；凸起部，31；均匀部，32；
[0040]步进电机，4。
具体实施方式
[0041]为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚明了，下面结合具体实施方式并参照附图，对本技术进一步详细说明。应该理解，这些描述只是示例性的，而并非要限制本技术的范围。此外，在以下说明中，省略了对公知结构和技术的描述，以避免不必要地混淆本技术的概念。
[0042]在附图中示出了根据本技术实施例的结构示意图。这些图并非是按比例绘制的，其中为了清楚的目的可能省略了某些细节。图中所示出的各种形状以及它们之间的相对大小、位置关系仅是示例性的，实际中可能由于制造公差或技术限制而有所偏差，并且本领域技术人员根据实际所需可以另外设计具有不同形状、大小和相对位置。
[0043]显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0044]此外，下面所描述的本技术不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。以下将参照附图更详细地描述本技术。在各个附图中，相同的元件采用类似的附图标记来表示。为了清楚起见，附图中的各个部分没有按比例绘制。
[0045]图1是本技术实施例提供的一种绝缘电线粒子检测系统的校核装置的结构示意图。如图1所示，该绝缘电线粒子检测系统的校核装置包括安装座1、支撑架2和标准杆3；支撑架2的一端与安装座1滑动连接，另一端与标准杆3连接。支撑架2上设有U型孔21；支撑架2通过穿过U型孔21的螺栓与滑动块15连接；U型孔21的延伸方向与滚珠丝杆垂直。标准杆3沿支撑架2的滑动方向延伸，标准杆3包括凸起部31和均匀部32。本实施例中，突出部为圆环状凸起，突出部的长度可以大于或等于均匀部32的五分之一且小于或等于均匀部32的二分之一。标准杆3用于模拟绝缘电线，均匀部32用于模拟正常的绝缘导线的截面，凸起部31用于模拟存在粒子的绝缘导线截面。凸起部31凸出的高度大于或等于30um且小于或等于45um。标准杆3的表面光滑。标准杆3的表面粗糙度大于或等于RA0.8，突出部单边高度可以为40um。
[0046]本实施例中，安装座1包括安装底板11、滚珠丝杠14和滑动块15；滚珠丝杠14的两端分别通过第一安装侧板12和第二安装侧板13支撑在安装底板11上；滑动块15套设在滚珠丝杠14上；支撑架2与滑动块15连接。滑动块15内设有与滚珠丝杠14对接的滚珠。
[0047本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种绝缘电线粒子检测系统的校核装置，其特征在于，包括安装座、支撑架和标准杆；所述支撑架的一端与所述安装座滑动连接，另一端与所述标准杆连接；所述标准杆沿所述支撑架的滑动方向延伸，所述标准杆包括凸起部和均匀部。2.根据权利要求1所述的一种绝缘电线粒子检测系统的校核装置，其特征在于，所述凸起部凸出的高度大于或等于30um且小于或等于45um。3.根据权利要求1所述的一种绝缘电线粒子检测系统的校核装置，其特征在于，所述标准杆的表面粗糙度大于或等于RA0.8。4.根据权利要求1所述的一种绝缘电线粒子检测系统的校核装置，其特征在于，所述安装座包括安装底板、滚珠丝杠和滑动块；所述滚珠丝杠的两端分别通过第一安装侧板和第二安装侧板支撑在所述安装底板上；所述滑动块套设在所述滚珠丝杠上；所述支撑架与所述滑动块连接。5.根据权利要求4所述的一种绝缘电线粒子检测系统的校核装置，其特征在于，所述滑动块内设有与所述滚珠丝杠对接的滚珠。6.根据权利要求4所述的一种绝缘电线粒子检测系统的校核装置...
【专利技术属性】
技术研发人员：赖正祥，朱祚茂，
申请(专利权)人：佳腾电业赣州股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。