一种测试环境检测方法、装置、电子设备和存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种测试环境检测方法、装置、电子设备和存储介质，该方法包括：获取至少一个测试环境检测参数和测试用例；根据所述至少一个测试环境检测参数检测所述电子设备的测试环境是否满足进行性能测试的预设要求；若所述电子设备的测试环境满足进行性能测试的预设要求，则在所述电子设备中执行所述测试用例，以进行性能测试得到性能测试结果，进而提高了性能测试结果的精准性。高了性能测试结果的精准性。高了性能测试结果的精准性。

【技术实现步骤摘要】
一种测试环境检测方法、装置、电子设备和存储介质


[0001]本申请涉及计算机
，尤其涉及一种测试环境检测方法、装置、电子设备和存储介质。

技术介绍

[0002]当前所有基于神经网络的深度学习都需要算力极强的算力平台，如机器学习处理器(machine learning unit，MLU)、图形处理器(graphics processing unit，GPU)等。随着各种硬件百花齐放，评价一款硬件性能指标所做的准备工作就非常有必要，用户想快速测试同一个神经网络在不同硬件上的性能，需要保证测试代码及网络参数一致。
[0003]一般来说，在进行性能测试时往往直接在MLU、GPU等硬件上运行神经网络的测试代码，以获得性能测试结果。但是这样获得的性能测试结果可能存在不够精准的问题。因此，如何提高性能测试结果的精准性成为当前阶段亟待解决的技术问题。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供了一种测试环境检测方法、装置、电子设备和存储介质，提高了性能测试结果的精准性。
[0005]本申请第一方面提供了一种测试环境检测方法，所述方法应用于电子设备，所述方法包括：
[0006]获取至少一个测试环境检测参数和测试用例；
[0007]根据所述至少一个测试环境检测参数检测所述电子设备的测试环境是否满足进行性能测试的预设要求；
[0008]若所述电子设备的测试环境满足进行性能测试的预设要求，则在所述电子设备中执行所述测试用例，以进行性能测试得到性能测试结果。
[0009]本申请第二方面提供了一种测试环境检测装置，所述测试环境检测装置包括获取模块和处理模块，
[0010]所述获取模块，用于获取至少一个测试环境检测参数和测试用例；
[0011]所述处理模块，用于根据所述至少一个测试环境检测参数检测所述电子设备的测试环境是否满足进行性能测试的预设要求；
[0012]所述处理模块，还用于若所述电子设备的测试环境满足进行性能测试的预设要求，则在所述电子设备中执行所述测试用例，以进行性能测试得到性能测试结果。
[0013]本申请第三方面提供了一种测试环境检测的电子设备，包括处理器、存储器、通信接口以及一个或多个程序，其中，所述一个或多个程序被存储在所述存储器中，并且被生成由所述处理器执行，以执行一种测试环境检测方法任一项方法中的步骤的指令。
[0014]本申请第四方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质用于存储计算机程序，所述存储计算机程序被所述处理器执行，以实现一种测试环境检测方法任一项所述的方法。
[0015]可以看出，上述技术方案中，通过至少一个测试环境检测参数和测试用例，从而可以至少一个测试环境检测参数检测电子设备的测试环境是否满足进行性能测试的预设要求，进而可以在电子设备的测试环境满足进行性能测试的预设要求时，在电子设备中运行测试用例，以进行性能测试得到性能测试结果，避免了在电子设备的测试环境未满足进行性能测试的预设要求时执行测试用例导致的性能测试结果不准确的问题。换句话来说，通过在执行测试用例之前提前检测电子设备的测试环境是否满足进行性能测试的预设要求，避免了电子设备的测试环境对性能测试结果的影响，从而提高了性能测试的精准性。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0017]其中：
[0018]图1是本申请实施例提供的一种电子设备的示意图；
[0019]图2是本申请实施例提供的一种测试环境检测方法的流程示意图；
[0020]图3是本申请实施例提供的又一种测试环境检测方法的流程示意图；
[0021]图4为本申请实施例提供的一种测试环境检测装置的示意图；
[0022]图5为本申请的实施例涉及的硬件运行环境的电子设备结构示意图。
具体实施方式
[0023]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0024]以下分别进行详细说明。
[0025]本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0026]首先，参见图1，图1是本申请实施例提供的一种电子设备的示意图。如图1所示，该电子设备包括至少一个处理器101，通信线路101，存储器103以及至少一个通信接口104。
[0027]处理器101可以是一个通用中央处理器(central processing unit，CPU)，微处理器，特定应用集成电路(application
‑
specific integrated circuit，ASIC)，或一个或多个用于控制本申请方案程序执行的集成电路。
[0028]通信线路101可包括一通路，在上述组件之间传送信息。
[0029]通信接口104，是任何收发器一类的装置(如天线等)，用于与其他设备或通信网络通信，如以太网，RAN，无线局域网(wireless local area networks，WLAN)等。
[0030]存储器103可以是只读存储器(read
‑
only memory，ROM)或可存储静态信息和指令的其他类型的静态存储设备，随机存取存储器(random access memory，RAM)或者可存储信息和指令的其他类型的动态存储设备，也可以是电可擦可编程只读存储器(electrically erasable programmable read
‑
only memory，EEPROM)、只读光盘(compact disc read
‑
only memory，CD
‑
ROM)或其他光盘存储、光碟存储(包括压缩光碟、激光碟、光碟、数字通用光碟、蓝光光碟等)、磁盘存储介质或者其他磁存储设备、或者能够用于携带或存储具有指令或数据结构形式的期望的程序代码并能够由计算机存取的任何其他介质，但不限于此。存储器可以是独立存在，通过通信线路101与处理器相连接。存储器也可以和处理器集成在一起。本申请实施例提供的存储器通常可以具有非易失性。其中，存储器103用于存储执本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试环境检测方法，其特征在于，所述方法应用于电子设备，所述方法包括：获取至少一个测试环境检测参数和测试用例；根据所述至少一个测试环境检测参数检测所述电子设备的测试环境是否满足进行性能测试的预设要求；若所述电子设备的测试环境满足进行性能测试的预设要求，则在所述电子设备中执行所述测试用例，以进行性能测试得到性能测试结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一个测试环境检测参数包含在测试环境检测脚本文件中，所述根据所述至少一个测试环境检测参数检测所述电子设备的测试环境是否满足进行性能测试的预设要求，包括：运行所述测试环境检测脚本文件，以根据所述至少一个测试环境检测参数检测所述电子设备的测试环境是否满足进行性能测试的预设要求。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述至少一个测试环境检测参数包括第一测试环境检测参数，所述方法还包括：基于所述第一测试环境检测参数，检测所述电子设备中不同板卡之间的通信链路是否存在故障；若是，则输出故障的通信链路所对应的板卡的标识；若否，则确定所述电子设备的测试环境满足进行性能测试的预设要求。4.根据权利要求1
‑
3任意一项所述的方法，其特征在于，所述至少一个测试环境检测参数还包括第二测试环境检测参数，所述方法还包括：基于所述第二测试环境检测参数，检测是否开启所述任务加速服务；若是，则确定所述电子设备的测试环境满足进行性能测试的预设要求；若否，则获取测试环境配置文件；所述测试环境配置文件包括第一测试环境配置参数，所述第一测试环境配置参数用于开启所述任务加速服务；运行所述测试环境配置文件，以按照所述第一测试环境配置参数进行测试环境配置。5.根据权利要求1
‑
4任意一项所述的方法，其特征在于，所述至少一个测试环境检测参数还包括第三测试环境检测参数，所述方法还包括：基于所述第三测试环境检测参数，检测是否开启所述中断均衡服务；若是，则确定所述电子设备的测试环境满足进行性能测试的预设要求；若否，则运行测试环境配置文件，以按照所述测试环境配置文件中的第二测试环境配置参数进行测试环境配置；所述第二测试环境配置参数用于开启所述中断均衡服务。6.根据权利要求1
‑
5任意一项所述的方法，其特征在于，所述至少一个测试环境检测参数还包括第四测试环境检测参数，所述方法还包括：基于所述第四测试环境检测参数，检测是否开启所述高性能模式；若是，则确定所述电子设备的测试环境满足进行性能测试的预设要求；若否，则运行所述测试环境配置文件，以按照所述测试环境配置文件中的第三测试环境配置参数进行测试环境配置；所述第三测...

【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，
申请(专利权)人：上海寒武纪信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：