一种基于点云切片的截面提取及测量方法及系统技术方案

本发明专利技术涉及一种基于点云切片的截面提取及测量方法及系统，包括以下步骤：获取零件模型对应的第一点云集；根据第一点云集，确定基准面；根据基准面，确定垂直切面；根据垂直切面和第一点云集，确定第一点云集中的目标点云数据，并根据各个目标点云数据，确定第二点云集；根据第二点云集，确定零件模型的截面轮廓。解决了点云数据的数据量庞大，无法直接从三维建模的点云数据中获取零件轮廓的空间数据的问题。题。题。

【技术实现步骤摘要】
一种基于点云切片的截面提取及测量方法及系统


[0001]本专利技术涉及二维测量
，尤其涉及一种基于点云切片的截面提取及测量方法及系统。

技术介绍

[0002]随着工业的迅速发展，高性能零件作为高端工业设备的关键，其生产、装配和测量等代表了一个公司乃至国家的科技发展水平，而测量及其数据分析作为高端工业设备的重中之重，是衡量一个产品是否合格的重要指标。目前的高性能零件由于其尺寸和形状等具有复杂性，因此现有的几何参数模型和测量模式的过理想化；并且在零件的加工生产过程中存在不确定性因素以及不可避免的形变影响，导致最终得到的产品的几何参数性能指标与预期不符，甚至严重影响后续产品的开发，因此给复杂的高性能零件的生产和装配带了巨大的困扰。
[0003]目前存在的三维扫描技术，可以对物体表面进行重建并采集点云数据，但是点云数据的数据量庞大，无法直接从三维建模的点云数据中获取零件轮廓的空间数据。

技术实现思路

[0004]为了克服点云数据的数据量庞大，无法直接从三维建模的点云数据中获取零件轮廓的空间数据的问题，本专利技术提供了一种基本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于点云切片的截面提取及测量方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：获取零件模型对应的第一点云集，所述第一点云集为零件模型通过三维重建后得到的各个点云数据的集合；根据第一点云集，确定基准面，所述基准面为所述第一点云集中位于同一平面的点云数据形成的平面；根据所述基准面，确定垂直切面，所述垂直切面为与所述基准面垂直的平面；根据所述垂直切面和所述第一点云集，确定所述第一点云集中的目标点云数据，并根据所述目标点云数据，确定第二点云集，所述目标点云数据为所述第一点云集中到所述垂直切面的距离在预设范围内的点云数据；根据所述第二点云集，确定所述零件模型的截面轮廓。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：根据所述基准面，获取所述基准面上的一条直线和所述基准面对应的第一法向量；根据所述直线，确定所述直线对应的方向向量和所述直线上的一点；根据所述第一法向量和所述方向向量，确定所述垂直切面对应的第二法向量；所述根据所述基准面，确定垂直切面，包括：根据所述点和所述第二法向量，确定垂直切面。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一法向量和所述方向向量，确定所述垂直切面对应的第二法向量，包括：根据所述第一法向量和所述方向向量，通过第一公式，确定所述垂直切面对应的第二法向量，其中，所述第一公式为：N
Π
＝N
Γ
×
N
l
＝(n
y
*l
‑
n
z
*n,n
z
*m
‑
n
x
*l,n
x
*n
‑
n
y
*m)＝(n.x,n.y,n.z)；其中，N
П
表示第二法向量N
П
＝(n.x，n.y，n.z)，N
Γ
表示第一法向量，且N
Γ
＝(n
x
，n
y
，n
z
)，N
l
表示方向向量，且N
l
＝(m，m，l)。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述点和所述第二法向量，确定垂直切面，包括：根据所述点和所述第二法向量，通过第二公式，确定垂直切面，其中，第二公式为：n.x(x
‑
x
l
)+n.y(y
‑
y
l
)+n.z(z
‑
z
l
)＝0；其中，第二公式表示垂直切面，(x
l
，y
l
，z
l
)表示点，N
Π
＝(n.x，n.y，n.z)表示第二法向量。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述垂直切面和所述第一点云集，确定所述第一点云集中的目标点云数据，并根据各个所述目标点云数据，确定第二点云集，包括：根据所述垂直切面和所述第一点云集，通过第三公式，确定所述第一点云集中的目标点云数据，其中，所述第三公式为：
其中，a、b、c、d表示垂直切面的平面参数，(x
i
...

【专利技术属性】
技术研发人员：伍荣誉，冯云，唐雪辉，唐锋，
申请(专利权)人：桂林量具刃具有限责任公司，
类型：发明
国别省市：