电子元件测试座制造技术

本实用新型专利技术涉及电子器件测试领域，特别是涉及一种电子元件测试座。一种电子元件测试座，包括座体，座体内具有测试腔及安装台，安装台位于测试腔的一端，测试腔远离安装台的一端贯穿座体的端面以形成第一开口，电子元件自第一开口进入测试腔并安装至安装台上；电子元件测试座还包括位于测试腔内的锁扣，锁扣与座体转动连接并具有锁定位置及解锁位置，当锁扣处于锁定位置时，锁扣抵接于电子元件以将电子元件锁定于安装台上，锁扣能够旋转至解锁位置以解除对于电子元件的锁定。本实用新型专利技术通过设置锁扣以锁定电子元件，以防止电子元件跌落。以防止电子元件跌落。以防止电子元件跌落。

【技术实现步骤摘要】
电子元件测试座


[0001]本技术涉及电子器件测试领域，特别是涉及一种电子元件测试座。

技术介绍

[0002]在电子元件的测试设备中，通常设有测试座，电子元件在测试座中进行性能的测试。
[0003]现有的电子元件在测试座中测试时，电子元件容易跌落。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，有必要提供一种能够锁定电子元件，防止电子元件跌落的电子元件测试座。
[0005]一种电子元件测试座，包括座体，所述座体内具有测试腔及安装台，所述安装台位于所述测试腔的一端，所述测试腔远离所述安装台的一端贯穿所述座体的端面以形成第一开口，电子元件自所述第一开口进入所述测试腔并安装至所述安装台上；所述电子元件测试座还包括位于所述测试腔内的锁扣，所述锁扣与所述座体转动连接并具有锁定位置及解锁位置，当所述锁扣处于锁定位置时，所述锁扣抵接于所述电子元件以将所述电子元件锁定于所述安装台上，所述锁扣能够旋转至解锁位置以解除对于所述电子元件的锁定。
[0006]本技术通过设置锁扣以锁定电子元件，以防止电子元件跌落。当需要将电子元件取出或将电子元本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子元件测试座，包括座体(10)，所述座体(10)内具有测试腔(11)及安装台(12)，所述安装台(12)位于所述测试腔(11)的一端，所述测试腔(11)远离所述安装台(12)的一端贯穿所述座体(10)的端面以形成第一开口(13)，电子元件(200)自所述第一开口(13)进入所述测试腔(11)并安装至所述安装台(12)上；其特征在于，所述电子元件测试座还包括位于所述测试腔(11)内的锁扣(20)，所述锁扣(20)与所述座体(10)转动连接并具有锁定位置及解锁位置，当所述锁扣(20)处于锁定位置时，所述锁扣(20)抵接于所述电子元件(200)，以将所述电子元件(200)锁定于所述安装台(12)上，所述锁扣(20)能够旋转至解锁位置以解除对于所述电子元件(200)的锁定。2.根据权利要求1所述的电子元件测试座，其特征在于，所述测试腔(11)包括相互连通的安装腔(111)及容置腔(112)，所述安装台(12)位于所述容置腔(112)的一端，所述安装腔(111)位于所述容置腔(112)的侧部，所述锁扣(20)设于所述安装腔(111)内。3.根据权利要求2所述的电子元件测试座，其特征在于，所述容置腔(112)的腔壁包括相互连接的第一部(1121)及第二部(1122)，所述第一部(1121)靠近所述第一开口(13)设置，所述第二部(1122)连接于所述安装台(12)，所述第一部(1121)与所述安装台(12)的夹角为A，所述第二部(1122)与所述安装台(12)的夹角为B，其中，A大于或等于90
°
，B大于或等于90
°
。4.根据权利要求3所述的电子元件测试座，其特征在于，A小于B...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈兵，吴一帆，沈超，上官嘉韡，
申请(专利权)人：杭州长川科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：