一种实现自动触发半导体测试机测试信号的方法技术

本发明专利技术公开了一种实现自动触发半导体测试机测试信号的方法，包括将半导体测试机给自动触发控制信号控制板发送的方波信号转换成高电平的方波；然后生成新的方波信号；根据半导体测试机内的信号设定，转换成高电平或者低电平；使得输出波形转成为带充电弧度上升沿的波形；半导体测试机端子上接收到上述输出信号后自动进行测试；通过设置的隔离电路一、方波发生电路和隔离电路二对方波信号配合作用，能够实现半导体测试机完成上一步测试后，等待几毫秒就能马上自动进行下一轮测试的循环测试功能，从而实现模拟生产环境下的自动生产测试，达到检测相关电路的功能和长时间运行的稳定性。定性。定性。

【技术实现步骤摘要】
一种实现自动触发半导体测试机测试信号的方法


[0001]本专利技术中涉及信号测试
，特别涉及一种实现自动触发半导体测试机测试信号的方法。

技术介绍

[0002]半导体测试机又称半导体自动化测试机，与半导体自动化测试系统同义。半导体测试机测试半导体器件的电路功能、电性能参数，具体涵盖直流参数（电压、电流）、交流参数（时间、占空比、总谐波失真、频率等）、功能测试等。
[0003]在半导体测试行业中，现有控制电路多采用直接连接分选机来进行测试主机的运行控制，或者通过手动按键触发几下进行功能验证，不能作为自动循环控制用。
[0004]另外，分选机价格比较贵，如果分选机数量少的话因为需要长时间循环运行，会长期占用分选机，会影响到测试机量产的产能。采购多的话，会造成设备费用比较多，到了生产淡季又是一种资源浪费，因此提出一种实现自动触发半导体测试机测试信号的方法以改善上述问题。

技术实现思路

[0005]本申请的目的在于提供一种实现自动触发半导体测试机测试信号的方法，以解决上述
技术介绍
中提出的需要占用检测设备时间长，成本高的问题。
[0006]为实现上述目的，本申请提供如下技术方案：一种实现自动触发半导体测试机测试信号的方法，包括以下步骤：S1、半导体测试机完成测试后给自动触发控制信号控制板发送一个方波信号；S2、将所述方波信号转换成一个高电平的方波；S3、使得所述高电平的方波信号自动生成一个新的方波信号；S4、将所述新的方波信号根据半导体测试机内的信号设定，转换成一个高电平的方波或者低电平的方波，作为符合触发半导体测试机启动测试的输出信号；S5、使得所述输出波形转成为一个带充电弧度上升沿的波形；S6、所述半导体测试机端子上接收到上述输出信号后，当这个有弧度的上升沿波形达到启动测试的触发电平时，与所述方波信号之间产生一个几毫秒的时延，自动进行测试。
[0007]通过以上步骤，能够实现半导体测试机完成上一步测试后，等待几毫秒就能马上自动进行下一轮测试的循环测试功能，从而实现模拟生产环境下的自动生产测试，达到检测相关电路的功能和长时间运行的稳定性。
[0008]进一步的，所述S2中，将所述方波信号经过隔离电路一，转换成一个高电平的方波。
[0009]进一步的，所述S2中，所述方波信号经过隔离电路一，转换成一个高电平的方波，同时隔离电路一对该高电平的方波信号进行隔离；转换后的高电平的方波信号因为对测试
机过来的输入信号已经进行了隔离，所以即使是不同的测试机，可能驱动能力有差异，但经过隔离电路一后，这个波形也基本都是固定的波形和同样的驱动能力。
[0010]进一步的，所述S3中，所述高电平的方波信号到达方波发生电路的触发电平后自动生成一个新的方波信号。
[0011]进一步的，所述S4中，将所述新的方波信号根据半导体测试机内的信号设定，通过隔离电路二的正、反向设置，转换成一个高电平的方波或者低电平的方波，作为符合触发半导体测试机启动测试的输出信号。
[0012]进一步的，所述S5中，所述输出信号对地接一个合适容值的电容，使得输出波形转成为一个带充电弧度上升沿的波形。
[0013]一种实现自动触发半导体测试机测试信号的电路，包括隔离电路一、方波发生电路和隔离电路二，所述隔离电路一、方波发生电路和隔离电路二均布设于自动触发测试信号控制板上。
[0014]综上，本专利技术的技术效果和优点：本专利技术中，通过设置的隔离电路一、方波发生电路和隔离电路二对方波信号的配合作用，能够实现半导体测试机完成上一步测试后，等待几毫秒就能马上自动进行下一轮测试的循环测试功能，从而实现模拟生产环境下的自动生产测试，达到检测相关电路的功能和长时间运行的稳定性，具有节约成本，且调试方便、操作简单，相关器件可批量化制造的优点。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0016]图1为本实施例中的方法流程框图；图2为本实施例中的信号功能实现示意图；图3为本实施例中的电路图。
具体实施方式
[0017]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0018]实施例：参考图1和图2所示的一种实现自动触发半导体测试机测试信号的方法，包括以下步骤：S1、半导体测试机完成测试后给自动触发控制信号控制板发送一个方波信号；S2、方波信号经过隔离电路一，转换成一个高电平的方波，同时隔离电路一对该高电平的方波信号进行隔离；转换后的高电平的方波信号因为对测试机过来的输入信号已经进行了隔离，所以即使是不同的测试机，可能驱动能力有差异，但经过隔离电路一后，这个
波形也基本都是固定的波形和同样的驱动能力；S3、高电平的方波信号到达方波发生电路的触发电平后自动生成一个新的方波信号；S4、将新的方波信号根据半导体测试机内的信号设定，通过隔离电路二的正、反向设置，转换成一个高电平的方波或者低电平的方波，作为符合触发半导体测试机启动测试的输出信号；S5、输出信号对地接一个合适容值的电容，使得输出波形转成为一个带充电弧度上升沿的波形；S6、半导体测试机端子上接收到上述输出信号后，当这个有弧度的上升沿波形达到启动测试的触发电平时，与方波信号之间产生一个几毫秒的时延，自动进行测试。
[0019]通过以上步骤，能够实现半导体测试机完成上一步测试后，等待几毫秒就能马上自动进行下一轮测试的循环测试功能，从而实现模拟生产环境下的自动生产测试，达到检测相关电路的功能和长时间运行的稳定性。
[0020]如图2所示，应用于上述方法的电路包括隔离电路一、方波发生电路和隔离电路二，且隔离电路一、方波发生电路和隔离电路二均布设于自动触发测试信号控制板上。其中，本方案的电路原理图如图3所示。
[0021]本专利技术中，通过设置的隔离电路一、方波发生电路和隔离电路二对方波信号的配合作用，能够实现半导体测试机完成上一步测试后，等待几毫秒就能马上自动进行下一轮测试的循环测试功能，从而实现模拟生产环境下的自动生产测试，达到检测相关电路的功能和长时间运行的稳定性，具有节约成本，且调试方便、操作简单，相关器件可批量化制造的优点。
[0022]最后应说明的是：以上所述仅为本专利技术的优选实施例而已，并不用于限制本专利技术，尽管参照前述实施例对本专利技术进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换,凡在本专利技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本专利技术的保本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种实现自动触发半导体测试机测试信号的方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、半导体测试机完成测试后给自动触发控制信号控制板发送一个方波信号；S2、将所述方波信号转换成一个高电平的方波；S3、使得所述高电平的方波信号自动生成一个新的方波信号；S4、将所述新的方波信号根据半导体测试机内的信号设定，转换成一个高电平的方波或者低电平的方波，作为符合触发半导体测试机启动测试的输出信号；S5、使得所述输出波形转成为一个带充电弧度上升沿的波形；S6、所述半导体测试机端子上接收到上述输出信号后，当这个有弧度的上升沿波形达到启动测试的触发电平时，与所述方波信号之间产生一个几毫秒的时延，自动进行测试。2.根据权利要求1所述的一种实现自动触发半导体测试机测试信号的方法，其特征在于：所述S2中，将所述方波信号经过隔离电路一，转换成一个高电平的方波。3.根据权利要求2所述的一种实现自动触发半导体测试机测试信号的方法，其特征在于：所述S2中，所述方波信号经过隔离电路一...

【专利技术属性】
技术研发人员：严六平，邵晓蕾，毛国梁，
申请(专利权)人：南京宏泰半导体科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：