一种基于逻辑电平的数据采集方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种基于逻辑电平的数据采集方法及装置，涉及数据采集技术领域，所述方法包括：在对逻辑电平数据进行采集的过程中，检测采集周期是否发生偏移；当确定所述采集周期发生偏移时，对所述采集周期的起始位置进行校正，获得校正后的采集周期；基于所述校正后的采集周期采集逻辑电平数据。本发明专利技术提供的技术方案，能够在对逻辑电平数据进行采集的过程中，实时对发生偏移的采集周期进行校正，以保证数据采集的正确性和高效性。证数据采集的正确性和高效性。证数据采集的正确性和高效性。

【技术实现步骤摘要】
一种基于逻辑电平的数据采集方法及装置


[0001]本专利技术涉及数据采集
，特别地涉及一种基于逻辑电平的数据采集方法及装置。

技术介绍

[0002]随着嵌入式软件技术、传感器技术的不断发展，各种各样电平传输数据类型模块飞速增加，通过逻辑电平获取数据的方法在特定条件下(比如通讯双方频率差异等等)会导致逻辑电平采集周期的偏移，处理后得到非正常数据。当采集到非正常数据时，现有技术只能进行重新采集，直至获得正常的数据，这无疑使得采集工作非常繁琐，极大地增加了数据采集的工作量、降低了数据采集效率。

技术实现思路

[0003]针对上述现有技术中的问题，本申请提出了一种基于逻辑电平的数据采集方法及装置，能够在对逻辑电平数据进行采集的过程中，实时对发生偏移的采集周期进行校正，以保证数据采集的正确性和高效性。
[0004]为达到上述目的，本专利技术的技术方案是这样实现的：
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供了一种基于逻辑电平的数据采集方法，所述方法包括：
[0006]在对逻辑电平数据进行采集的过程中，检测采集周期是否发生偏移；
[0007]当确定所述采集周期发生偏移时，对所述采集周期的起始位置进行校正，获得校正后的采集周期；
[0008]基于所述校正后的采集周期采集逻辑电平数据。
[0009]在一些实施例中，所述在对逻辑电平数据进行采集的过程中，检测采集周期是否发生偏移，包括：
[0010]在对逻辑电平数据进行采集的过程中，判断采集到的逻辑电平数据是否正确；
[0011]当所述采集到的逻辑电平数据不正确时，确定所述采集周期发生偏移。
[0012]在一些实施例中，所述在对逻辑电平数据进行采集的过程中，检测采集周期是否发生偏移，包括：
[0013]在对逻辑电平数据进行采集的过程中，判断接收到所述逻辑电平数据的时间是否满足预设时间范围；
[0014]当接收到所述逻辑电平数据的时间不满足所述预设时间范围时，确定所述采集周期发生偏移。
[0015]在一些实施例中，所述方法还包括：
[0016]当确定所述采集周期发生偏移时，生成用于提示用户的提示信息。
[0017]在一些实施例中，所述方法还包括：
[0018]获取校正目标值和单位校正最大值；
[0019]所述当确定所述采集周期发生偏移时，对所述采集周期的起始位置进行校正，获得校正后的采集周期，包括：
[0020]当确定所述采集周期发生偏移时，基于所述校正目标值和所述单位校正最大值对所述采集周期的起始位置进行校正，获得所述校正后的采集周期。
[0021]在一些实施例中，所述基于所述校正目标值和所述单位校正最大值对所述采集周期的起始位置进行校正，获得所述校正后的采集周期，包括：
[0022]S1：从预设时刻开始计时，获得当前累计时间；
[0023]S2：判断所述当前累计时间是否小于所述单位校正最大值；
[0024]S3：当所述当前累计时间小于所述单位校正最大值时，判断所述当前累计时间是否大于所述校正目标值；
[0025]S4：当所述当前累计时间大于所述校正目标值时，判断所述当前累计时间是否到达一个所述采集周期的时间；
[0026]S5：当所述当前累计时间到达一个所述采集周期的时间时，计算所述当前累计时间与所述校正目标值之间的差值，获得当前移动目标值；
[0027]S6：基于所述当前移动目标值移动所述采集周期的起始位置，获得所述采集周期的当前起始位置；
[0028]S7：判断所述当前起始位置是否到达所述校正目标值对应的位置；
[0029]当所述当前起始位置没有到达所述校正目标值对应的位置时，返回S1；
[0030]当所述当前起始位置到达所述校正目标值对应的位置时，完成对所述采集周期的起始位置的校正，获得所述校正后的采集周期。
[0031]在一些实施例中，所述基于所述校正目标值和所述单位校正最大值对所述采集周期的起始位置进行校正，获得所述校正后的采集周期，还包括：
[0032]当所述当前累计时间不小于所述单位校正最大值时，判断所述当前累计时间是否到达一个所述采集周期的时间，并转至S5；
[0033]当所述当前累计时间不大于所述校正目标值时，返回S2；
[0034]当所述当前累计时间没有到达一个所述采集周期的时间时，返回S2。
[0035]在一些实施例中，所述预设时刻为所述逻辑电平从低电平到高电平的变化时刻；所述单位校正最大值为一个所述采集周期的时间的10％～20％。
[0036]第二方面，本专利技术实施例提供了一种基于逻辑电平的数据采集装置，所述装置包括：
[0037]检测单元，用于在对逻辑电平数据进行采集的过程中，检测采集周期是否发生偏移；
[0038]校正单元，用于当确定所述采集周期发生偏移时，对所述采集周期的起始位置进行校正，获得校正后的采集周期；
[0039]采集单元，用于基于所述校正后的采集周期采集逻辑电平数据。
[0040]第三方面，本专利技术实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有程序代码，所述程序代码被处理器执行时，实现如上述实施例中任一项所述的基于逻辑电平的数据采集方法。
[0041]第四方面，本专利技术实施例提供了一种电子设备，所述电子设备包括存储器、处理
器，所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的程序代码，所述程序代码被所述处理器执行时，实现如上述实施例中任一项所述的基于逻辑电平的数据采集方法。
[0042]本专利技术实施例提供的基于逻辑电平的数据采集方法及装置，通过在对逻辑电平数据进行采集的过程中，检测采集周期是否发生偏移，当确定采集周期发生偏移时，对采集周期的起始位置进行校正，获得校正后的采集周期，基于校正后的采集周期采集逻辑电平数据，使得在对逻辑电平数据进行采集的过程中，能够实时校正发生偏移的采集周期，进而使得采集周期的起始位置一直处于用户期望的正确位置，从而保证数据采集的正确性和高效性。
附图说明
[0043]通过结合附图阅读下文示例性实施例的详细描述可更好地理解本专利技术公开的范围。其中所包括的附图是：
[0044]图1A为理想状态下的数据采集示意图；
[0045]图1B为采集周期偏移状态下的数据采集示意图；
[0046]图1C为对采集周期校正后的数据采集示意图；
[0047]图2为本专利技术实施例的方法流程图一；
[0048]图3为本专利技术实施例的方法流程图二；
[0049]图4为本专利技术实施例中对采集周期进行校正的方法流程图一；
[0050]图5为本专利技术实施例中对采集周期进行校正的方法流程图二；
[0051]图6为对本专利技术实施例所提供的采集周期校正方法进行解析的示意图；
[0052]图7为本专利技术实施例的装置结构图。
具体实施方式
[0053]为了使本专利技术的目的、技术本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于逻辑电平的数据采集方法，其特征在于，所述方法包括：在对逻辑电平数据进行采集的过程中，检测采集周期是否发生偏移；当确定所述采集周期发生偏移时，对所述采集周期的起始位置进行校正，获得校正后的采集周期；基于所述校正后的采集周期采集逻辑电平数据。2.根据权利要求1所述的基于逻辑电平的数据采集方法，其特征在于，所述在对逻辑电平数据进行采集的过程中，检测采集周期是否发生偏移，包括：在对逻辑电平数据进行采集的过程中，判断采集到的逻辑电平数据是否正确；当所述采集到的逻辑电平数据不正确时，确定所述采集周期发生偏移。3.根据权利要求1所述的基于逻辑电平的数据采集方法，其特征在于，所述在对逻辑电平数据进行采集的过程中，检测采集周期是否发生偏移，包括：在对逻辑电平数据进行采集的过程中，判断接收到所述逻辑电平数据的时间是否满足预设时间范围；当接收到所述逻辑电平数据的时间不满足所述预设时间范围时，确定所述采集周期发生偏移。4.根据权利要求1所述的基于逻辑电平的数据采集方法，其特征在于，所述方法还包括：当确定所述采集周期发生偏移时，生成用于提示用户的提示信息。5.根据权利要求1所述的基于逻辑电平的数据采集方法，其特征在于，所述方法还包括：获取校正目标值和单位校正最大值；所述当确定所述采集周期发生偏移时，对所述采集周期的起始位置进行校正，获得校正后的采集周期，包括：当确定所述采集周期发生偏移时，基于所述校正目标值和所述单位校正最大值对所述采集周期的起始位置进行校正，获得所述校正后的采集周期。6.根据权利要求5所述的基于逻辑电平的数据采集方法，其特征在于，所述基于所述校正目标值和所述单位校正最大值对所述采集周期的起始位置进行校正，获得所述校正后的采集周期，包括：S1：从预设时刻开始计时，获得当前累计时间；S2：判断所述当前累计时间是否小于所述单位校正最大值；S3：当所述当前累计时间小于所述单位校正最大值时，判断所述当前累计时间是否大于所述校正目标值；S4：当所述当前累计时间大于所述校正目标值时，判断所述当前累计时间是否到达一个所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘明才，谢浙，王鑫，陈梓豪，徐喜鑫，郭艳超，
申请(专利权)人：珠海格力电器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：