一种温补晶振测试装置及测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及检测装置技术领域，具体公开了一种温补晶振测试装置及测试方法。该一种温补晶振测试装置包括：测试箱，其中，测试箱的内腔底部的左侧和前侧中间位置均固定装设有铰接座，且铰接座的内部均通过球头活动连接有电动伸缩杆，电动伸缩杆的顶端均安装有球轴，且球轴的外部均通过转轴活动套设有卡接框，卡接框的内侧均固定安装有传动架，传动架的顶部固定连接有测试平板，测试平板的顶部装设有卡接架。该温补晶振测试装置，通过电动伸缩杆推动对应侧的球轴的伸缩运动，从而可推动传动架和测试平板进行倾斜，从而可在测试时对卡接架内部左右两侧的温补晶振进行位姿的调整，使得其在测试时可以更加准确的获得温补晶振各个方位的温度信息。位的温度信息。位的温度信息。

【技术实现步骤摘要】
一种温补晶振测试装置及测试方法


[0001]本专利技术涉及检测装置
，特别涉及了一种温补晶振测试装置及测试方法。

技术介绍

[0002]有一些电子设备需要频率高度稳定的交流信号，而LC振荡器稳定性较差，频率容易漂移(即产生的交流信号频率容易变化)。在振荡器中采用一个特殊的元件——石英晶体，可以产生高度稳定的信号，这种采用石英晶体的振荡器称为晶体振荡器。
[0003]常见的温补晶振在进行测试时，一般均通过将其卡在测试板表面，再对其进行检测，如已授权的专利CN216411355U，一种石英晶体振荡器的测试装置，包括箱体以及与箱体盖合的箱盖，来对温补晶振进行测试。
[0004]但这种方式由于温补晶振的体积小，且对温度补偿精度高，而这种测试时一方面只能单次对一个温补晶振进行测试，导致体积较小的温补晶振拆装繁杂且费时，从而影响测试的速度，且这种方式在测试时温补晶振和平台均处于静置的状态，导致对温补晶振各个方位产生的温度无法精准获取，进而导致测试的数据不全面，准确度下降，不能满足测试装置的工作要求，为此提出一种温补晶振测试装置。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种温补晶振测试装置，包括测试箱(1)，其特征在于：所述测试箱(1)的顶部盖设有盖板(2)，所述测试箱(1)的内腔底部的左侧和前侧中间位置均固定装设有铰接座(3)，且铰接座(3)的内部均通过球头活动连接有电动伸缩杆(4)，所述电动伸缩杆(4)的顶端均安装有球轴(8)，且球轴(8)的外部均通过转轴活动套设有卡接框(71)，所述卡接框(71)的内侧均固定安装有传动架(6)，所述传动架(6)的顶部固定连接有测试平板(7)，所述测试平板(7)的顶部装设有卡接架(10)。2.根据权利要求1所述的一种温补晶振测试装置，其特征在于：所述传动架(6)的内部插接有十字轴(9)，且十字轴(9)的外端均通过轴承与传动架(6)的内部对应位置活动连接，所述十字轴(9)的前后两侧均固定连接有支撑架(5)。3.根据权利要求1所述的一种温补晶振测试装置，其特征在于：所述卡接架(10)的左右两侧均装设有晶体卡槽，所述卡接架(10)的内部左右两侧均插接有限位夹块(12)，且限位夹块(12)均为梯形设置。4.根据权利要求1所述的一种温补晶振测试装置，其特征在于：所述卡接架(10)的内部中间位置插接有异形转动块(11)，所述异形转动块(11)的底部中间位置通过阻尼转轴与测试平板(7)的顶部对应位置活动连接。5.根据权利要求4所述的一种温补晶振测试装置，其特征在于：所述异形转动块(11)的底部转轴的后侧固定连接有拨杆(13)，所述卡接架(10)的后部与拨杆(13)相对应的位置开设有滑槽，且拨杆(13)的外端贯穿滑槽的内部。6.根据权利要求1所述的一种温补晶振测试装置，其特征在于：所述测试平板(7)的顶部左右两侧均开设有传动槽，所述传动...

【专利技术属性】
技术研发人员：王佳彬，杨国永，尹维国，李传军，苗洁，侯俊，
申请(专利权)人：晶宇兴电子科技三河有限公司，
类型：发明
国别省市：