一种基于相位梯度校正的四向离散余弦解包裹算法制造技术

本发明专利技术公开了一种基于相位梯度校正的四向离散余弦解包裹算法。通过偏振相机拍摄两幅图片经过图像拆分算法和八图四步相移算法得到包含物体变形信息且大小为M

【技术实现步骤摘要】
一种基于相位梯度校正的四向离散余弦解包裹算法
(一)

[0001]本专利技术涉及的是一种基于相位梯度校正的四向离散余弦解包裹算法可用于激光剪切散斑干相位解包裹，属于图像处理

(二)
技术介绍

[0002]激光剪切散斑干涉技术在形变测量、变形检测和三维形貌测量等方面快速发展。相比于传统无损检测技术，它具有实时动态、全视场、非接触和高灵敏度等优点，但是由于在过程中采用了反正切运算，所以得到的相位值通常是被截断的，也就是包裹相位，其值被限制在(
‑
π,π]间。需要将相位进行连接得到真实相位，所以需要进行解包裹操作。
[0003]在常用的DCT解包裹算法中(相移干涉中基于DCT域掩膜的相位解包裹方法[J].科技通报,2017,33(1):119
‑
122,158.DOI:10.13774/j.cnki.kjtb.2017.01.026.赵硕.)利用二值化掩膜操作对噪声和包裹部分进行区分，后进行迭代拟合图像，这种方法可以避免噪声干扰，但对于高频噪声以及欠采样条件下的解包裹效果较差。r/>[0004]在本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于相位梯度校正的四向离散余弦解包裹算法，其特征在于，包括以下步骤：S1、通过偏振相机拍摄两幅图片经过图像拆分算法和八图四步相移算法得到包含物体变形信息且大小为M
×
N的二维包裹图像ψ
ij
。并且设置迭代次数k、最大迭代次数N和迭代误差Err。S2、计算水平方向x和垂直方向y以及与水平方向和垂直方向成45
°
角的u、v方向相位梯度：和S3、计算x、y、u和v方向相位梯度标准差T
x
、T
y
、T
u
、T
v
和梯度均值H
x
、H
y
、H
u
、H
v
。S4、将x、y、u和v方向相位梯度的绝对值与对应方向相位梯度标准差相比；若大于相位梯度标准差则校正相位梯度，否则保持不变。S5、将校正后的相位梯度代入泊松方程通过离散余弦变换(DCT)求出解包裹相位φ
ij
。S6、更新校准相位φ
ij,k
，计算相位误差Δψ
ij,k
，如果|Δψ
ij,k
‑
Δψ
ij,k
‑1|≤Err或者到达最大迭代次数，则停止迭代输出迭代后的校准相位。否则将相位误差Δψ
ij,k
代入第S2步更新ψ
ij
，再次进入解包裹操作。2.根据权利要求1所述的一种基于相位梯度校正的四向离散余弦解包裹算法...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾启林，于霄翊，熊显名，张文涛，杜浩，石冯睿，
申请(专利权)人：桂林电子科技大学，
类型：发明
国别省市：