X射线检查装置、X射线检查系统以及X射线检查方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及X射线检查装置、X射线检查系统以及X射线检查方法，X射线检查装置具备：输送部，输送物品；电磁波照射部，将第一能量带的第一电磁波以及第二能量带的第二电磁波照射到物品上；电磁波传感器，检测照射到物品上的第一电磁波以及第二电磁波；以及控制部，输入电磁波传感器的检测结果。控制部生成基于第一电磁波的检测结果的第一透射图像和基于第二电磁波的检测结果的第二透射图像，利用在第一透射图像以及第二透射图像中映出的与物品以外的背景有关的亮度分布，实施包括针对第一透射图像以及第二透射图像的减影处理的图像处理，基于通过减影处理得到的差分图像，判定物品中有无异物。有无异物。有无异物。

【技术实现步骤摘要】
X射线检查装置、X射线检查系统以及X射线检查方法


[0001]本公开涉及X射线检查装置、X射线检查系统以及X射线检查方法。

技术介绍

[0002]作为现有的X射线检查装置，例如已知有日本特开2012
‑
73056号公报所记载的装置。日本特开2012
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73056号公报所记载的X射线检查装置，具备：X射线源，对被检查物照射X射线；传感器单元，具有检测从X射线源照射的第一能量带的X射线的第一传感器以及检测第二能量带的X射线的第二传感器；图像生成部，基于由第一传感器检测出的X射线数据生成被检查物的第一透射图像，同时基于由第二传感器检测出的X射线数据生成被检查物的第二透射图像；以及检查部，基于由图像生成部生成的图像进行检查。

技术实现思路

[0003]在上述那样的X射线检查装置中，例如物品的输送速度越高，对该物品的X射线照射时间越短。因此，被检查物的检查精度降低。
[0004]本公开的一个方面的目的在于，提供即使提高物品的输送速度也能够防止该物品的检查精度的降低的X射线检查装置、X射线检查系统以及X射线检查方法。
[0005]本公开的一个方面所涉及的X射线检查装置具备：输送部，输送物品；电磁波照射部，将第一能量带的第一电磁波以及比第一能量带高的第二能量带的第二电磁波照射到物品上；电磁波传感器，检测照射到物品上的第一电磁波以及第二电磁波；以及控制部，输入电磁波传感器的检测结果。控制部生成基于第一电磁波的检测结果的第一透射图像和基于第二电磁波的检测结果的第二透射图像，利用在第一透射图像以及第二透射图像中映出的与物品以外的背景有关的亮度分布，实施包括针对第一透射图像以及第二透射图像的减影处理的图像处理，并基于通过减影处理得到的差分图像，判定物品中有无异物。
[0006]根据该X射线检查装置，控制部利用在第一透射图像以及第二透射图像中映出的与物品以外的背景有关的亮度分布，实施包括针对第一透射图像以及第二透射图像的减影处理的图像处理。通过使用这样实施利用了上述亮度分布的图像处理而得到的差分图像，可以实施高精度的能量分析处理。由此，例如即使提高输送部对物品的输送速度，也能够防止该物品的检查精度的降低。
[0007]也可以是，图像处理还包括：LUT生成处理，基于表示第一透射图像中的每个灰度的像素数的第一数据、以及表示第二透射图像中的每个灰度的像素数的第二数据，生成用于使第一透射图像与第二透射图像的明度一致的LUT(查找表)；LUT校正处理，直接或间接地利用亮度分布来校正LUT的至少一部分；以及图像校正处理，利用校正后的LUT，校正第一透射图像的明度，对图像校正处理后的第一透射图像和第二透射图像实施减影处理。在该情况下，使用利用亮度分布校正后的LUT来校正第一透射图像。由此，容易生成适当的差分图像。
[0008]也可以是，控制部确定第一灰度和第二灰度，所述第一灰度是亮度分布中像素数
最多的灰度，所述第二灰度是亮度分布中像素数最少的灰度中比第一灰度低且最接近第一灰度的灰度；并对LUT中从第一灰度到第二灰度的至少一部分进行校正。在该情况下，容易生成更适当的差分图像。
[0009]也可以是，控制部以LUT中从第一灰度到第二灰度成比例地增加的方式进行校正。在该情况下，可以简单且良好地校正LUT。
[0010]也可以是，在LUT校正处理中，利用基于亮度分布生成的校正用LUT来校正LUT的至少一部分。
[0011]也可以是，电磁波传感器具有检测互不相同的多个能量带的X射线的传感器部件。
[0012]本公开的另一个方面所涉及的X射线检查系统具备：X射线检查装置，其具有：输送部，输送物品；电磁波照射部，将第一能量带的第一电磁波以及比第一能量带高的第二能量带的第二电磁波照射到物品上；以及电磁波传感器，检测照射到物品上的第一电磁波以及第二电磁波；以及控制装置，输入X射线检查装置的检测结果。控制装置生成基于第一电磁波的检测结果的第一透射图像和基于第二电磁波的检测结果的第二透射图像；并利用在第一透射图像以及第二透射图像中映出的与物品以外的背景有关的亮度分布，实施包括针对第一透射图像以及第二透射图像的减影处理的图像处理。
[0013]根据该X射线检查系统，控制装置利用在第一透射图像以及第二透射图像中映出的与物品以外的背景有关的亮度分布，实施包括针对第一透射图像以及第二透射图像的减影处理的图像处理。通过这样实施利用了上述亮度分布的图像处理，得到差分图像。并且，通过使用该差分图像，可以实施高精度的能量分析处理。由此，例如即使提高输送部对物品的输送速度，也能够防止该物品的检查精度的降低。
[0014]本公开的又一个方面所涉及的X射线检查方法具备：电磁波照射步骤，对输送中的物品照射第一能量带的第一电磁波以及比第一能量带高的第二能量带的第二电磁波；图像生成步骤，生成基于第一电磁波的检测结果的第一透射图像，同时生成基于第二电磁波的检测结果的第二透射图像；图像处理步骤，利用在第一透射图像以及第二透射图像中映出的与物品以外的背景有关的亮度分布，实施包括针对第一透射图像以及第二透射图像的减影处理的图像处理；以及异物判定步骤，基于图像处理步骤后得到的差分图像，判定物品中有无异物。
[0015]根据该X射线检查方法，利用在第一透射图像以及第二透射图像中映出的与物品以外的背景有关的亮度分布，实施包括针对第一透射图像以及第二透射图像的减影处理的图像处理。通过使用这样实施利用了上述亮度分布的图像处理而得到的差分图像，能够实施高精度的能量分析处理。由此，例如即使提高输送部对物品的输送速度，也能够防止该物品的检查精度的降低。
附图说明
[0016]图1是一个实施方式所涉及的X射线检查装置的结构图。
[0017]图2是图1所示的屏蔽箱的内部的结构图。
[0018]图3的(a)是表示第一透射图像的图，图3的(b)是表示第二透射图像的图。
[0019]图4是表示与背景图像中的灰度对应的像素数的直方图。
[0020]图5的(a)是表示与第一透射图像中的灰度对应的像素数的直方图，图5的(b)是表
示与第一透射图像中的灰度对应的累计像素数的直方图。
[0021]图6的(a)是表示与第二透射图像中的灰度对应的像素数的直方图，图6的(b)是表示与第二透射图像中的灰度对应的累计像素数的直方图。
[0022]图7是表示基于第一数据以及第二数据生成的LUT的图表。
[0023]图8的(a)是用于说明LUT的校正处理的主要部分放大图，图8的(b)是表示校正后的LUT的图表。
[0024]图9是表示校正后的第一透射图像的图。
[0025]图10是表示差分图像的图。
[0026]图11是表示比较例所涉及的差分图像的图。
[0027]图12的(a)是包括表示与通过第一能量带的X射线照射而得到的背景图像的灰度对应的像素数的直方图和图5的(a)所示的直方图的图，图12的(b)是包括表示与通过第二能量本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种X射线检查装置，具备：输送部，输送物品；电磁波照射部，将第一能量带的第一电磁波以及比所述第一能量带高的第二能量带的第二电磁波照射到所述物品上；电磁波传感器，检测照射到所述物品上的所述第一电磁波以及所述第二电磁波；以及控制部，被输入所述电磁波传感器的检测结果，所述控制部生成基于所述第一电磁波的检测结果的第一透射图像和基于所述第二电磁波的检测结果的第二透射图像；直接或间接地利用在所述第一透射图像以及所述第二透射图像中映出的与所述物品以外的背景有关的亮度分布，实施包括针对所述第一透射图像以及所述第二透射图像的减影处理的图像处理；并基于通过所述减影处理得到的差分图像，判定所述物品中有无异物。2.根据权利要求1所述的X射线检查装置，其中，所述图像处理还包括：LUT生成处理，基于表示第一透射图像中的每个灰度的像素数的第一数据、以及表示第二透射图像中的每个灰度的像素数的第二数据，生成用于使所述第一透射图像与所述第二透射图像的明度一致的LUT；LUT校正处理，直接或间接地利用所述亮度分布来校正所述LUT的至少一部分；以及图像校正处理，利用校正后的所述LUT，校正所述第一透射图像的明度，对所述图像校正处理后的所述第一透射图像和所述第二透射图像实施所述减影处理。3.根据权利要求2所述的X射线检查装置，其中，所述控制部确定第一灰度和第二灰度，所述第一灰度是所述亮度分布中像素数最多的灰度，所述第二灰度是所述亮度分布中像素数最少的灰度中比所述第一灰度低且最接近所述第一灰度的灰度；并对所述LUT中从所述第一灰度到所述第二灰度的至少一部分进行校正。4.根据权利要求3所述的X射线检查装置，其中，所述控制部以所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：吉田圭佑，万木太，
申请(专利权)人：株式会社石田，
类型：发明
国别省市：