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本发明涉及X射线检查装置、X射线检查系统以及X射线检查方法，X射线检查装置具备：输送部，输送物品；电磁波照射部，将第一能量带的第一电磁波以及第二能量带的第二电磁波照射到物品上；电磁波传感器，检测照射到物品上的第一电磁波以及第二电磁波；以及控...
该专利属于株式会社石田所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社石田授权不得商用。

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