一种高频大电流检测装置及检测电路制造方法及图纸

技术编号:37814258 阅读:10 留言:0更新日期:2023-06-09 09:44
本实用新型专利技术提供了一种高频大电流检测装置及检测电路,所述检测装置设置在电缆上,所述检测装置包括:C形磁环、C口屏蔽套、绝缘层和双绞线线圈,所述C形磁环和C口屏蔽套共同组成环形结构套接在电缆上,所述绝缘层设置在电缆和环形结构之间,所述双绞线线圈绕设于C形磁环上,本实用新型专利技术在高频大电流检测应用中能够进行准确采集,结构简洁,避免了瞬时电流过大及可能出现的饱和,分离度,方向性,高于传统电流传感器,并且成本较低廉。并且成本较低廉。并且成本较低廉。

【技术实现步骤摘要】
一种高频大电流检测装置及检测电路


[0001]本技术涉及高频大电流检测领域,尤其涉及一种高频大电流检测装置及检测电路。

技术介绍

[0002]现有技术中比较常用的电流检测电路是将检流电阻串联在被检测电流所在的回路中,通过检测检流电阻两端的电压来确定被检测电流。如通过检流电阻R串联在负载所在的回路中,被检测电流I同样流经检流电阻R,通过测量检测电阻R两端的电压U,由于检测电阻R的阻值已知,根据欧姆定律即可得出被检测电流I的大小,I=U/R。在保证电源供电的情况下,现有技术检测电流的范围仍然受到限制,并且检测大电流时精度也不高;同时,检流电阻R有额定功率的限制,超过一定功率,检流电阻R就不能正常工作,因此电阻的额定功率的限制也使得使用检流电阻在测量大电流的应用中受到限制。而在大功率检测中所用的电流互感器,有易于磁性材料难于选择和高功率易饱和的缺点,特别是瞬时大功率所导致的磁饱和会使系统紊乱。
[0003]因此,有必要研究一种高频大电流检测装置及检测电路来应对现有技术的不足,以解决或减轻上述一个或多个问题。

技术实现思路

[0004]有鉴于此,本技术提供了一种高频大电流检测装置及检测电路,在高频大电流检测应用中能够进行准确采集,结构简洁,避免了瞬时电流过大及可能出现的饱和,分离度,方向性,高于传统电流传感器,并且成本较低廉。
[0005]一方面,本技术提供一种高频大电流检测装置,所述检测装置设置在电缆上,所述检测装置包括:C形磁环、C口屏蔽套、绝缘层和双绞线线圈,所述C形磁环和C口屏蔽套共同组成环形结构套接在电缆上,所述绝缘层设置在电缆和环形结构之间,所述双绞线线圈绕设于C形磁环上。
[0006]如上所述的方面和任一可能的实现方式,进一步提供一种实现方式,所述双绞线线圈包括第一线圈和第二线圈,所述第一线圈一端为线圈A端,另一端为线圈C端,所述第二线圈一端为线圈B端,另一端为线圈D端,所述第一线圈和第二线圈互相缠绕,所述线圈A端和线圈B端同时设置在C形磁环的一端,所述线圈C端和线圈B端同时设置在C形磁环的另一端。
[0007]如上所述的方面和任一可能的实现方式,进一步提供一种实现方式,所述C形磁环设有一开口,所述C口屏蔽套的两端分别套接在C形磁环开口的两端。
[0008]如上所述的方面和任一可能的实现方式,进一步提供一种实现方式,所述双绞线线圈均匀绕设在C形磁环除开口之外的剩余部分。
[0009]如上所述的方面和任一可能的实现方式,进一步提供一种实现方式,所述C口屏蔽套包括但不限于铜套。
[0010]如上所述的方面和任一可能的实现方式,进一步提供一种实现方式,所述绝缘层的材料包括但不限于橡胶。
[0011]如上所述的方面和任一可能的实现方式,进一步提供一种高频大电流检测电路,包括所述的检测装置,所述检测电路还包括固定装置、整流装置和滤波装置,所述检测装置、整流装置和滤波装置均固定在固定装置上,所述检测装置、整流装置和滤波装置依次连接。
[0012]如上所述的方面和任一可能的实现方式,进一步提供一种实现方式,所述固定装置由绝缘材料构成。
[0013]如上所述的方面和任一可能的实现方式,进一步提供一种实现方式,所述整流装置和滤波装置均由高频二极管构成。
[0014]与现有技术相比,本技术可以获得包括以下技术效果:
[0015]1、本技术中C形磁环的应用防止了超载电流引的磁饱和,同时便于调节导磁率,增强耦合的灵敏度和线性度,考虑到电磁辐射和干扰,在C形磁环的C口部用铜皮进行屏蔽;
[0016]2、本技术在高频大电流检测应用中能够进行准确采集,结构简洁,避免了瞬时电流过大及可能出现的饱和,分离度,方向性,高于传统电流传感器,并且成本较低廉;
[0017]3、本技术很适合在高频大电流或高频大功率检测中应用。
[0018]当然,实施本技术的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有技术效果。
【附图说明】
[0019]为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0020]图1是本技术一个实施例提供的检测装置结构各部分结构图;
[0021]图2是本技术一个实施例提供的检测电路等效电气图;
[0022]图3是本技术一个实施例提供的检测电路与外部配合电路结构图;
[0023]图4是本技术一个实施例提供的检测装置有屏蔽套时的结构图
[0024]图5是本技术一个实施例提供的检测装置去掉屏蔽套时的整体结构图;
[0025]图6是本技术一个实施例提供的检测装置去掉屏蔽套时的后视结构图。
[0026]其中,图中:
[0027]1,C形磁环;2,C口屏蔽铜套;3,开口;4,电缆;5,绝缘层;6,7,双绞线AB端;8,9,双绞线CD端。
【具体实施方式】
[0028]为了更好的理解本技术的技术方案,下面结合附图对本技术实施例进行详细描述。
[0029]应当明确,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施
例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本技术保护的范围。
[0030]在本技术实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的,而非旨在限制本技术。在本技术实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式,除非上下文清楚地表示其他含义。
[0031]本技术提供一种高频大电流检测装置及检测电路,如图4

图6所示,所述检测装置设置在电缆上,所述检测装置包括:C形磁环、C口屏蔽套、绝缘层和双绞线线圈,所述C形磁环和C口屏蔽套共同组成环形结构套接在电缆上,所述绝缘层设置在电缆和环形结构之间,所述双绞线线圈绕设于C形磁环上。
[0032]所述双绞线线圈包括第一线圈和第二线圈,其中6,7为同名端,8,9为同名端,所述第一线圈一端为线圈A端,另一端为线圈C端,所述第二线圈一端为线圈B端,另一端为线圈D端,所述第一线圈和第二线圈互相缠绕,所述线圈A端和线圈B端同时设置在C形磁环的一端,所述线圈C端和线圈B端同时设置在C形磁环的另一端。A端B端是同名端,相位相同,C端D端是同名端相位相同,两线的异名端相连构成串联线圈,中点接于电压采样电容中间接点,构成电桥,更改同名端,或调换所要检测的电流或功率传输线的传输方向,正向和反向输出信号也相应改变。
[0033]所述C形磁环设有一开口,所述C口屏蔽套的两端分别套接在C形磁环开口的两端。
[0034]所述双绞线线圈均匀绕设在C形磁环除开口之外的剩余部本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高频大电流检测装置,其特征在于,所述检测装置设置在电缆上,所述检测装置包括:C形磁环、C口屏蔽套、绝缘层和双绞线线圈,所述C形磁环和C口屏蔽套共同组成环形结构套接在电缆上,所述绝缘层设置在电缆和环形结构之间,所述双绞线线圈绕设于C形磁环上。2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述双绞线线圈包括第一线圈和第二线圈,所述第一线圈一端为线圈A端,另一端为线圈C端,所述第二线圈一端为线圈B端,另一端为线圈D端,所述第一线圈和第二线圈互相缠绕,所述线圈A端和线圈B端同时设置在C形磁环的一端,所述线圈C端和线圈B端同时设置在C形磁环的另一端。3.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述C形磁环设有一开口,所述C口屏蔽套的两端分别套接在C形磁环开口的两端。4.根...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐文浩戎西峰梁永刚李硚华黄豪
申请(专利权)人:苏州迈越智能技术有限公司
类型:新型
国别省市:

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