图像检测系统的图像采集卡、检测系统和缺陷检测方法技术方案

本申请公开了一种图像检测系统的图像采集卡、检测系统和缺陷检测方法，属于工业视觉技术领域。所述图像检测系统的图像采集卡包括：前置处理模块，所述前置处理模块的输入端用于与编码器电连接，用于对所述编码器输出的触发信号进行前置处理；参数匹配模块，所述参数匹配模块的输入端与所述前置处理模块的输出端及上位机电连接，用于基于所述上位机发送的目标脉冲宽度信号调节经过前置处理的触发信号的高电平宽度，所述参数匹配模块的输出端用于与相机电连接，以控制所述相机对同一位置拍摄多张不同曝光时长的图像。本申请的图像采集卡，可帮助提高缺陷识别的准确性和完备性，帮助提高系统集成度以及系统的实时性。帮助提高系统集成度以及系统的实时性。帮助提高系统集成度以及系统的实时性。

【技术实现步骤摘要】
图像检测系统的图像采集卡、检测系统和缺陷检测方法


[0001]本申请属于工业视觉
，尤其涉及一种图像检测系统的图像采集卡、检测系统和缺陷检测方法。

技术介绍

[0002]机器视觉被广泛用于产线的缺陷检测，以自动识别产品的缺陷，从而帮助提高产线工艺水平，提升产品的质量和成品率。图像检测系统一般是通过光源照射待检对象，通过相机捕捉反射光或透射光，并对采集的图像进行图像识别来实现缺陷检测。
[0003]专利技术人经过研究发现，相关技术中，需要预先对光源和相机进行复杂的调试，由于各类缺陷的形状不同，调试完成的图像检测系统，通常也只能适用于部分类型的缺陷检测，对其他类型的缺陷表现一般，存在改进空间。

技术实现思路

[0004]本申请旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本申请提出一种图像检测系统的图像采集卡、检测系统和缺陷检测方法，以控制所述相机对同一位置拍摄多张不同曝光时长的图像。
[0005]第一方面，本申请提供了一种图像检测系统的图像采集卡，包括：
[0006]前置处理模块，所述前置处理模块的输入端用于与编码器电连接，用于对所述编码器输出的触发信号进行前置处理；
[0007]参数匹配模块，所述参数匹配模块的输入端与所述前置处理模块的输出端及上位机电连接，用于基于所述上位机发送的目标脉冲宽度信号调节经过前置处理的触发信号的高电平宽度，所述参数匹配模块的输出端用于与相机电连接，以控制所述相机对同一位置拍摄多张不同曝光时长的图像。
[0008]根据本申请的图像检测系统的图像采集卡，可以给相机输出不同脉冲宽度的触发信号，以控制相机对同一检测位置多次成像，且采集到同一位置不同曝光值的图像，更好地呈现缺陷在不同曝光下的表现效果，帮助提高缺陷识别的准确性和完备性，且将脉冲宽度控制功能集成到图像采集卡上，可帮助提高系统集成度以及系统的实时性。
[0009]根据本申请的一个实施例，所述前置处理模块包括：
[0010]滤波模块，所述滤波模块的输入端用于与编码器电连接，用于基于接收的触发信号输出滤波后的触发信号；
[0011]边沿检测模块，所述边沿检测模块的输入端与所述滤波模块的输出端电连接，用于确定滤波后触发信号的起始位置。
[0012]根据本申请的一个实施例，所述图像检测系统的图像采集卡还包括：
[0013]时钟模块，所述参数匹配模块与所述时钟模块电连接，用于基于时钟信号和所述目标脉冲宽度信号，确定输出信号的高电平宽度。
[0014]根据本申请的一个实施例，所述图像采集卡为FPGA或X86CPU或单片机或ARM。
[0015]第二方面，本申请提供了一种图像检测系统，包括：
[0016]光源，所述光源朝向待检对象；
[0017]编码器，所述编码器用于基于所述待检对象的传输状态输出触发信号；
[0018]上位机；
[0019]如上述任一种所述的图像采集卡，所述前置处理模块的输入端与编码器电连接，所述参数匹配模块的输入端与所述上位机电连接；
[0020]相机，所述相机与所述参数匹配模块的输出端电连接，用于基于所述参数匹配模块的输出信号控制曝光时长；
[0021]检测设备，所述检测设备与所述图像采集卡电连接。
[0022]根据本申请的图像检测系统，可以给相机输出不同脉冲宽度的触发信号，以控制相机对同一检测位置多次成像，且采集到同一位置不同曝光值的图像，更好地呈现缺陷在不同曝光下的表现效果，帮助提高缺陷识别的准确性和完备性，且将脉冲宽度控制功能集成到图像采集卡上，图像检测系统的集成度高，系统的实时性好。
[0023]第三方面，本申请提供了一种缺陷检测方法，该方法包括：
[0024]控制相机对待检对象的同一位置拍摄多张图像，所述多张图像的曝光时长不同；
[0025]基于所述多张图像进行缺陷检测，得到缺陷检测结果。
[0026]根据本申请的缺陷检测方法，通过获取同一位置曝光时长不同的多张图像，可以提高缺陷识别的准确性和完备性。
[0027]根据本申请的一个实施例，所述控制相机对待检对象的同一位置拍摄多张图像，所述多张图像的曝光时长不同，包括：
[0028]基于目标脉冲宽度信号，调整经过前置处理的触发信号的高电平宽度，得到相机控制信号，所述相机控制信号包括多个不等长的脉冲宽度；
[0029]基于所述相机控制信号，控制所述相机对同一位置拍摄多张不同曝光时长的图像。
[0030]第四方面，本申请提供了一种缺陷检测装置，该装置包括：
[0031]第一处理模块，用于控制相机对待检对象的同一位置拍摄多张图像，所述多张图像的曝光时长不同；
[0032]第二处理模块，用于基于所述多张图像进行缺陷检测，得到缺陷检测结果。
[0033]根据本申请的缺陷检测装置，通过获取同一位置曝光时长不同的多张图像，可以提高缺陷识别的准确性和完备性。
[0034]第五方面，本申请提供了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述第一方面所述的缺陷检测方法。
[0035]第六方面，本申请提供了一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述第一方面所述的缺陷检测方法。
[0036]第七方面，本申请提供了一种芯片，所述芯片包括处理器和通信接口，所述通信接口和所述处理器耦合，所述处理器用于运行程序或指令，实现如第一方面所述的缺陷检测方法。
[0037]第八方面，本申请提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序
被处理器执行时实现如上述第一方面所述的缺陷检测方法。
[0038]本申请的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。
附图说明
[0039]本申请的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
[0040]图1是本申请实施例提供的图像检测系统的图像采集卡的结构示意图之一；
[0041]图2是本申请实施例提供的图像检测系统的图像采集卡的结构示意图之二；
[0042]图3是本申请实施例提供的图像检测系统的图像采集卡的输入输出信号对比图；
[0043]图4是本申请实施例提供的图像检测系统的获取的多次成像的示意图；
[0044]图5是本申请实施例提供的图像检测系统的结构示意图；
[0045]图6是本申请实施例提供的缺陷检测方法的流程示意图；
[0046]图7是本申请实施例提供的缺陷检测装置的结构示意图；
[0047]图8是本申请实施例提供的电子设备的结构示意图。
[0048]附图标记：
[0049]图像采集卡100，前置处理模块110，滤波模块111，边沿检测模块112，参数匹配模块120；<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种图像检测系统的图像采集卡，其特征在于，包括：前置处理模块，所述前置处理模块的输入端用于与编码器电连接，用于对所述编码器输出的触发信号进行前置处理；参数匹配模块，所述参数匹配模块的输入端与所述前置处理模块的输出端及上位机电连接，用于基于所述上位机发送的目标脉冲宽度信号调节经过前置处理的触发信号的高电平宽度，所述参数匹配模块的输出端用于与相机电连接，以控制所述相机对同一位置拍摄多张不同曝光时长的图像。2.根据权利要求1所述的图像检测系统的图像采集卡，其特征在于，所述前置处理模块包括：滤波模块，所述滤波模块的输入端用于与编码器电连接，用于基于接收的触发信号输出滤波后的触发信号；边沿检测模块，所述边沿检测模块的输入端与所述滤波模块的输出端电连接，用于确定滤波后触发信号的起始位置。3.根据权利要求1所述的图像检测系统的图像采集卡，其特征在于，还包括：时钟模块，所述参数匹配模块与所述时钟模块电连接，用于基于时钟信号和所述目标脉冲宽度信号，确定输出信号的高电平宽度。4.根据权利要求1
‑
3中任一项所述的图像检测系统的图像采集卡，其特征在于，所述图像采集卡为FPGA或X86CPU或单片机或ARM。5.一种图像检测系统，其特征在于，包括：光源，所述光源朝向待检对象；编码器，所述编码器用于基于所述待检对象的传输状态输出触发信号；上位机；如权利要求1
‑
4...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵方亮，于成毅，包振健，姚毅，
申请(专利权)人：凌云光技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：