伽马调试方法和阵列基板技术

本申请提供了一种伽马调试方法和阵列基板。伽马调试方法应用于阵列基板，伽马调试方法包括：制备第一金属层，第一金属层形成栅极和多个第一金属柱；至少部分第一金属柱的高度不相同；制备栅极绝缘层，且栅极绝缘层环绕第一金属柱且裸露至少一个第一金属柱；根据栅极绝缘层的厚度和第一金属柱的高度调试伽马电压；制备第二金属层，第二金属层形成电极层和多个第二金属柱；至少部分第二金属柱的高度不相同；制备钝化层，且钝化层环绕第二金属柱且裸露至少一个第二金属柱；根据钝化层的厚度和第二金属柱的高度调试伽马电压。通过第一金属柱和第二金属柱，在制程中可针对同一膜厚产品做伽马统一调试，可避免因膜厚不均导致伽马值超规范的问题。超规范的问题。超规范的问题。

【技术实现步骤摘要】
伽马调试方法和阵列基板


[0001]本申请涉及显示
，特别是涉及一种伽马调试方法和阵列基板。

技术介绍

[0002]在液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)中，伽马RGB值与功率并非简单的线性关系，而是幂函数关系，这个函数的指数称为伽马值，一般为2.2；目前大多数产品按行业标准2.2
±
0.2做卡控，若超出范围值人眼观测有不适感，影响产品品质。
[0003]但是，在制成中，对栅极绝缘层和钝化层的膜厚掌控不精确，会导致伽马漂移，伽马值有超规范的风险。

技术实现思路

[0004]本申请主要解决的技术问题是提供一种伽马调试方法和阵列基板，解决现有技术中伽马值超规范的问题。
[0005]为了解决上述技术问题，本申请提供的第一个技术方案为：提供一种伽马调试方法，应用于阵列基板，其中，所述伽马调试方法包括：
[0006]制备第一金属层，所述第一金属层形成栅极和多个第一金属柱；至少部分所述第一金属柱的高度不相同；
[0007]制备栅极绝缘层，且所述栅极绝缘层环本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种伽马调试方法，应用于阵列基板，其特征在于，所述伽马调试方法包括：制备第一金属层，所述第一金属层形成栅极和多个第一金属柱；至少部分所述第一金属柱的高度不相同；制备栅极绝缘层，且所述栅极绝缘层环绕所述第一金属柱且裸露至少一个所述第一金属柱；根据所述栅极绝缘层的厚度和所述第一金属柱的高度调试伽马电压；制备第二金属层，所述第二金属层形成电极层和多个第二金属柱；至少部分所述第二金属柱的高度不相同；制备钝化层，且所述钝化层环绕所述第二金属柱且裸露至少一个所述第二金属柱；根据所述钝化层的厚度和所述第二金属柱的高度调试伽马电压。2.根据权利要求1所述的伽马调试方法，其特征在于，所述阵列基板具有显示区和非显示区，所述第一金属柱设置于所述非显示区；不同高度的所述第一金属柱对应不同厚度的所述栅极绝缘层，以对应不同的伽马值；其中，所述不同高度的所述第一金属柱中的一个所述第一金属柱的高度为所述栅极绝缘层的第一预设厚度值。3.根据权利要求2所述的伽马调试方法，其特征在于，所述根据所述栅极绝缘层的厚度和所述第一金属柱的高度调试伽马电压，包括：比较所述栅极绝缘层的厚度和所述第一金属柱的高度，且测量裸露于所述栅极绝缘层的第一金属柱的阻值，并根据所述第一金属柱的阻值确定所述第一金属柱的高度；根据所述第一金属柱的高度调整伽马电压，以使所述伽马值满足预设伽马值。4.根据权利要求2所述的伽马调试方法，其特征在于，所述第一金属层形成至少一个第一金属柱组，所述第一金属柱组包括三个高度不同的所述第一金属柱，分别为第一子金属柱、第二子金属柱和第三子金属柱；其中，所述第一子金属柱的高度大于所述第二子金属柱的高度，所述第二子金属柱的高度大于所述第三子金属柱的高度；所述第二子金属柱的高度等于所述栅极绝缘层的第一预设厚度值；所述根据所述栅极绝缘层的厚度和所述第一金属柱的高度调试伽马电压，包括：所述栅极绝缘层的厚度等于所述第二子金属柱的高度，不调整伽马电压；所述栅极绝缘层的厚度大于所述第二子金属柱的高度，且小于等于所述第一子金属柱的高度，测量所述第一子金属柱的阻值并确定所述第一子金属柱的高度，根据所述第一子金属柱的高度调整伽马电压；所述栅极绝缘层的厚度小于所述第二子金属柱的高度，且大于所述第三子金属柱的高度，测量所述第二子金属柱的阻值并确定所述第二子金属柱的高度，根据所述第二子金属柱的高度调整伽马电压；所述栅极绝缘层的厚度小于等于所述第三子金属柱的高度，测量所述第三子金属柱的阻值并确定所述第三子金属柱的高度，根据所述第三子金属柱的高度调整伽马电压。5.根据权利要求1所述的伽马调试方法，其特征在于，所述阵列基板具有...

【专利技术属性】
技术研发人员：李星，康报虹，
申请(专利权)人：惠科股份有限公司，
类型：发明
国别省市：