一种全固态离子选择性电极电解质检测卡制造技术

本实用新型专利技术提供了一种全固态离子选择性电极电解质检测卡，涉及电解质的技术领域，包括：上盖，下盖以及联测电极，下盖位于上盖的正下方，下盖设有电极凹槽，上盖设有主流道，电极凹槽内部设置有联测电极，且与主流道相连通，主流道的入口端设有加样口，下盖设有定标液凹槽以及废液凹槽，定标液凹槽与主流道相连通，废液凹槽与主流道出口端相连通；上盖下盖之间设有胶膜，胶膜用于将上盖下盖的液体相分离，胶膜设有通道以使入流口分别与定标液凹槽、废液凹槽、联测电极相连通。通过本实用新型专利技术可以缓解现有技术总电解质检测由于无法自己完成定标过程，工序繁琐的技术问题。工序繁琐的技术问题。工序繁琐的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
一种全固态离子选择性电极电解质检测卡


[0001]本技术涉及电解质检测的
，尤其是涉及一种全固态离子选择性电极电解质检测卡。

技术介绍

[0002]目前市面上进行电解质检测的设备主要有两种：即采用棒状的离子选择电极和参比电极共同检测，以及干式电解质检测试纸，这两种电解质检测方式，均需配合外部定标液，无法自己完成定标过程，操作起来较繁琐。
[0003]综上所述，现有技术中，电解质检测由于无法自己完成定标过程，工序繁琐。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本技术的目的在于提供一种全固态离子选择性电极电解质检测卡，以缓解现有技术中电解质检测由于无法自己完成定标过程，工序繁琐的技术问题。
[0005]本技术提供了一种全固态离子选择性电极电解质检测卡，包括：上盖，下盖以及联测电极，所述下盖位于所述上盖的正下方，所述下盖设有电极凹槽，所述上盖设有主流道，所述电极凹槽内部设置有所述联测电极，所述联测电极与所述主流道相连通，所述主流道的入口端设有加样口，所述下盖设有定标液凹槽以及废液凹槽，所述定标液凹槽与所述主流道相连通，所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种全固态离子选择性电极电解质检测卡，包括：上盖，下盖以及联测电极，所述下盖位于所述上盖的正下方，所述下盖设有电极凹槽，所述上盖设有主流道，所述电极凹槽内部设置有所述联测电极，所述联测电极与所述主流道相连通，所述主流道入口端设有加样口，其特征在于，所述下盖设有定标液凹槽以及废液凹槽，所述定标液凹槽与所述主流道相连通，所述废液凹槽与所述主流道出口端相连通；所述上盖下盖之间设有胶膜，所述胶膜用于将上盖下盖的液体相分离，所述胶膜设有通道以使入流口分别与定标液凹槽、废液凹槽、联测电极相连通。2.根据权利要求1所述的全固态离子选择性电极电解质检测卡，其特征在于，所述定标液凹槽以及所述主流道均设有分支流道，所述胶膜设置有第一开孔，以使所述定标液凹槽与所述主流道相连通。3.根据权利要求1所述的全固态离子选择性电极电解质检测卡，其特征在于，所述胶膜设置有第二开孔，所述第二开孔用于所述主流道与所述废液凹槽的连通。4.根据权利要求1所述的全固态离子选择性电极电解质检测卡，其特征在于，所述胶膜设有镂空部位，...

【专利技术属性】
技术研发人员：王振国，孙圣凯，李正超，胡金朋，周玉松，苏彬，杨天赤，陈孝储，
申请(专利权)人：中国人民武装警察部队特色医学中心，
类型：新型
国别省市：