游星轮、试样的处理方法及装置、存储介质和电子设备制造方法及图纸

本申请公开了一种游星轮、试样的处理方法及装置、存储介质和电子设备。该方法包括：获取对待加工试样进行磨削的第一声音信息，其中，待加工试样为目标游星轮中待进行磨削的至少一个试样，待加工试样的材质为金属材质；获取对目标陶瓷片进行磨削的第二声音信息，其中，目标陶瓷片的厚度小于待加工试样的厚度；依据第一声音信息和第二声音信息，确定是否对待加工试样完成磨削；若对待加工试样完成磨削，则获取完成磨削后的目标试样，其中，目标试样的厚度与目标陶瓷片的厚度之间的差值小于预设数值。通过本申请，解决了相关技术中利用现有的双面研磨机加工试样的效果较差的问题。的双面研磨机加工试样的效果较差的问题。的双面研磨机加工试样的效果较差的问题。

【技术实现步骤摘要】
游星轮、试样的处理方法及装置、存储介质和电子设备


[0001]本申请涉及游星轮
，具体而言，涉及一种游星轮、试样的处理方法及装置、存储介质和电子设备。

技术介绍

[0002]由于小尺寸试样易于变形，难以加工，因此目前对于小尺寸试样的加工一直困扰着材料性能测试领域。在目前机械加工领域出现了用于薄板表面抛光的双面抛磨机配以适当配件后，可以进行小试样加工。但是，利用用于薄板表面抛光的双面抛磨机配以适当配件后，加工出试样的良品率较低；另外，利用现有的双面抛磨机进行小试样加工时，需要多次升盘以进行尺寸测量，从而导致磨削效率较低。
[0003]针对相关技术中利用现有的双面研磨机加工试样的效果较差的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

技术实现思路

[0004]本申请的主要目的在于提供一种游星轮、试样的处理方法及装置、存储介质和电子设备，以解决相关技术中利用现有的双面研磨机加工试样的效果较差的问题。
[0005]为了实现上述目的，根据本申请的一个方面，提供了一种试样的处理方法。该方法应用在双面研磨机中，所述双面研磨机中至少本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种试样的处理方法，其特征在于，所述试样的处理方法应用在双面研磨机中，所述双面研磨机中至少包括带有目标陶瓷片的目标游星轮，包括：获取对待加工试样进行磨削的第一声音信息，其中，所述待加工试样为所述目标游星轮中待进行磨削的至少一个试样，所述待加工试样的材质为金属材质；获取对所述目标陶瓷片进行磨削的第二声音信息，其中，所述目标陶瓷片的厚度小于所述待加工试样的厚度；依据所述第一声音信息和所述第二声音信息，确定是否对所述待加工试样完成磨削；若对所述待加工试样完成磨削，则获取完成磨削后的目标试样，其中，所述目标试样的厚度与所述目标陶瓷片的厚度之间的差值小于预设数值。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，依据所述第一声音信息和所述第二声音信息，确定是否对所述待加工试样完成磨削包括：判断所述第一声音信息和所述第二声音信息是否相同；若所述第一声音信息和所述第二声音信息相同，则表示对所述待加工试样已完成磨削；若所述第一声音信息和所述第二声音信息不同，则表示对所述待加工试样未完成磨削。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，若所述待加工试样的数量为多个，若对所述待加工试样完成磨削，则获取完成磨削后的目标试样包括：若对所述待加工试样完成磨削，则获取完成磨削后的多个第一试样；对所述多个第一试样进行筛选处理，得到所述目标试样。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，对所述多个第一试样进行筛选处理，得到所述目标试样包括：获取所述多个第一试样的第一尺寸信息；获取对所述待加工试样进行磨削后需要达到的目标尺寸信息；依据所述多个第一试样的尺寸信息，从所述多个第一试样中筛选出符合所述目标尺寸信息的试样；将从所述多个第一试样中筛选出的符合所述目标尺寸信息的试样作为所述目标试样。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取对待加工试样进行磨削的第一声音信息包括：判断所述目标游星轮中是否具有所述待加工试样；若所述目标游星轮中具有所述待加工试样，则将所述双面研磨机的上磨盘与所述待加工试样的上表面接触，并将所述双面研磨机的下磨盘与所述待加工试样的下表面接触；启动所述上磨盘和所述下磨盘，...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘凯，卢娟，王汉奎，尤景泽，柳旺，孙浩宇，
申请(专利权)人：中国特种设备检测研究院，
类型：发明
国别省市：