一种缺陷样本图像的生成方法、装置、电子设备及介质制造方法及图纸

本申请提供了一种缺陷样本图像的生成方法、装置、电子设备及介质，所述生成方法包括：获取对产品进行无损检测过程中的目标射线底片；基于预先构建的多种缺陷库中，确定目标种类的目标缺陷库，并从所述目标缺陷库中确定一目标缺陷图像；基于目标缺陷图像中缺陷的种类对应的缺陷位置规则、目标射线底片中的焊缝，确定目标缺陷图像在焊缝中的目标位置；将所述目标缺陷图像融合在目标射线底片中焊缝的目标位置处，得到携带目标种类缺陷的缺陷样本图像，从而能够生成数量足够的缺陷样本图像，为训练深度学习模型提供更为丰富的、优质的样本以及更好的泛化能力，得到高精确的缺陷检测模型。型。型。

【技术实现步骤摘要】
一种缺陷样本图像的生成方法、装置、电子设备及介质


[0001]本申请涉及图像处理
，具体而言，涉及一种缺陷样本图像的生成方法、装置、电子设备及介质。

技术介绍

[0002]由于产品中不可避免地存在气孔、夹杂、未熔合、裂纹等缺陷，将使制件相应部位的有效承载面积减小，承受载荷时产生缺口效应，造成局部应力集中，成为产品故障的萌生源，进而影响产品在使用过程中的抗疲劳性能。无损检测技术在不损害被检对象的前提下，检测出被检件的中的未熔合、裂纹、未焊透等缺陷，对被检件质量进行评价并根据验收标准做出合格与否的判断。
[0003]现在，随着图像处理技术的发展，可以通过缺陷检测模型识别出无损检测过程的射线底片中的缺陷类型，提高自动化水平。然而，无损检测中未熔合，未焊透和裂纹这三种缺陷属于较为严重的缺陷种类，而其缺陷样本总是很少，这样不利于深度学习训练，无法得到高精确的缺陷检测模型。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本申请的目的在于提供一种缺陷样本图像的生成方法、装置、电子设备及介质，能够生成数量足够的缺陷样本图像，为训练深度学习模本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种缺陷样本图像的生成方法，其特征在于，所述生成方法包括：获取对产品进行无损检测过程中的目标射线底片；其中，所述目标射线底片中包括焊缝；基于预先构建的多种缺陷库中，确定目标种类的目标缺陷库，并从所述目标缺陷库中确定一目标缺陷图像；其中，不同缺陷库中的缺陷图像携带不同种类的缺陷，不同种类的缺陷对应不同的缺陷位置规则；基于目标缺陷图像中缺陷的种类对应的缺陷位置规则、目标射线底片中的焊缝，确定目标缺陷图像在焊缝中的目标位置；将所述目标缺陷图像融合在目标射线底片中焊缝的目标位置处，得到携带目标种类缺陷的缺陷样本图像。2.根据权利要求1所述的缺陷样本图像的生成方法，其特征在于，得到携带目标种类缺陷的缺陷样本图像后，所述生成方法还包括：对所述缺陷样本图像进行缺陷标注，得到缺陷样本图像对应的标注文件。3.根据权利要求1所述的缺陷样本图像的生成方法，其特征在于，所述缺陷库是通过以下步骤构建的：获取射线底片数据集；所述射线底片数据集中的射线底片携带有缺陷标注框；基于所述缺陷标注框，提取出所述射线底片数据集的原始的缺陷图像；使用多种增广处理方法对所述原始的缺陷图像进行样本增广处理，得到增广处理后的缺陷图像；基于所述原始的缺陷图像的缺陷种类、增广处理后的缺陷图像的缺陷种类，构建每种缺陷的缺陷库。4.根据权利要求1所述的缺陷样本图像的生成方法，其特征在于，基于目标缺陷图像中缺陷的种类对应的缺陷位置规则、目标射线底片中焊缝的位置，确定目标缺陷图像在焊缝中的目标位置，包括：基于目标缺陷图像中缺陷的种类对应的缺陷位置规则、目标射线底片中焊缝的位置，确定目标缺陷图像在在焊缝中的候选位置；判断所述候选位置处是否已有缺陷；若是，则重新确定目标缺陷图像在在焊缝中的候选位置；若否，则确定所述候选位置为目标位置。5.根据权利要求1所述的缺陷样本图像的生成方法，其特征在于，基于目标缺陷图像中缺陷的种类对应的缺陷位置规则、目标射线底片中的焊缝，确定目标缺陷图像在焊缝中的目标位置，包括：当所述目标缺陷图像中缺陷的种类为未焊透时，对所述目标射线底片中的焊缝进行阈值分割处理，确定焊缝的中间位置；在所述中间位置中确定所述目标...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭斌，李晓波，马振烁，
申请(专利权)人：北京远舢智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：