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本申请提供了一种缺陷样本图像的生成方法、装置、电子设备及介质，所述生成方法包括：获取对产品进行无损检测过程中的目标射线底片；基于预先构建的多种缺陷库中，确定目标种类的目标缺陷库，并从所述目标缺陷库中确定一目标缺陷图像；基于目标缺陷图像中缺陷...
该专利属于北京远舢智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京远舢智能科技有限公司授权不得商用。

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