检测方法及装置、检测设备和计算机可读存储介质制造方法及图纸

本申请公开一种检测方法、检测装置、检测设备及非易失性计算机可读存储介质。方法包括获取待测件的低灰度图像和高灰度图像，低灰度图像的所有像素的灰度值均小于预设灰度值，低灰度图像和高灰度图像的像素一一对应；检测高灰度图像，以获取第一缺陷区域；根据第一缺陷区域，确定低灰度图像的第二缺陷区域；根据第二缺陷区域的灰度值和预设阈值，确定每个第二缺陷区域的缺陷类型。通过高灰度图像准确地检测出第一缺陷区域，然后根据高灰度图像和低灰度图像的对应关系，在低灰度图像中找到与第一缺陷区域对应的第二缺陷区域，最后根据预设阈值对第二缺陷区域进行分类，从而准确地检测出第二缺陷区域的缺陷类型。第二缺陷区域的缺陷类型。第二缺陷区域的缺陷类型。

【技术实现步骤摘要】
检测方法及装置、检测设备和计算机可读存储介质


[0001]本申请涉及检测
，更具体而言，涉及一种检测方法、检测装置、检测设备和计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]锂电池隔膜涂覆场景下，白缺陷一般包括撕裂、针孔、亮点(或划伤)和漏涂4种，这些缺陷对于隔膜的严重程度也不相同，撕裂与针孔对隔膜的危害巨大，所以现在需要对白缺陷进行细分类。目前，在白缺陷进行成像时，上述缺陷都可能会过曝，导致白缺陷难以准确分类。

技术实现思路

[0003]本申请实施方式提供一种检测方法、检测装置、检测设备和计算机可读存储介质。
[0004]本申请实施方式的检测方法包括获取待测件的低灰度图像和高灰度图像，所述低灰度图像的所有像素的灰度值均小于预设灰度值，所述低灰度图像和所述高灰度图像的像素一一对应；检测所述高灰度图像，以获取第一缺陷区域；根据所述第一缺陷区域，确定所述低灰度图像的第二缺陷区域；根据所述第二缺陷区域的灰度值和预设阈值，确定每个所述第二缺陷区域的缺陷类型。
[0005]本申请实施方式的检测装置包括获取模块、检测模块、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测方法，其特征在于，包括：获取待测件的低灰度图像和高灰度图像，所述低灰度图像的所有像素均不过曝，所述低灰度图像和所述高灰度图像的像素一一对应；检测所述高灰度图像，以获取第一缺陷区域；根据所述第一缺陷区域，确定所述低灰度图像的第二缺陷区域；根据所述第二缺陷区域的灰度值和预设阈值，确定每个所述第二缺陷区域的缺陷类型。2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述检测所述高灰度图像，以获取第一缺陷区域，包括：检测所述高灰度图像中大于预定阈值的像素，以作为缺陷像素；根据所述缺陷像素，获取所述第一缺陷区域。3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述根据所述第二缺陷区域的灰度值和预设阈值，确定每个所述第二缺陷区域的缺陷类型，包括：根据所述第二缺陷区域的灰度值、所述第二缺陷区域的面积和所述预设阈值，确定每个所述第二缺陷区域的缺陷类型。4.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，所述根据所述第二缺陷区域的灰度值、所述第二缺陷区域的面积和所述预设阈值，确定每个所述第二缺陷区域的缺陷类型，包括：在所述第二缺陷区域的面积位于第一面积范围、且所述第二缺陷区域的灰度值均值大于第一预设阈值的情况下，确定所述第二缺陷区域的缺陷类型为孔洞缺陷；在所述第二缺陷区域的面积位于所述第一面积范围、所述第二缺陷区域的灰度值均值小于所述第一预设阈值且大于第二预设阈值的情况下，确定所述第二缺陷区域的缺陷类型为亮点或划伤缺陷；在所述第二缺陷区域的面积位于所述第一面积范围、且所述第二缺陷区域的灰度值均值小于所述第二预设阈值的情况下，确定所述第二缺陷区域的缺陷类型为漏涂缺陷。5.根据权利要求4所述的检测方法，其特征在于，所述缺陷类型包括孔洞缺陷、亮点或划伤缺陷、以及漏涂缺陷，所述根据所述第二缺陷区域的灰度值、所述第二缺陷区域的面积和所述预设阈值，确定每个所述第二缺陷区域的缺陷类型，包括：获取与所述第二缺陷区域的面积匹配的目标面积范围，所述目标面积范围为多个第二面积范围中的任一个，所述第二面积范围的最大值小于所述第一面积范围的最小值；获取与所述目标面积范围匹配的目标预设阈值，所述目标预设阈值为多个预设阈值中的一个，所述目标预设阈值包括第一目标预设阈值和第二目标预设阈值，所述第一目标预设阈值大于所述第二目标预设阈值；在所述第二缺陷区域的灰度值均值和预设的背景灰度值的差值大于所述第一目标预设阈值的情况下，确定所述第二缺陷区域的缺陷类型为孔洞缺陷；在所述第二缺陷区域的灰度值均值和所述背景灰度值的差值小于所述第一目标预设阈值且大于所述第二目标预设阈值的情况下，确定所述第二缺陷区域的缺陷类型为亮点或划伤缺陷；在所述第二缺陷区域的灰度值均值和所述背景灰度值的差值小于所述第二目标预设
阈值的情况下，确定所述第二缺陷区域的缺陷类型为漏涂缺陷。6.根据权利要求5所述的检测方法，其特征在于，所述第二缺陷区域的灰度值均值和预设的背景灰度值的差值根据所述第二缺陷区域中目标像素的灰度值均值和预设的背景灰度值的差值，所述目标像素为所述第二缺陷区域中灰度值位于预设排序内的像素，所述预设排序根据所述目标面积范围确定。7.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述根据所述第二缺陷区域的灰度值和预设阈值，确定每个所述第二缺陷区域的缺陷类型，包括：根据所述第二缺陷区域的灰度值、所述第二缺陷区域的面积、所述第二缺陷区域的有效宽度和预设阈值，确定每个所述第二缺陷区域的缺陷类型。8.根据权利要求7所述的检测方法，其特征在于，所述根据所述第二缺陷区域的灰度值、所述第二缺陷区域的面积、所述第二缺陷区域的有效宽度和预设阈值，确定每个所述第二缺陷区域的缺陷类型，包括：在所述第二缺陷区域的面积位于第一面积范围、所述第二缺陷区域的有效宽度位于第一宽度范围、且所述第二缺陷区域的灰度值均值大于第一预设阈值...

【专利技术属性】
技术研发人员：王凯，李宝同，杨凌霄，
申请(专利权)人：凌云光技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：