【技术实现步骤摘要】
包括采样电路的集成电路和存储装置
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请要求于2021年12月3日提交的韩国专利申请第10
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2021
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0172410号的权益，其全部内容通过引用并入本文。
[0003]本专利技术的各实施例涉及一种半导体设计技术，更具体地，涉及一种包括对输入信号随机地采样的采样电路的存储装置。
技术介绍
[0004]最近，除了正常的刷新操作之外，对因行锤击(row hammering)而可能丢失数据的特定字线的存储单元执行附加的刷新操作，在下文中将称之为“目标刷新操作”。行锤击现象是指耦接到特定字线或与该特定字线相邻设置的相邻字线的存储单元的数据由于特定字线的大量激活而被损坏的现象。为了防止行锤击现象，对激活超过预定次数的字线、以及与该字线相邻设置的相邻字线执行目标刷新操作。
[0005]在目标刷新操作中，可以通过基于概率对地址随机地采样来选择要对其执行目标刷新操作的字线。因此，已经对用于随机地采样地址的采样电路进行了研究。
专...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种集成电路，包括：第一图案生成电路，其适于生成针对采样区段随机发生脉冲的第一图案信号；第二图案生成电路，其适于生成针对所述采样区段随机发生脉冲的第二图案信号；第一区段控制部，其适于根据所述第一图案信号生成针对所述采样区段的第一区段被使能的粗略区段信号；第一滤波部，其适于通过根据所述粗略区段信号对所述第二图案信号进行滤波来生成第一区段提取信号；第二区段控制部，其适于根据所述第一区段提取信号生成针对所述采样区段的第二区段被使能的精细区段信号；第二滤波部，其适于通过根据所述精细区段信号对所述第二图案信号进行滤波来生成第二区段提取信号；输出控制电路，其适于根据所述第一区段提取信号和所述第二区段提取信号生成采样使能信号；以及采样电路，其适于根据所述采样使能信号对输入信号进行采样。2.根据权利要求1所述的集成电路，其中，所述第二图案信号以比所述第一图案信号的周期短的周期随机发生脉冲。3.根据权利要求1所述的集成电路，其中，所述第一图案生成电路和所述第二图案生成电路中的每一个包括从基于线性反馈移位寄存器LFSR的随机图案生成器和基于伪随机二进制序列PRBS的随机图案生成器中选择的一个。4.根据权利要求1所述的集成电路，其中，所述第一图案生成电路和所述第二图案生成电路中的每一个包括均匀随机数序列生成器，所述均匀随机数序列生成器用于生成在特定周期内随机发生脉冲相同次数的图案信号。5.根据权利要求1所述的集成电路，其中，所述第一区段控制部包括：第一随机计数器，其适于通过对所述第一图案信号的触发次数进行计数来生成第一采样计数信号；第一参考计数器，其适于通过对用于界定所述采样区段的采样区段信号的输入次数进行计数来生成第一参考计数信号；以及第一比较器，其适于通过将所述第一采样计数信号与所述第一参考计数信号进行比较来输出所述粗略区段信号。6.根据权利要求1所述的集成电路，其中，所述第一滤波部包括适于对所述第二图案信号和所述粗略区段信号执行逻辑与运算的逻辑电路。7.根据权利要求1所述的集成电路，其中，所述第二区段控制部包括：第二随机计数器，其适于通过对所述第一区段提取信号的触发次数进行计数来生成第二采样计数信号；第二参考计数器，其适于通过对用于界定所述采样区段的采样区段信号的输入次数进行计数来生成第二参考计数信号；以及第二比较器，其适于通过将所述第二采样计数信号与所述第二参考计数信号进行比较来输出所述精细区段信号。8.根据权利要求1所述的集成电路，其中，所述第二滤波部包括适于对所述第二图案信
号和所述精细区段信号执行逻辑与运算的逻辑电路。9.根据权利要求1所述的集成电路，其中，所述输出控制电路包括：置位
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复位SR锁存器，其适于生成根据用于界定所述采样区段的采样区段信号而被置位并根据所述第二区段提取信号而被复位的最终区段信号；以及第三滤波部，其适于通过根据所述最终区段信号对所述第一区段提取信号进行滤波来输出所述采样使能信号。10.一种集成电路的操作方法，包括：将采样区段划分为多个粗略区段；生成针对所述粗略区段中的每一个随机发生脉冲的第一图案信号；将所述采样区段划分为多个精细区段；生成针对所述精细区段中的每一个随机发生脉冲的第二图案信号；随机地选择所述粗略区段中的一个；针对所选择的粗略区段随机地选择所述精细区段中的一个；根据针对所选择的精细区段发生脉冲的所述第二图案信号来生成采样使能信号；以及根据所述采样使能信号对输入信号进...
【专利技术属性】
技术研发人员：金雄來，高秉涌，郑喆文，吴伦娜，
申请(专利权)人：爱思开海力士有限公司，
类型：发明
国别省市：
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