芯片验证方法、芯片、芯片验证平台及可读存储介质技术

本申请实施例公开了一种芯片验证方法、芯片、芯片验证平台及可读存储介质，能够提高芯片验证的效率。方法包括：通过芯片内至少一个测试点对应的至少一个硬件模块处理测试数据，确定至少一个测试点对应的至少一个第一处理结果；通过信息摘要计算模块，确定至少一个第一处理结果对应的至少一个第一信息摘要；将至少一个第一信息摘要提供至芯片验证平台，以使芯片验证平台通过对比至少一个第一信息摘要与至少一个第二信息摘要，确定至少一个测试点对应的至少一个验证结果；至少一个第二信息摘要为通过至少一个硬件模块对应的至少一个软件模块，对测试数据进行处理所确定至少一个第二处理结果对应的至少一个信息摘要。二处理结果对应的至少一个信息摘要。二处理结果对应的至少一个信息摘要。

【技术实现步骤摘要】
芯片验证方法、芯片、芯片验证平台及可读存储介质


[0001]本申请涉及芯片
，尤其涉及一种芯片验证方法、芯片、芯片验证平台及可读存储介质。

技术介绍

[0002]随着集成电路(Integrated Circuit Chip，IC)规模的日益增大，片内设计复杂度也越来越高。为了排除设计缺陷，保证设计正确性及高良率，高效的验证和调试方法显得尤为重要。
[0003]目前，IC设计验证和调试方法主要包括：设计验证(Design Verification，DV)、芯片验证(Chip Verification，CV)、与可测性设计(Design For Testability，DFT)等。但是，在利用上述验证方法在进行IC测试和调试过程时通常会耗费较多的时间，从而导致降低了芯片验证的效率。。

技术实现思路

[0004]本申请实施例期望提供一种芯片验证方法、芯片、芯片验证平台及可读存储介质，能够提高芯片验证的效率。
[0005]本申请的技术方案是这样实现的：
[0006]第一方面，本申请实施例提供一种芯片验证方法，应用于芯片，包括：
[0007]通过所述芯片内至少一个测试点对应的至少一个硬件模块处理测试数据，确定所述至少一个测试点对应的至少一个第一处理结果；
[0008]通过信息摘要计算模块，确定所述至少一个第一处理结果对应的至少一个第一信息摘要；
[0009]将所述至少一个第一信息摘要提供至芯片验证平台，以使所述芯片验证平台通过对比所述至少一个第一信息摘要与至少一个第二信息摘要，确定所述至少一个测试点对应的至少一个验证结果；所述至少一个第二信息摘要为通过所述至少一个硬件模块对应的至少一个软件模块，对所述测试数据进行处理所确定的至少一个第二处理结果对应的至少一个信息摘要。
[0010]第二方面，本申请实施例提供一种芯片验证方法，应用于芯片验证平台，包括：
[0011]从芯片获取至少一个第一信息摘要；所述至少一个第一信息摘要为通过所述芯片内至少一个测试点对应的至少一个硬件模块处理测试数据，所确定的至少一个第一处理结果对应的至少一个信息摘要；
[0012]通过所述至少一个硬件模块对应的至少一个软件模块，对所述测试数据进行处理，得到所述至少一个测试点对应的至少一个第二处理结果；
[0013]对所述至少一个第二处理结果进行信息摘要计算，确定至少一个第二信息摘要；
[0014]通过对比所述至少一个第一信息摘要与所述至少一个第二信息摘要，确定所述至少一个测试点对应的至少一个验证结果。
[0015]第三方面，本申请实施例提供一种芯片验证装置，应用于芯片验证平台，包括：
[0016]获取模块，用于从芯片获取至少一个第一信息摘要；所述至少一个第一信息摘要为通过所述芯片内至少一个测试点对应的至少一个硬件模块处理测试数据，所确定的至少一个第一处理结果对应的至少一个信息摘要；
[0017]数据处理模块，用于通过与所述至少一个硬件模块对应的至少一个软件模块，对所述测试数据进行处理，得到所述至少一个测试点对应的至少一个第二处理结果；
[0018]计算模块，用于对所述至少一个第二处理结果进行信息摘要计算，确定至少一个第二信息摘要；
[0019]对比模块，用于通过对比所述至少一个第一信息摘要与所述至少一个第二信息摘要，确定所述至少一个测试点对应的至少一个验证结果。
[0020]第四方面，本申请实施例提供一种芯片，包括：
[0021]信息摘要计算模块、第一存储器与第一处理器，其中，
[0022]所述第一存储器，用于存储可执行指令；
[0023]所述第一处理器，用于通过所述芯片内至少一个测试点对应的至少一个硬件模块处理测试数据，确定所述至少一个测试点对应的至少一个第一处理结果；
[0024]通过所述信息摘要计算模块，确定所述至少一个第一处理结果对应的至少一个第一信息摘要；
[0025]将所述至少一个第一信息摘要提供至芯片验证平台，以使所述芯片验证平台通过对比所述至少一个第一信息摘要与至少一个第二信息摘要，确定所述至少一个测试点对应的至少一个验证结果；所述至少一个第二信息摘要为通过所述至少一个硬件模块对应的至少一个软件模块，对所述测试数据进行处理所确定的至少一个第二处理结果对应的至少一个信息摘要。
[0026]第五方面，本申请实施例提供一种电子设备，所述电子设备中集成如本申请实施例提供的上述芯片。
[0027]第六方面，本申请实施例提供一种芯片验证平台，包括：
[0028]第二存储器，用于存储可执行指令；
[0029]第二处理器，用于执行所述第二存储器中存储的可执行指令时，执行如本申请实施例提供的应用于芯片验证平台的芯片验证方法。
[0030]第七方面，本申请实施例提供一种可读存储介质，存储有可执行指令，用于引起第一处理器执行时，实现本申请实施例提供的应用于芯片的芯片验证方法；或者，用于引起第二处理器执行时，实现本申请实施例提供的应用于芯片验证平台的芯片验证方法。
[0031]第八方面，本申请实施例提供一种计算机程序产品，包括计算机程序或指令，所述计算机程序或指令被处理器执行时实现本申请实施例提供的芯片验证方法。
[0032]本申请实施例提供了一种芯片验证方法、芯片、芯片验证平台及可读存储介质，通过芯片内至少一个测试点对应的至少一个硬件模块处理测试数据，得到至少一个测试点对应的至少一个第一处理结果，并通过信息摘要计算模块计算至少一个第一处理结果对应的至少一个第一信息摘要；这样，通过在芯片验证平台上，对比硬件模块处理测试数据得到的第一信息摘要与软件模块处理测试数据得到的第二信息摘要，即可确定测试点的验证结果。由于信息摘要数据量小、易于对比，且计算消耗资源少，从而可以快速得出各个测试点
的验证结果，进而可以通过对比各个测试点的验证结果快速实现故障定位与进一步调试，从而提高了芯片验证的效率。
附图说明
[0033]图1为本申请实施例提供的芯片验证方法应用于芯片的一种可选的流程示意图；
[0034]图2为本申请实施例提供的芯片验证方法应用于芯片的一种可选的流程示意图；
[0035]图3为本申请实施例提供的芯片通过信息摘要计算模块在选择的测试点上进行信息摘要计算的一种可选的过程示意图；
[0036]图4为本申请实施例提供的芯片验证方法应用于芯片的一种可选的流程示意图；
[0037]图5为本申请实施例提供的通过子消息划分进行密码散列函数计算的一种可选的过程示意图；
[0038]图6为本申请实施例提供的芯片验证方法应用于芯片验证平台的一种可选的流程示意图；
[0039]图7为本申请实施例提供的芯片验证方法应用于实际场景的一种可选的过程示意图；
[0040]图8为本申请实施例提供的芯片验证装置的一种可选的结构示意图；
[0041]图9为本申请实施例提供的芯片的一种可选的结构示意图本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片验证方法，应用于芯片，其特征在于，包括：通过所述芯片内至少一个测试点对应的至少一个硬件模块处理测试数据，确定所述至少一个测试点对应的至少一个第一处理结果；通过信息摘要计算模块，确定所述至少一个第一处理结果对应的至少一个第一信息摘要；将所述至少一个第一信息摘要提供至芯片验证平台，以使所述芯片验证平台通过对比所述至少一个第一信息摘要与至少一个第二信息摘要，确定所述至少一个测试点对应的至少一个验证结果；所述至少一个第二信息摘要为通过所述至少一个硬件模块对应的至少一个软件模块，对所述测试数据进行处理所确定的至少一个第二处理结果对应的至少一个信息摘要。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过信息摘要计算模块，确定所述至少一个第一处理结果对应的至少一个第一信息摘要，包括：通过所述信息摘要计算模块，对所述至少一个第一处理结果中的每个第一处理结果进行密码散列函数计算，确定所述每个第一处理结果对应的第一信息摘要，从而确定所述至少一个第一信息摘要。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述通过所述芯片内至少一个硬件模块处理所述测试数据，确定所述芯片内至少一个测试点对应的至少一个第一处理结果之前，所述方法还包括：通过接收所述芯片验证平台下发的测试点设置命令，确定至少一个候选测试点；基于所述至少一个候选测试点，确定所述至少一个测试点。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述至少一个候选测试点，确定所述至少一个测试点，包括：接收所述芯片验证平台下发的测试点选择命令；将所述测试点选择命令在所述至少一个候选测试点中指定的候选测试点，确定且所述至少一个测试点。5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述信息摘要计算模块包括：至少一个密码散列函数计算模块；所述通过所述信息摘要计算模块，对所述至少一个第一处理结果中的每个第一处理结果进行密码散列函数计算，确定所述每个第一处理结果对应的第一信息摘要，包括：从所述每个第一处理结果中提取预设消息长度的第一消息；对所述第一消息进行划分，确定至少一个第一子消息；通过所述至少一个密码散列函数计算模块，对所述至少一个第一子消息同步进行密码散列函数计算，确定至少一个第一子信息摘要，作为所述第一信息摘要。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述对所述第一消息进行划分，确定至少一个第一子消息，包括：根据所述预设消息长度与预设数据流位宽的比值，确定子消息长度；确定所述预设消息长度对应的硬件处理时钟数；根据所述硬件处理时钟数与所述子消息长度的比值，确定子消息个数；基于所述子消息个数，对所述第一消息进行划分，确定至少一个第一子消息。
7.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述信息摘要计算模块包括：至少一个密码散列函数计算模块；所述通过所述信息摘要计算模块，对所述至少一个第一处理结果中的每个第一处理结果进行密码散列函数计算，确定所述每个第一处理结果对应的第一信息摘要，包括：通过所述至少一个密码散列函数计算模块中的每个密码散列函数计算模块，对所述每个第一处理结果进行密码散列函数计算，确定所述每个第一处理结果对应的第一信息摘要。8.一种芯片验证方法，应用于芯片验证平台，其特征在于，包括：从芯片获取至少一个第一信息摘要；所述至少一个第一信息摘要为通过所述芯片内至少一个测试点对应的至少一个硬件模块处理测试数据，所确定的至少一个第一处理结果对应的至少一个信息摘要；通过所述至少一个硬...

【专利技术属性】
技术研发人员：周鹏举，
申请(专利权)人：哲库科技上海有限公司，
类型：发明
国别省市：