数据储存装置的自我烧机测试系统及其方法制造方法及图纸

一种数据储存装置的自我烧机测试系统及方法，其中自我烧机测试系统包括测试载具以及测试机台。自我烧机测试方法包括：查验数据储存装置的硬件设定及状态以及加载自我烧机固件至数据储存装置；通过转接界面装设数据储存装置于高低温测试机台上以初始化自我烧机固件并执行自我烧机测试；查验数据储存装置的硬件设定及状态、读取自我烧机测试的结果以判断数据储存装置的等级；以及查验数据储存装置的硬件设定及状态、加载量产版固件至数据储存装置以及查验数据储存装置的等级。借此避免加载量产版固件发生错误时，遗失测试结果及等级。遗失测试结果及等级。遗失测试结果及等级。

【技术实现步骤摘要】
数据储存装置的自我烧机测试系统及其方法


[0001]本专利技术涉及一种数据储存装置的烧机测试，尤其涉及一种数据储存装置的自我烧机测试系统及其方法。

技术介绍

[0002]传统的数据储存装置如闪存(Flash Memory)在自我烧机测试程序完成后会加载量产版固件，但是加载量产版固件的同时万一遇到系统断电导致量产版固件加载发生错误或损坏时，将会导致自我烧机测试程序所有的测试结果无法读取出来，进而遗失自我烧机测试程序所有的测试结果。
[0003]而对于加载量产版固件的数据储存装置而言，测试结果中的损坏数据区块的数量多寡会影响写入数据至数据储存装置的效能、垃圾回收的效率、写入放大指标(Write amplifier indicator,WAI)的高低以及数据储存装置的等级，因而影响数据储存装置的等级，因此需要一种精确评价数据储存装置等级的技术。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供一种数据储存装置的自我烧机测试系统及其方法，可避免数据储存装置在自我烧机测试程序完成后加载量产版固件的同时万一遇到系统断电导致量产版固件加载发生本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种数据储存装置的自我烧机测试方法，其特征在于，适用于一自我烧机测试系统，该自我烧机测试系统包括一测试载具及一测试机台，其中该测试机台耦接该测试载具，该测试载具装载该数据储存装置，该自我烧机测试方法包括以下操作：该测试机台通过该测试载具查验该数据储存装置的一硬件设定及状态以及加载一自我烧机固件于该数据储存装置；通过一转接界面装设该数据储存装置于一高低温测试机台上以初始化该自我烧机固件并执行一自我烧机测试；该测试机台通过该测试载具查验该数据储存装置的该硬件设定及状态、读取该自我烧机测试的结果以判断该数据储存装置的一等级；以及该测试机台通过该测试载具查验该数据储存装置的该硬件设定及状态、加载一量产版固件于该数据储存装置以及查验该数据储存装置的该等级。2.如权利要求1所述的自我烧机测试方法，其特征在于，读取该自我烧机测试的结果以判断该数据储存装置的该等级包括：判断该数据储存装置中的损坏区块的总数量是否小于或等于一第一临界值；当判断该数据储存装置中的该损坏区块的总数量小于或等于该第一临界值时，判断该自我烧机测试后新增的该损坏区块的数量是否小于或等于一第二临界值；以及当判断该自我烧机测试后新增的该损坏区块的数量小于或等于该第二临界值时，判断该数据储存装置属于一第一等级；其中该数据储存装置中的该损坏区块的总数量等于该自我烧机测试后新增的该损坏区块的数量加上该数据储存装置出厂时的该损坏区块的数量。3.如权利要求2所述的自我烧机测试方法，其特征在于，读取该自我烧机测试的结果以判断该数据储存装置的该等级包括：当判断该自我烧机测试后新增的该损坏区块的数量大于该第二临界值，判断该数据储存装置属于一第二等级。4.如权利要求3所述的自我烧机测试方法，其特征在于，读取该自我烧机测试的结果以判断该数据储存装置的该等级包括：当判断该数据储存装置中的该损坏区块的总数量大于该第一临界值时，判断该自我烧机测试后新增的该损坏区块的数量是否小于或等于该第二临界值；以及当判断该自我烧机测试后新增的该损坏区块的数量小于或等于该第二临界值时，判断该数据储存装置属于一第三等级。5.如权利要求4所述的自我烧机测试方法，其特征在于，读取该自我烧机测试的结果以判断该数据储存装置的该等级包括：当判断该自我烧机测试后新增的该损坏区块的数量大于该第二临界值时，判断该数据储存装置属于一第四等级。6.如权利要求2所述的自我烧机测试方法，其特征在于，该第二临界值是0。7.如权利要求1所述的自我烧机测试方法，其特征在于，读取该自我烧机测试的结果以判断该数据储存装置的该等级包括：判断该数据储存装置中的损坏超级区块的总数量是否小于或等于一第一临界值；当判断该数据储存装置中的该损坏超级区块的总数量小于或等于该第一临界值时，判
断该自我烧机测试后新增的损坏区块的数量是否小于或等于一第二临界值；以及当判断该自我烧机测试后新增的该损坏区块的数量小于或等于该第二临界值时，判断该数据储存装置属于一第一等级。8.如权利要求7所述的自我烧机测试方法，其特征在于，读取该自我烧机测试的结果以判断该数据储存装置的该等级包括：当判断该自我烧机测试后新增的该损坏区块的数量大于该第二临界值时，判断该数据储存装置属于一第二等级。9.如权利要求8所述的自我烧机测试方法，其特征在于，读取该自我烧机测试的结果以判断该数据储存装置的该等级包括：当判断该数据储存装置中的该损坏超级区块的总数量大于该第一临界值时，判断该自我烧机测试后新增的该损坏区块的数量是否小于或等于该第二临界值；以及当判断该自我烧机测试后新增的该损坏区块的数量小于或等于该第二临界值时，判断该数据储存装置属于一第三等级。10.如权利要求9所述的自我烧机测试方法，其特征在于，读取该自我烧机测试的结果以判断该数据储存装置的该等级包括：当判断该自我烧机测试后新增的该损坏区块的数量大于该第二临界值时，判断该数据储存装置属于一第四等级。11.如权利要求7所述的自我烧机测试方法，其特征在于，该数据储存装置中的该损坏超级区块的总数量是该损坏超级区块的数量排除在所有该损坏超级区块的不同储存矩阵的良好区块所组合的良好超级区块的数量。12.如权利要求7所述的自我烧机测试方法，其特征在于，该数据储存装置中的该损坏超级区块的总数量等于在所有该损坏超级区块中一储存矩阵具有的该损坏区块的最大数量。13.一种...

【专利技术属性】
技术研发人员：林文生，张邱涵，
申请(专利权)人：慧荣科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：