一种集成电路保护测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种集成电路保护测试系统，包括：功能测试模块，具有多个测试单元，测试单元包括驱动器，用于执行功能测试；直流测试模块，具有电流输出端子和高阻抗电阻；第一电连接端，与测试机的驱动线连接；驱动线通过探针与被测器件连接，以为被测器件提供电源电压，测试机用于对被测器件进行开尔文电性测试；第二电连接端，与测试机的感测线连接；感测线通过感测引脚与被测器件连接，以感测被测器件的电源电压。电源电压。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路保护测试系统


[0001]本专利技术属于集成电路
，尤其涉及一种集成电路保护测试系统。

技术介绍

[0002]在制造电气设备之前，通常先要测试设备，以确定其是否是按设计构建或工作的。通常，该测试由自动电路测试系统。
[0003]为了使测试系统的结果有意义，系统需要被校准。就是说，测试系统在测试期间可能引入的固有系统误差必须被量化，并且由经校准的比较器读取的信号可以与预期信号相比较以确定它们之间的偏离。一般使用驱动器和比较器在内的经校准的测试头顺序耦合到测试系统的每个信号引脚。但是这样机械公差难以维持，且信号会导致衰减。

技术实现思路

[0004]为了解决相关技术中的问题，本申请提供了一种集成电路保护测试系统可以保证信号强度，提高校准精度。
[0005]技术方案如下：
[0006]一种集成电路保护测试系统，包括：
[0007]功能测试模块，具有多个测试单元，测试单元包括驱动器，用于执行功能测试；
[0008]直流测试模块，具有电流输出端子和高阻抗电阻；
[0009]第一电连接端，与测试机的驱动线连接；驱动线通过探针与被测器件连接，以为被测器件提供电源电压，测试机用于对被测器件进行开尔文电性测试；
[0010]第二电连接端，与测试机的感测线连接；感测线通过感测引脚与被测器件连接，以感测被测器件的电源电压。
[0011]进一步地，第一电连接端包括第一保护电阻，第一保护电阻的两端分别与驱动线连接端及感测线连接端连接。
[0012]进一步地，还包括利用机器人系统将第一校准单元和第二校准单元放置在多个驱动器和比较器之间，以及从多个驱动器和比较器之间移除第一校准单元和第二校准单元。
[0013]进一步地，直流测试模块包括保护子模块和保护电阻，保护电阻分别与第一校准单元和第二校准单元。
[0014]应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本专利技术。
具体实施方式
[0015]一种集成电路保护测试系统，包括：
[0016]功能测试模块，具有多个测试单元，测试单元包括驱动器，用于执行功能测试；
[0017]直流测试模块，具有电流输出端子和高阻抗电阻；
[0018]第一电连接端，与测试机的驱动线连接；驱动线通过探针与被测器件连接，以为被
测器件提供电源电压，测试机用于对被测器件进行开尔文电性测试；
[0019]第二电连接端，与测试机的感测线连接；感测线通过感测引脚与被测器件连接，以感测被测器件的电源电压。
[0020]第一电连接端包括第一保护电阻，第一保护电阻的两端分别与驱动线连接端及感测线连接端连接。
[0021]还包括利用机器人系统将第一校准单元和第二校准单元放置在多个驱动器和比较器之间，以及从多个驱动器和比较器之间移除第一校准单元和第二校准单元。
[0022]直流测试模块包括保护子模块和保护电阻，保护电阻分别与第一校准单元和第二校准单元。
[0023]本领域技术人员在考虑说明书及实践这里专利技术的专利技术后，将容易想到本专利技术的其它实施方案。本申请旨在涵盖本专利技术的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本专利技术的一般性原理并包括本专利技术未专利技术的本
中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本专利技术的真正范围和精神由所附的权利要求指出。
[0024]应当理解的是，本专利技术并不局限于上面已经描述的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本专利技术的范围仅由所附的权利要求来限制。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路保护测试系统，其特征在于，包括：功能测试模块，具有多个测试单元，测试单元包括驱动器，用于执行功能测试；直流测试模块，具有电流输出端子和高阻抗电阻；第一电连接端，与测试机的驱动线连接；所述驱动线通过探针与被测器件连接，以为所述被测器件提供电源电压，所述测试机用于对所述被测器件进行开尔文电性测试；第二电连接端，与所述测试机的感测线连接；所述感测线通过感测引脚与所述被测器件连接，以感测所述被测器件的电源电压。2.根据权利要求1所述的集成电路测试系统，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：廖慧霞，莫嘉，
申请(专利权)人：徐州芯特智能装备有限公司，
类型：发明
国别省市：