一种磁辊同轴度无损测量系统及方法技术方案

技术编号:3775437 阅读:248 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供一种磁辊同轴度自动化测量系统及方法,该测量系统包括激光光源系统、光探测系统及转动装置系统组成。其中激光光源系统由激光光源,若干棱镜,起偏器,若干oe双输出棱镜组成,光探测系统由硅光探测器,信息处理模块,显示界面组成,转动装置系统由支架及转动装置组成。本发明专利技术利用oe双数出棱镜进行分光,能够消除光源波动产生的测量误差。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种同轴度无损测量系统及方法,特别是关于一种磁辊同轴度 自动化无损测量系统及方法。
技术介绍
传统测量同轴度的方法有两种, 一种方法是利用接触式探针进行测量,但 接触式探针会与待测工件相互接触产生摩擦,使工件表面因摩擦受损,此外,某些材质较软的工件无法以接触式探针测量;另一种方法就是三坐标方法测量 同轴度,但是三坐法同轴度误差值在50um,这个精度不能满足我们的生产需求。
技术实现思路
鉴于以上不足,有必要提供一种适用于精密测量的无损同轴度检测系统计 方法。本专利技术提供的无损同轴度检测系统包括激光光源系统、光探测系统及转动 装置系统组成。其中激光光源系统由激光光源,若干棱镜,起偏器,若干oe双 输出棱镜组成,光探测系统由硅光探测器,信息处理模块,显示界面组成,转 动装置系统由支架及转动装置组成。该激光光源为He-Ne激光光源,所发射的光束为基模高斯光束,该激光光 束经准直聚焦系统后为平行光束,与待测工件的轴线垂直,转动装置置于激光 光源系统和光探测系统之间。同轴度的测量步骤如下A将被测磁辊装于转动装置上;B开启激光光源,激光光源发射的激光光束经三个oe双输出棱镜分成本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种同轴度无损测量系统,其特征在于:该测量系统包括一激光光源系统、一转动装置及一光探测系统。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:吴福燕
申请(专利权)人:山东富美科技有限公司
类型:发明
国别省市:88[中国|济南]

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