本发明专利技术公开一种测试装置及其控制方法、热敏器件测试方法。测试装置上设置有用于接入待测件的安装位，测试装置还包括加热组件和驱动组件，驱动组件上设置有采样件，包括以下步骤：步骤S100、测试装置获取到第一指令时，控制驱动组件工作，以使驱动组件带动采样件移动，直至采样件与待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；步骤S200、控制加热组件工作，以对安装位中的待测件辐射热能；步骤S300、经采样件获取待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数；步骤S400、根据检测参数，确定待测件的工作性能并进行提示。本发明专利技术通过优化采样件与待测件采样接口凸出部分的接触方式，以提高对待测件的测试效率。测件的测试效率。测件的测试效率。
【技术实现步骤摘要】
测试装置及其控制方法、热敏器件测试方法
[0001]本专利技术涉及测试设备
，特别涉及一种测试装置及其控制方法、热敏器件测试方法。
技术介绍
[0002]在对热敏器件进行维修前，需要将其采样接口凸出部分从其它设备上或客户端的产品中拆除，而热敏器件的采样接口凸出部分在安装在其它设备上或客户端的产品时已经被剪短，造成采样接口凸出部分的长度不一，甚至造成采样接口凸出部分的形状变形。不同于出厂时候的热敏器件，其采样接口凸出部分外形完整，且热敏器件的工作性能稳定。现有对热敏器件的性能检验大多是采用焊线与其采样接口凸出部分连接，或重新将热敏器件的采样接口凸出部分焊接于测试装置里，两种办法都会产生复杂的工序。
技术实现思路
[0003]本专利技术的主要目的是提出一种测试装置及其控制方法、热敏器件测试方法，旨在提高对热敏器件测试的效率。
[0004]因此，本专利技术提出一种测试装置控制方法，所述测试装置上设置有用于接入待测件的安装位，所述测试装置还包括加热组件和驱动组件，所述驱动组件上设置有采样件，包括以下步骤：步骤S100、测试装置获取到第一指令时，控制所述驱动组件工作，以使所述驱动组件带动采样件移动，直至所述采样件与待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；步骤S200、控制所述加热组件工作，以对所述安装位中的待测件辐射热能；步骤S300、经所述采样件获取所述待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数；步骤S400、根据所述检测参数，确定待测件的工作性能并进行提示。
[0005]可选地，所述预设接触状态为所述采样件与采样接口凸出部分靠近待测件主体的一端紧贴接触。
[0006]可选地，所述加热组件的数量为多个，所述测试装置控制所述加热组件工作，以使加热组件对所述安装位中的待测件辐射热能的步骤具体为：步骤S210、控制多个所述加热组件以固定频率交替加热方式加热，以对所述安装位中的待测件辐射热能。
[0007]可选地，所述步骤S210具体为：步骤S220、控制多个所述加热组件中的一者以固定频率交替加热方式加热，以对所述安装位中的待测件辐射热能；所述步骤S300具体为：经所述采样件获取所述待测件的采样接口凸出部分输出的受热变化参数；步骤S230、控制多个所述加热组件同时以固定频率交替加热方式加热，以对所述安装位中的待测件辐射热能；
所述步骤S300具体为：经所述采样件获取所述待测件的采样接口凸出部分输出的受热均匀参数。
[0008]可选地，所述步骤S200还包括：步骤S240、控制所有所述加热组件停止工作；所述步骤S300具体为：经所述采样件获取所述待测件的采样接口凸出部分输出的受热稳定参数。
[0009]可选地，所述直至所述采样件与待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态的步骤具体为：步骤S110、所述采样件在预设时间内采集到所述待测件的采样接口凸出部分输出的响应时，确认所述采样件与待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；步骤S120、所述采样件在预设时间内无法采集所述待测件的采样接口凸出部分输出的响应时，确认所述采样件与待测件的采样接口凸出部分处于非预设接触状态；步骤S130、在确认所述采样件与待测件的采样接口凸出部分处于非预设接触状态时，控制所述驱动组件复位，以使所述驱动组件重新带动采样件移动，直至所述采样件与待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态。
[0010]如权以上内容所述的测试装置控制方法，所述测试装置控制方法还包括：步骤S500、在根据所述工作性能，确认待测件异常时，进行提示。
[0011]本专利技术还提出一种测试装置，所述测试装置包括：测试装置主体，所述测试装置主体上设置有用于接入待测件的安装位；加热组件，所述加热组件设置于所述测试装置内；驱动组件，所述驱动组件上设置有采样件；电控组件，所述电控组件用于在接收到第一指令时，控制所述驱动组件工作，以带动所述采样件移动，直至所述采样件与待测件的采样接口凸出部分上与采样接口凸出部分靠近待测件主体的一端紧贴接触；并控制所述加热组件工作，以对所述安装位中的待测件辐射热能，并根据获取到的待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数，确定待测件的工作性能并进行提示。
[0012]可选地，所述加热组件的数量为多个。
[0013]可选地，多个所述加热组件设置在所述安装位的下方。
[0014]可选地，所述电控组件，用于控制多个所述加热组件以固定频率交替加热方式加热，以对所述安装位中的待测件辐射热能，并根据获取到的待测件的采样接口凸出部分输出的受热变化参数，确定待测件的受热变化性能并进行提示；所述电控组件，还用于控制多个所述加热组件同时以固定频率交替加热方式加热，以对所述安装位中的待测件辐射热能，并根据获取到的待测件的采样接口凸出部分输出的受热均匀参数，确定待测件的受热均匀性能并进行提示。
[0015]可选地，所述电控组件，用于控制所有所述加热组件停止工作，以对所述安装位中的待测件停止辐射热能，并根据获取到的待测件的采样接口凸出部分输出的受热稳定参数，确定待测件的受热稳定性能并进行提示。
[0016]可选地，所述驱动组件包括：驱动电机；
运动滑块，所述运动滑块与所述驱动电机驱动连接，所述运动滑块与所述采样件连接；所述驱动电机，用于驱动所述运动滑块带动所述采样件移动。
[0017]可选地，所述驱动组件的数量为多个，多个所述驱动组件上设置有多个采样件。
[0018]可选地，所述安装位的数量为多个，多个所述安装位用于放置多个待测件。
[0019]可选地，所述测试装置还包括屏蔽盖，所述屏蔽盖可活动地覆盖于所述测试装置主体的顶部。
[0020]可选地，所述测试装置还包括显示组件，所述显示组件设置于所述测试装置主体的侧面。
[0021]可选地，所述测试装置还包括触发组件，所述触发组件设置于所述测试装置主体的侧面。
[0022]本专利技术还提出一种热敏器件测试方法，基于如以上内容所述的测试装置，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1000、准备所述测试装置，并将所述测试装置上电；步骤S2000、将热敏器件倒立放入所述安装位，以使所述热敏器件的采样接口凸出部分向上伸出所述安装位；步骤S3000、触发所述测试装置输出所述第一指令，以使所述测试装置的电控组件在接收到所述第一指令时，控制所述驱动组件工作，以带动所述采样件移动，直至所述采样件与待测件的采样接口凸出部分上与采样接口凸出部分靠近待测件主体的一端紧贴接触；并控制所述加热组件工作，以对所述安装位中的待测件辐射热能，并根据获取到的待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数，确定待测件的工作性能并进行提示。
[0023]本专利技术公开一种测试装置及其控制方法、热敏器件测试方法。测试装置上设置有用于接入待测件的安装位，测试装置还包括加热组件和驱动组件，驱动组件上设置有采样件，包括以下步骤：步骤S100、测试装置获取到第一指令时，控制驱动组件工作，以使驱动组件带动采样件移动，直至采样件与待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；步骤S20本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测试装置控制方法，所述测试装置上设置有用于接入待测件的安装位，所述测试装置还包括加热组件和驱动组件，所述驱动组件上设置有采样件，其特征在于，包括以下步骤：步骤S100、测试装置获取到第一指令时，控制所述驱动组件工作，以使所述驱动组件带动采样件移动，直至所述采样件与待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；步骤S200、控制所述加热组件工作，以对所述安装位中的待测件辐射热能；步骤S300、经所述采样件获取所述待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数；步骤S400、根据所述检测参数，确定待测件的工作性能并进行提示。2.如权利要求1所述的测试装置控制方法，其特征在于，所述预设接触状态为所述采样件与采样接口凸出部分靠近待测件主体的一端紧贴接触。3.如权利要求1所述的测试装置控制方法，其特征在于，所述加热组件的数量为多个，所述测试装置控制所述加热组件工作，以使加热组件对所述安装位中的待测件辐射热能的步骤具体为：步骤S210、控制多个所述加热组件以固定频率交替加热方式加热，以对所述安装位中的待测件辐射热能。4.如权利要求3所述的测试装置控制方法，其特征在于，所述步骤S210具体为：步骤S220、控制多个所述加热组件中的一者以固定频率交替加热方式加热，以对所述安装位中的待测件辐射热能；所述步骤S300具体为：经所述采样件获取所述待测件的采样接口凸出部分输出的受热变化参数；步骤S230、控制多个所述加热组件同时以固定频率交替加热方式加热，以对所述安装位中的待测件辐射热能；所述步骤S300具体为：经所述采样件获取所述待测件的采样接口凸出部分输出的受热均匀参数。5.如权利要求3所述的测试装置控制方法，其特征在于，所述步骤S200还包括：步骤S240、控制所有所述加热组件停止工作；所述步骤S300具体为：经所述采样件获取所述待测件的采样接口凸出部分输出的受热稳定参数。6.如权利要求1所述的测试装置控制方法，其特征在于，所述直至所述采样件与待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态的步骤具体为：步骤S110、所述采样件在预设时间内采集到所述待测件的采样接口凸出部分输出的响应时，确认所述采样件与待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；步骤S120、所述采样件在预设时间内无法采集所述待测件的采样接口凸出部分输出不响应时，确认所述采样件与待测件的采样接口凸出部分处于非预设接触状态；步骤S130、在确认所述采样件与所述待测件的采样接口凸出部分处于非预设接触状态时，控制所述驱动组件复位，以使所述驱动组件重新带动采样件移动，直至所述采样件与待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态。7.如权利要求1
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6任一所述的测试装置控制方法，其特征在于，所述测试装置控制方法还包括：
步骤S500、在根据所述工作性能，确认待测件异常时，进行提示。8.一种测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：测试装置主体，所述测试装置主体上设置有用于接入待测件的安装位；加热组件，所述加热组件设置于所述测试装置内；驱动组件，所述驱动组件上设置有采样件；电控组件，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：王琪，夏云飞，张宙，
申请(专利权)人：苏州英瑞传感技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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