【技术实现步骤摘要】
一种提高定位精准度的贴膜治具
[0001]本技术主要涉及用以晶片边缘沉积薄膜层去除制程;具体涉及一种提高定位精准度的贴膜治具。
技术介绍
[0002]半导体晶圆制造过程中有一个边缘薄膜层去除制程,用于去除边缘或延伸至晶片抛光面的二氧化硅(SiO2)沉积层,以利于后道外延工序中形成结构和电学性能良好的外延层。在目前薄膜层蚀刻工艺中,使用保护膜将非蚀刻部位贴附住,将蚀刻目标部位外露,以达到良好的蚀刻效果。在该工艺实施过程中,保护膜与晶片的中心及平边位置需要准确对齐,否则易造成过度蚀刻,破坏非蚀刻部位的薄膜层完整性。解决办法之一是通过高精度传动机构、高分辨率CCD部件,达到精准贴附的目的,但整体构造复杂,部件成本高,导致机台价格非常昂贵。
技术实现思路
[0003]为了改善上述情况,本技术的目的在于提供一种提高定位精准度的贴膜治具。
[0004]本技术的目的可通过下列技术方案来实现:该治具由板体、压缩弹簧及移动块构成,在板体一侧设置两定位柱,在板体中心位置设置晶片放置区,在晶片放置区一侧设置凹槽轨道,凹槽轨道中 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种提高定位精准度的贴膜治具,应用于晶片边缘沉积薄膜层去除制程,其特征在于,该治具由板体、压缩弹簧及移动块构成,在板体一侧设置两定位柱,在板体中心位置设置晶片放置区,在晶片放置区一侧设置凹槽轨道,凹槽轨道中放置压缩弹簧,该治具配合带定位孔保护膜使用。2.根据权利要求1所述的一种提高定位精准度的贴膜治具,其特征在于,所述治具的板体上定位柱尺寸及间距与保护膜上定位孔一致,用于对齐保护膜和晶片中心位置。3.根据权利要求1所述的一种提高定位精准度的贴膜...
【专利技术属性】
技术研发人员:何庆波,李汉生,蔡雪良,陆义,杨维凯,吴凯,
申请(专利权)人:昆山中辰矽晶有限公司,
类型:新型
国别省市:
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