【技术实现步骤摘要】
一种双芯片同测用测试座
[0001]本技术涉及芯片测试
，尤其涉及一种双芯片同测用测试座。
技术介绍
[0002]目前CPU芯片以及内存芯片基本上都是分开单独测CPU芯片或单独测内存芯片。而对于一些产品需要将CPU和内存同时进行测试时，如果是分开测试会导致测试结果产生误差，且影响测试效率。因此，需要一种能够同时测试CPU和内存的测试座。
技术实现思路
[0003]本技术的目的是为了解决现有技术中存在的而对于一些产品需要将CPU和内存同时进行测试时，如果是分开测试会导致测试结果产生误差，且影响测试效率的缺点，而提出的一种双芯片同测用测试座。
[0004]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0005]一种双芯片同测用测试座，包括测试基座，所述测试基座中间位置处开设有用于安装芯片的正方形腔体，所述正方形腔体的对角开设有长条形的安装槽，所述长条形安装槽内分别安装有测试载板A和测试载板B，所述测试载板A和测试载板B开设有V字形的安装槽，测试载板A的安装槽内安装有芯片A，测试载板B的安装槽内...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种双芯片同测用测试座，其特征在于，包括测试基座(4)，所述测试基座(4)中间位置处开设有用于安装芯片的正方形腔体，所述正方形腔体的对角开设有长条形的安装槽，所述长条形安装槽内分别安装有测试载板A(2)和测试载板B(5)，所述测试载板A(2)和测试载板B(5)开设有V字形的安装槽，测试载板A(2)的安装槽内安装有芯片A(1)，测试载板B(5)的安装槽内安装有芯片B(3)，所述芯片A(1)位于芯片B(3)的上方，测试基座(4)底部设置有安装有PCB的支撑板(6)，所述支撑板(6)的PCB与芯片B(3)的底部接触。2.根据权利要求1所...
【专利技术属性】
技术研发人员：薛冰，朴炯俊，
申请(专利权)人：安盈半导体技术常州有限公司，
类型：新型
国别省市：
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