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本实用新型涉及芯片测试技术领域,尤其涉及一种双芯片同测用测试座,包括测试基座，所述测试基座中间位置处开设有用于安装芯片的正方形腔体，所述正方形腔体的对角开设有长条形的安装槽，所述长条形安装槽内分别安装有测试载板A和测试载板B，所述测试载板A...
该专利属于安盈半导体技术（常州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过安盈半导体技术（常州）有限公司授权不得商用。

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