一种对应瞬态大光保护APD的系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种对应瞬态大光保护APD的系统及方法，系统包括：限流电阻、电流监测模组、分流网络模块、算法控制模组，所述电流监测模组连接限流电阻，可监测流经限流电阻的电流值；算法控制模组可获取电流监测模组的信息，并控制分流网络模块；所述分流网络模块利用了并联分流的原理，在高压输入恒定的前提下，分流网络模块可反向调节APD干路上的电流；电流检测模组和算法控制模组可以组成一个反馈网络。本发明专利技术通过算法精准控制流入APD的电流增减，从而满足高饱和度与高灵敏度两个指标要求。可预设电流阈值来控制流入APD的最大电流，用以兼容市场上各种APD器件。通过触发信号丢失状态后，主动降低APD工作电压来避免应用过程中的大光脉冲对APD的损伤。程中的大光脉冲对APD的损伤。程中的大光脉冲对APD的损伤。

【技术实现步骤摘要】
一种对应瞬态大光保护APD的系统及方法


[0001]本专利技术涉及光模块领域，更具体地说是一种对应瞬态大光保护APD的系统及方法。

技术介绍

[0002]目前光模块行业常用保护APD(雪崩光电二极管)不被大电流击穿的的方法是通过串联大阻值电阻(5K欧姆左右)。因为在电压恒定的前提下，串联电阻会减少流经APD的电流，从而实现APD不被毫安级电流击穿。
[0003]上述串联大电阻的方法，在实际应用中有三个比较大的缺陷。
[0004]1、作为通信类产品封装完成后无法保障串联电阻的一致性，所以无法控制流入APD的电流值，影响光模块的重要指标参数光饱和度测试。
[0005]2、对APD厂家的产品一致性要求较高，更换不同厂家的APD后，所用的串联电阻就需要随着变化，兼容使用效果差，同样也影响光饱和度测试。
[0006]3、即使串联了大阻值电阻如遇上大光脉冲仍有几率对APD造成不可逆的损伤。

技术实现思路

[0007]为了克服现有技术的上述缺陷，本专利技术提供一种对应瞬态大光保护APD的方法。
[000本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种对应瞬态大光保护APD的系统及方法，其特征在于：系统包括：限流电阻、电流监测模组、分流网络模块、算法控制模组，所述电流监测模组连接限流电阻，可监测流经限流电阻的电流值；算法控制模组可获取电流监测模组的信息，并控制分流网络模块；所述分流网络模块利用了并联分流的原理，在高压输入恒定的前提下，分流网络模块可反向调节APD干路上的电流；电流检测模组和算法控制模组可以组成一个反馈网络；控制方法为：A、光模块上电后，由于接收到的光大小未知，此时将VAPD设置成0V，V1设置成2.5V，完成，初始化；B、当光模块从Low Power状态进入High Power状态后，先将VAPD设置成10V，并在MSA规定的时间内将电压从10V提升到20V；C、算法控制模组的单片机实时监测光模块的LOS状态，当模块处于LOS状态时V1设置成2.5V，三级Q1A的B极电压升高，三级管Q1A工作在放大区，分流网络启动；大部分电流会经过Q1A、分流电阻R5...

【专利技术属性】
技术研发人员：宁明，姜浩，
申请(专利权)人：武汉莱创德技术有限公司，
类型：发明
国别省市：