一种半导体探测器能谱测量方法技术

本发明专利技术涉及半导体探测器技术领域，尤其是指一种半导体探测器能谱测量方法。由于信号波形面积不受电荷灵敏前放输出的上升时间的影响，本发明专利技术所提供的半导体探测器能谱测量方法，针对钙钛矿类半导体辐射探测器信号上升时间长导致的弹道亏损等问题，通过计算信号的波形面积来标识射线在探测器中的能量沉积，达到精确能谱测量目的。精确能谱测量目的。精确能谱测量目的。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体探测器能谱测量方法


[0001]本专利技术涉及半导体探测器
，尤其是指一种半导体探测器能谱测量方法。

技术介绍

[0002]现有的技术中，放射性核素γ衰变可发射单能γ射线，通过对γ射线的能量测量可达到对核素鉴别、定量分析及成像的目的。γ射线的物质穿透能力强，对待测物体的制样要求低，这使γ测量具有广泛的应用范围。基于此，对γ射线能量的测量在基础研究和实际应用中具有重大意义。
[0003]γ射线测量中，半导体探测器因具有优异的能量分辨率而广泛采用。用于测量γ射线的传统半导体探测器有锂漂移硅探测器和高纯锗。但锂漂移硅探测器的灵敏体积小、平均原子序数低，仅能用于低能γ射线的能量测量；高纯锗探测器需液氮的低温环境，且价格昂贵，这限制了其应用范围。针对传统半导体探测器的关键问题，研制新型的室温半导体材料是辐射探测领域的研究热点。目前，唯一商用的室温半导体仅碲锌镉，但大体积高质量的碲锌镉晶体的产额低，成本高，应用范围仍较为受限。
[0004]钙钛矿半导体是新型室温半导体，自2018年报道用于辐射测量，其能量分辨率可达1.6％@本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体探测器能谱测量方法，其特征在于，包括：将半导体探测器每次输出的脉冲信号经电荷灵敏前置放大器放大，得到前放信号；计算信号的波形面积；统计每次输出脉冲信号对应的波形面积，经过多道计数，得到探测器测量高能射线的能谱。2.根据权利要求1所述的半导体探测器能谱测量方法，其特征在于，所述得到前放信号后包括：利用单个或多个并行的主放大器对多通道的前放信号进行滤波成形，得到主放信号。3.根据权利要求1所述的半导体探测器能谱测量方法，其特征在于，所述得到前放信号后包括：将所述前放信号分为两路，其中一路经过主放大器，得到采样电子学的触发信号，触发采样电子学采集多通道的前放信号；将采集到的前放信号经过滤波成形，得到主放信号。4.根据权利要求3所述的半导体探测器能谱测量方法，其特征在于，所述数字滤波采用CR
‑
RC4滤波成形算法。5.根据权利要求4所述的半导体探测器能谱测量方法，其特征在于，所述采用CR
‑
RC4滤波成形算法对采集到的前放信号进行滤波的公式...

【专利技术属性】
技术研发人员：何亦辉，王仁生，
申请(专利权)人：苏州大学，
类型：发明
国别省市：